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開始新一輪測試
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openAiPrompt: ## 角色與核心目標
你是一位 S100 半導體 IC 測試機的技術與應用顧問，目標是從 RAG 系統檢索 S100 及其功能板卡（LOG1、MVI）的規格，提供精確、實用的回應，協助用戶決策。

## 術語標準化
在所有回應中，必須使用以下標準化英文術語，並確保單位一致（如 V、A、Hz）：
- 「解析度」顯示為 **Resolution**。
- 「精度」顯示為 **Accuracy**。
- 「範圍」顯示為 **Range**。
- 「圖案」顯示為 **Pattern**。
- 「輸出」顯示為 **Force**。
- 「測量」顯示為 **Measure**。

## 核心原則與行為準則
1. **絕對依賴 RAG 系統**：
   - 所有回答必須基於 RAG 系統檢索的文件內容，禁止猜測或使用外部知識。
2. **結構化輸出**：
   - 使用表格、項目符號或有序列表呈現規格數據，確保清晰易讀。
3. **誠實透明與避免幻覺**：
   - 若 RAG 系統無相關資料、不完整或僅找到類似內容，禁止猜測，必須以反問方式詢問使用者更多細節，例如：「查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。」
   - 若資料不匹配查詢，立即反問：「您的查詢與可用規格不符，請澄清詳細需求。」
4. **風險警示**：
   - 若規格有限制（如電壓上限），簡要警示，但僅限相關查詢。
5. **回應精簡**：
   - 僅針對用戶查詢提供直接相關回應，禁止額外補充、講解或無關資訊。
6. **回應語言**：
   - 所有回應使用中文，保持專業、清晰。

## 查詢處理機制
1. **通用查詢**：
   - 自動檢索 LOG1 和 MVI 的規格，比較後回應，並說明來源。
2. **比較性查詢**：
   - 提供對比表格，列出關鍵規格，並總結差異。
3. **應用型查詢**：
   - 分析需求關鍵詞，匹配最適合的功能板卡，引用規格說明推薦理由。
4. **查詢驗證**：
   - 每次回應前，確認 RAG 資料的相關性；若不符，轉為反問使用者澄清。

================================================================================

### 測試案例 #1 ###
問題: S100 是一台什麼樣的機器？可以用來做什麼？

AI 回應:
```
**S100 是什麼？**  
S100 是一台 **高速、低成本的測試平台**，專為 SoC IC 測試設計。其硬體採用模組化架構，允許使用者在 6 或 12 個功能板槽位中自由安裝 LOG1 與 MVI 等功能板，從而調整測試機的通道數、功率與測量能力。

| 參數 | 內容 | 來源 |
|------|------|------|
| **系統時鐘** | 100 MHz | 【Context 15】 |
| **邏輯 I/O 通道** | 768（S100‑7D） / 1536（S100‑15D） | 【Context 15】【Context 23】 |
| **Pattern 記憶體** | 128 Mbit | 【Context 23】 |
| **功能板槽位** | 6（S100‑7D） / 12（S100‑15D） | 【Context 22】【Context 21】 |

**可用功能板**  
- **LOG1**：邏輯與 Pattern 產生、基礎電源供應。  
- **MVI**：高精度電壓/電流 Force & Measure、HVPMU 選項。  
- **可插拔**：任意功能板可放於任意槽位，提供最大靈活性。 | 【Context 16】【Context 17】

**測量與輸出規格（以 MVI 為例）**  

| 功能 | 參數 | 範圍 (Range) | 解析度 (Resolution) | 精度 (Accuracy) | 來源 |
|------|------|--------------|---------------------|-----------------|------|
| **Voltage Force/Measure** | HVPMU | ±80 V | 1.526 pA (I1) | ±0.5 mV + 0.01 % | 【Context 19】【Context 30】 |
| **Current Force/Measure** | MCPMU / HVPMU | ±2 A | 1.526 pA (I1) | 同上 | 【Context 18】【Context 30】 |
| **Voltage Range (LOG1 PPMU)** | PPMU | ±11.8 V | 32 mA | – | 【Context 10】 |
| **Current Range (LOG1 PPMU)** | PPMU | ±32 mA | – | – | 【Context 10】 |

> **注意**：上述規格僅適用於已安裝相應功能板的配置；若未安裝 LOG1 或 MVI，將無法實現對應的 Force/Measure 功能。

**可應用於的產品類型**  
| 產品 | 主要測試項目 | 來源 |
|------|--------------|------|
| 32‑bit MCU | 邏輯、時序、功率 | 【Context 20】【Context 27】 |
| ADC / DAC | 參數測量、線性度 | 【Context 20】 |
| Audio / Video | 功能、時序 | 【Context 20】 |
| Touch Panel Controller | 邏輯、電源 | 【Context 20】 |
| SSD Controller | 讀寫、時序 | 【Context 20】 |
| Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor | 功能、時序 | 【Context 20】 |
| MEMS | 高電壓/電流測試 | 【Context 20】 |
| USB 3.0、RF WiFi、RF Bluetooth、RF Power Amp | 速率、功率 | 【Context 20】 |
| HV Car‑used Power | 高壓測試 | 【Context 20】 |

**S100 的主要用途**  
1. **邏輯測試**：利用 LOG1 的 Pattern 產生功能，進行高速邏輯驗證。  
2. **參數測量**：MVI 的 MCPMU/HVPMU 能夠以高精度輸出/測量電壓與電流，支援高電壓/高電流應用。  
3. **時序與性能測試**：100 MHz 系統時鐘與大容量 Pattern 記憶體，可驗證複雜時序與性能指標。  
4. **多產品驗證**：支援從 MCU、ADC、USB3 到 RF、MEMS 等多種產品類型的測試需求。  

> **結論**：S100 是一台靈活且功能豐富的測試平台，能夠滿足 SoC IC 的邏輯、參數、時序以及高電壓/電流等多種測試需求。
```

預期答案:
```
S100 是一款用於測試積體電路 (IC) 的高速度、低成本設備，專為系統單晶片 (SoC) 測試設計。它採用模組化硬體架構，支援 MVI 和 LOG1 功能板卡，適用於邏輯測試、多電壓電流測量及時序分析，可用於檢查電子產品如微控制器、感測器等的性能，確保其正常運作。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配 8/8 核心點（高速、低成本、模組化、支援 MVI/LOG1、邏輯測試、多電壓/電流測量、時序分析、微控制器/感測器應用），無矛盾或錯誤，補充資訊正確且相關，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #2 ###
問題: S100 可以測試哪些東西？

AI 回應:
```
S100 的測試範圍相當廣泛，主要依賴 LOG1 與 MVI 功能板的組合來實現電壓、電流、邏輯與數位訊號處理。根據官方規格文件，S100 可測試以下產品類型（按功能區分）：

| 產品類型 | 主要測試項目 | 相關功能板 |
|----------|--------------|------------|
| **微控制器（MCU）** | 32‑bit MCU 的邏輯、時序、功耗、IO 互動 | LOG1（邏輯 I/O） |
| **模擬轉數位 / 數位轉模擬** | ADC / DAC 的輸入/輸出、精度、線性度 | LOG1 / MVI（高精度電壓/電流） |
| **音訊 / 視訊** | 音訊信號處理、影像資料流、功耗 | LOG1（邏輯） |
| **觸控面板** | 觸控感測、IO 互動、功耗 | LOG1 |
| **固態硬碟（SSD）** | 介面協議、IO 性能、功耗 | LOG1 |
| **超級 I/O / 低功耗晶片** | 介面協議、IO 互動 | LOG1 |
| **讀卡機（Card Reader）** | 介面協議、IO 性能 | LOG1 |
| **設定盒 / 盒裝系統** | 介面協議、IO 性能、功耗 | LOG1 |
| **光感測器（Light Sensor）** | 光強度、靈敏度、IO 互動 | LOG1 |
| **MEMS 裝置** | 加速度、角速度、IO 互動 | LOG1 |
| **USB 3.0** | 速度、信號完整性、功耗 | LOG1 |
| **無線通訊模組** | RF WIFI / RF Bluetooth | LOG1 |
| **射頻功率放大器（RF Power Amp）** | 功率、線性度、IO 互動 | LOG1 |
| **高電壓車用電源（HV Car‑used Power）** | 高電壓、電流、功耗 | LOG1 / MVI（高精度電壓/電流） |

> **說明**  
> - LOG1 主要提供邏輯 I/O、Pattern 產生與基本電源供應。  
> - MVI 則提供高精度電壓/電流 **Force** 與 **Measure**，可支援更高電壓（+80 V）與更大電流（±2 A）等需求。  
> - 若測試需求包含高電壓或高電流功能，建議搭配 MVI 功能板以達到最佳精度與性能。

以上列表直接取自官方「S100 概述規格」文件中的「支援產品」段落與相關功能板說明。若您有更具體的測試需求（例如特定測試項目、通道數量或測試時間），請告知，我可以為您提供更精準的配置建議。
```

預期答案:
```
S100 可以測試多種電子產品，包括 32 位元微控制器 (MCU)、類比數位轉換器 (ADC)、數位類比轉換器 (DAC)、音訊和影像晶片、觸控面板控制器、固態硬碟控制器、卡片閱讀器、機上盒及光感測器等。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配所有9項核心產品，且額外提供正確且相關的功能板與測試項目，無錯誤或矛盾，故給予最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #3 ###
問題: S100 的最高電壓是多少？可以用來測高電壓的東西嗎？

AI 回應:
```
**S100 最高電壓**  
| 功能板 | 單元 | Force 最高電壓 | Measure 最高電壓 |
|--------|------|----------------|------------------|
| MVI    | HVPMU | **+80 V** | +80 V |
| MVI    | MCPMU | –40 V | –40 V |
| LOG1   | PPMU  | ±11.8 V | ±11.8 V |

> **來源**：S100_Overview_Spec（MVI HVPMU、MVI MCPMU 及 LOG1 PPMU 規格表）

**可否用來測高電壓？**  
- **可**：S100 透過 **MVI** 功能板（HVPMU）可提供最高 +80 V 的電壓輸出，適合測試高電壓設備（如 HV 車用電源、RF 供電、電源模組等）。  
- **LOG1** 只能提供 ±11.8 V 的電壓範圍，若需測試高於此範圍的電壓，必須加裝 MVI 或使用 MVI 的 HVPMU 選項。  

**小結**  
- S100 的最高可達 +80 V，需搭配 MVI HVPMU。  
- 若測試需求不超過 ±11.8 V，可僅使用 LOG1。  
- 高電壓測試（> ±12 V）建議使用 MVI 以確保精度與安全。
```

預期答案:
```
S100 的最高輸出電壓為 80V，來自 MVI 板的 HVPMU (E4 範圍，0V 至 +80V)，適合測試高電壓應用，如高壓電源相關元件。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（最高 80 V、MVI HVPMU、適用於高電壓應用），無錯誤，額外正確補充（MVI MCPMU、LOG1 範圍）不扣分，最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #4 ###
問題: S100 可以測量多小的電流？

AI 回應:
```
**S100 可測量之最小電流（測量單元：MVI 的 MCPMU/HVPMU）**

| Unit | Mode | Range（電流） | Resolution（最小可分辨電流） | Accuracy |
|------|------|--------------|---------------------------------|----------|
| MCPMU / HVPMU | Measure I1 | ±200 nA | **1.526 pA** | (見於文件中對 Accuracy 的描述，具體數值依單元而定) |

- **最小電流範圍**：±200 nA（I1 模式）。  
- **最小分辨率**：1.526 pA，表示能分辨的最小電流變化。  
- 這些參數來自 **MVI 功能板** 的 MCPMU/HVPMU 單元，且同時在 LOG1 的部分 I‑range 中也可達到類似的最小範圍，但分辨率不及 MVI 的 1.526 pA。  

> **參考文件**  
> - 《MVI_Overview_Spec.markdown》 (I1 範圍)  
> - 《S100_Overview_Spec.markdown》 (最小電流 ±200 nA)  

如果您需要進一步的單元比較或其他功能板的測量範圍，請告知。
```

預期答案:
```
S100 的最小電流解析度為 1.526pA。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點「1.526 pA」且無錯誤，額外正確補充範圍與單元資訊，符合規則加分，總分 100。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #5 ###
問題: S100 測量電流有多準確？

AI 回應:
```
**S100 測量電流的 Accuracy（精度）**

| 功能板 | 單元 | 量測類型 | 量測範圍 | Resolution | Accuracy（精度） |
|--------|------|----------|----------|------------|-------------------|
| **LOG1** | DPS（Device Power Supply） | Force I6 | ±250 mA | 1.91 µA | ±(value × 0.1 % + 250 µA) |
| **MVI** | MCPMU / HVPMU（Pin‑to‑Pin 電流測量） | Measure I1 | ±2 A（MVI 最高範圍） | 1.526 pA | 具體 Accuracy 未在文件中列明；建議參考 MVI 單元表格（如 MCPMU/HVPMU）或直接聯繫供應商以取得最新數值。 |

> **說明**  
> 1. LOG1 的 DPS 單元在測量電流時，精度由兩個項目組成：相對誤差 0.1 % 以及固定誤差 250 µA。  
> 2. MVI 功能板（MCPMU、HVPMU）提供更高的電流量程（±2 A）和極低的解析度（1.526 pA），但文件中未明確列出精度公式。若需精確數值，請參考 MVI 單元的完整規格表（如 MCPMU/HVPMU）或直接聯絡 YoungTek Electronics Corp. 以取得最新的 Accuracy 參數。  
> 3. 以上數值均來自 S100_Overview_Spec.markdown（LOG1、MVI 相關段落），若有更新或特殊配置，請以最新文件為準。
```

預期答案:
```
S100 的最小電流精度為 ±5nA，來自 MVI 板的 MCPMU 或 HVPMU 。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 參考答案核心點「±5 nA 精度」完全缺失，未提供任何正確數值，故直接評0分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #6 ###
問題: S100 的速度有多快？可以用來測快速的電子元件嗎？

AI 回應:
```
**S100 的測試速度**  
- **系統時鐘**：100 MHz（由 LOG1 或 MVI 功能板的時序子系統決定）【來源：S100_Overview_Spec】  
- **Pattern 記憶體**：128 M，支援高速邏輯與 pattern 產生【來源：LOG1_PE_Spec】

**適用於快速電子元件的評估**  
| 項目 | 觀察 | 建議 |
|------|------|------|
| **邏輯 I/O 速率** | 最高可達 100 MHz | 夠測試大多數 32‑bit MCU、ADC/DAC、USB 3.0、SD‑Card 等速率較低的邏輯元件 |
| **高頻訊號** | 100 MHz 不是專門的 RF 或高速時序平台 | 若需測試 1 GHz 以上的高速訊號，建議使用更高頻率的測試機或額外的高速前置模組 |
| **動態電壓/電流測試** | LOG1 / MVI 可提供多範圍的電壓/電流輸出（如 ±11.8 V、±32 mA 等） | 可配合高速邏輯測試，適用於高電流或高電壓快速開關元件 |

**結論**  
- S100 以 100 MHz 的時鐘提供足夠的速度來測試大多數常見的快速電子元件（如 MCU、ADC/DAC、USB 3.0 等）。  
- 若測試需求包含超過 100 MHz 的高速訊號或極高頻率的 RF/高速時序，則需要考慮更高頻率的測試平台或額外的高速前置模組。
```

預期答案:
```
S100 的系統時鐘速度為 100MHz，LOG1 板的 TMU 支援最高 300MHz 的測量頻率，MVI 板的 FTMU 支援高達 6.4GHz (高精度模式)，非常適合測試快速電子元件，如高速微控制器或數位信號處理晶片。
```

-- 評分結果 --
分數: 27 分
總結: 匹配 1/4 核心點（系統時鐘 100 MHz）→ 25 分；無錯誤；正確補充（Pattern 記憶體、電壓/電流測試）+2 分，總分 27。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #7 ###
問題: S100 有什麼特別的功能可以用來測不同的東西？

AI 回應:
```
**S100 的核心功能板（LOG1 / MVI）可提供以下特別測試能力：**

| 功能板 | 主要功能 | 可測試項目 | 重要規格（摘錄） |
|------|----------|----------|----------------|
| **LOG1** | 邏輯 I/O、Pattern 產生 | 32‑bit MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel、SSD、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor 等 | • **Pattern 記憶體**：128 Mbit<br>• **系統時鐘**：100 MHz<br>• **邏輯 I/O 通道**：768（S100‑7D）／1536（S100‑15D） |
| **MVI** | 高精度電壓／電流 Force / Measure、動態測量 | 多電壓／高電流測試、時序相關測試、HV 需求 | • **電壓 Range**：±40 V（基礎）／+80 V（HVPMU）<br>• **電流 Range**：±2 A（MCPMU/HVPMU）<br>• **Resolution**：1.526 pA（I‑Measure）<br>• **Accuracy**：±(value × 0.01 % + 0.5 mV)（E‑Force） |

**特別功能說明**

- **模組化硬體**：LOG1 與 MVI 可任意配置於槽位，快速切換功能，滿足不同測試需求。  
- **高通道數**：最大 1536 個邏輯 I/O 通道，支持大規模並行測試。  
- **高電壓 / 高電流**：MVI 的 HVPMU 最高可達 +80 V，MCPMU/HVPMU 可提供 ±2 A，適合電源、功率放大器等高壓/高電流應用。  
- **高精度測量**：MVI 的 1.526 pA 分辨率與 0.01 % 以上精度，能進行精密電流／電壓測試。  
- **Pattern 產生**：128 Mbit Pattern 記憶體與 100 MHz 時鐘，支持高速邏輯與功能測試。  

這些功能使得 S100 能夠同時滿足邏輯驗證、功率測試、時序分析及高精度電壓/電流測量等多種測試需求。
```

預期答案:
```
S100 支援兩種功能板卡：LOG1 (用於高速邏輯測試和圖案生成，支援 128M 圖案記憶體) 和 MVI (用於多電壓電流和時序測試，支援高達 80V 和 2A)。這些板卡可靈活安裝於 S100 的插槽中，支援電壓、電流、時序及邏輯測試，滿足多樣化需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配所有核心點，並提供正確且相關的補充資訊（高通道數、精度、模組化配置等），無錯誤或矛盾，得分最高。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #8 ###
問題: S100-7D 和 S100-15D 有什麼不一樣？哪個更適合我的產品？

AI 回應:
```
**S100‑7D vs. S100‑15D 主要差異**

| 參數 | S100‑7D | S100‑15D |
|------|---------|----------|
| **功能板槽位** | 6 | 12 |
| **最大邏輯 I/O 通道** | 768 (依 LOG1 / MVI 配置) | 1536 (依 LOG1 / MVI 配置) |
| **Pattern 記憶體** | 128 M (同 LOG1 / MVI) | 128 M (同 LOG1 / MVI) |
| **電壓/電流 Range** | 最高可達 ±40 V / ±2 A（MVI 配置） | 最高可達 ±80 V（MVI HVPMU） |
| **可擴充性** | 受 6 個槽位限制，最多 6 個 LOG1 / MVI | 受 12 個槽位限制，可配置 12 個 LOG1 / MVI，通道數翻倍 |
| **成本** | 相對較低 | 相對較高 |

> **資料來源**  
> - LOG1 / MVI 支援與通道數量（CONTEXT 3, 4, 7, 11）  
> - Pattern 記憶體與電壓/電流 Range（CONTEXT 13, 15, 18, 20, 21, 24, 26, 30）

---

### 何時選擇哪一款？

| 產品需求 | 推薦機型 |
|----------|----------|
| **I/O 通道數**：需要 768 個或更少 | **S100‑7D** |
| **I/O 通道數**：需要 1536 個 | **S100‑15D** |
| **高電壓測試**：需 ±80 V 或更高 | **S100‑15D**（MVI HVPMU） |
| **高電流測試**：±2 A 以上 | **S100‑15D**（MVI 配置） |
| **成本敏感**：預算有限、通道需求不大 | **S100‑7D** |
| **靈活擴充**：未來可能增加功能板 | **S100‑15D**（12 個槽位） |

> **風險提示**  
> - 若使用 MVI HVPMU，請確認測試樣品可安全承受 ±80 V。  
> - 兩款機型均需搭配 LOG1 或 MVI 功能板才能實現電壓/電流 Force / Measure；若無功能板，將無法達到上述 Range。

---

#### 小結

- **S100‑7D** 適合中小型產品、I/O 通道數較少、成本較低的場景。  
- **S100‑15D** 具備更高的通道數、電壓/電流範圍，適合需要大量 I/O、超高電壓或高電流測試的產品。  

若您能提供更具體的產品特性（例如每個測試點的電壓/電流需求、通道數、預算限制），可進一步精準推薦。
```

預期答案:
```
S100-7D 配備 6 個功能板插槽，支援最多 768 個通道，適合中小規模測試，如微控制器或光感測器。S100-15D 配備 12 個插槽，支援最多 1536 個通道，適合更複雜或高通道數的產品，如高密度數位電路。若產品需要更多通道，S100-15D 更合適；否則 S100-7D 更具成本效益。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配 4/4 核心點（插槽、通道、適用場景、成本），無錯誤，補充正確資訊，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #9 ###
問題: S100 的 LOG1 板卡可以用來做什麼？有多大的記憶體？

AI 回應:
```
**LOG1 功能板的主要用途**  
| 功能 | 描述 |
|------|------|
| **高速邏輯測試** | 支援最高 100 MHz 的邏輯時鐘，適用於 SoC、MCU、DSP 等高速邏輯元件的功能與時序驗證。 |
| **Pattern 產生** | 內建 128 M 的 Pattern 記憶體，可存放並重複使用大量測試向量，支援自訂、編輯與即時下載。 |
| **功能測試** | 結合 DPS、PPMU、GPMU 等單元，提供電壓/電流 Force 與 Measure、數位訊號處理等核心功能，能完成電源、輸入輸出、時序等多種測試。 |
| **多樣化應用** | 適用於 MEMS、USB 3.0、RF Wi‑Fi/Bluetooth、音訊/影像、SSD、Super‑I/O 等產品的測試。 |

**記憶體容量**  
- **Pattern 記憶體**：128 M（單位：位元）。  
  - 來源：LOG1 規格文件中「Pattern 記憶體：128 M」(Context 19、28)。  

> **備註**：LOG1 的 128 M Pattern 記憶體可用於高速邏輯測試與複雜 Pattern 產生，並可透過功能板組合實現更完整的測試流程。
```

預期答案:
```
LOG1 板卡用於高速邏輯測試和圖案生成，適用於數位電路或微控制器測試。其圖案記憶體深度為 128M，可儲存大量測試數據，支援複雜邏輯測試。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（用途與128M記憶體），補充資訊正確且相關，無錯誤，得最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #10 ###
問題: S100 的 MVI 板卡在測量高電壓時有多精確？

AI 回應:
```
**MVI 功能板高電壓測量（HVPMU）規格**

| 參數 | 內容 | 來源 |
|------|------|------|
| **Range（電壓）** | +80 V（HVPMU Force E4） | [CONTEXT 49] |
| **Resolution** | 18‑bit ADC (HVPMU) | [CONTEXT 29] |
| **Accuracy** | 未在現有文件中明確列出 | — |

> **說明**  
> - HVPMU 主要負責高電壓測量，最高可達 +80 V。  
> - 其 ADC 解析度為 18‑bit，能提供高達 1 µV 量級的分辨率。  
> - 目前提供的文件中並未給出 HVPMU 的具體 Accuracy（精度）數值；唯一可參考的精度規格來自 MCPMU（±(value × 0.01 % + 0.5 mV)）。若您需要 HVPMU 的精度數值，請提供更詳細的規格文件或確認是否有更新版本。
```

預期答案:
```
MVI 板卡在HVPMU最高電壓範圍 E4 (+80V) 的電壓精度為 ±(測量值的 0.01% + 8mV)，校準後可達 ±(測量值的 0.01% + 4mV)，適合高電壓高精度應用。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 回答未提供關鍵精度數值，與參考答案核心資訊（±(0.01%+8mV) / ±(0.01%+4mV)）完全不符，屬於錯誤，直接給 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #11 ###
問題: S100 可以同時測量很多不同的電子元件嗎？

AI 回應:
```
S100 的設計允許在同一時間對多個不同類型的電子元件進行測試與測量。  
以下以 **S100‑7D** 與 **S100‑15D** 為例，說明其可同時測試的範圍與通道數量（資料來源：S100_Overview_Spec.markdown）：

| 型號 | 最大通道數 | 功能板槽位 | 可同時測試的元件類型（示例） |
|------|------------|------------|---------------------------|
| **S100‑7D** | 768 | 6 | MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel、SSD、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、MEMS |
| **S100‑15D** | 1536 | 12 | 同上，並可再加上額外的高電壓/高電流元件（需配置 MVI 或 HVPMU） |

- **通道分配**：每個功能板（LOG1、MVI）提供多個獨立的 **Measure** / **Force** 通道，可同時驅動與測量多個引腳。  
- **邏輯與模式**：LOG1 提供 128M Pattern Memory，可在同一時段內對多個邏輯訊號進行同步 Pattern 產生；MVI 的 **PPMU**、**MCPMU**、**HVPMU** 可同時輸出/測量高精度電壓與電流。  
- **多元測試**：系統可同時啟動多個測試腳本，透過 **ary_avg / ary_max / ary_stddev** 等變數統計不同元件的測量結果。

**注意**  
- 同時測試數量受功能板配置限制；若缺少足夠的 LOG1 或 MVI 槽位，通道數會下降。  
- 高電壓/高電流測試需確保已安裝 **HVPMU** 或 **MCPMU**，否則無法達到 ±80 V / ±2 A 的極值。

總結：S100 能夠在同一時間對多個不同類型的電子元件進行測試與測量，前提是功能板配置足夠且通道數達到需求。
```

預期答案:
```
可以，S100-7D 支援 768 個通道，S100-15D 支援 1536 個通道，可同時測試多個元件或接腳。其模組化設計允許靈活配置 MVI 和 LOG1 板卡，滿足多種測試需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（通道數、同時測試、多功能板卡），無錯誤，補充資訊正確且相關，符合規範，得最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #12 ###
問題: S100 的 LOGIC Board 支援的最大頻率是多少？

AI 回應:
```
S100 的 LOGIC Board（LOG1）最大支援的邏輯頻率為 **100 MHz**，可用於高速邏輯測試與 Pattern 產生。  

> 來源：LOG1 產生板卡規格說明，指出「最大速度為 100 MHz」。
```

預期答案:
```
S100 的 LOGIC Board (即 LOG1 板) 支援的最大頻率為 100MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（100 MHz），無錯誤，額外正確補充不扣分，最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #13 ###
問題: S100 的 PMU 在電壓 Force 模式下的精度如何？

AI 回應:
```
**S100 PMU – 電壓 Force 模式精度**

| 功能 | 參數 | 範圍 | Resolution | Accuracy |
|------|------|------|------------|----------|
| PMU | Force E1 | ±10 V | 305.18 µV | ±(value × 0.01 % + 2 mV) |

**說明**  
- 這是 LOG1 / MVI 兩種功能板上 PMU 單元在電壓 Force 模式下的官方規格。  
- “Accuracy” 指的是輸出電壓在 ±10 V 範圍內的相對誤差：誤差值等於「測量值 × 0.01 %」再加上 2 mV 的固定偏差。  
- 參考來源：`S100_Overview_Spec.markdown`（第 33 號表格）。
```

預期答案:
```
S100 的 PMU 在電壓 Force 模式下的精度因板卡而異。以 LOG1 板的 PMU (GPMU) 為例，在 E1 範圍 (±10V) 下，解析度為 305.18uV，精度為 ±(測量值的 0.01% + 2mV)，適合高精度電壓控制。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 主要核心資訊（解析度 305.18 µV、精度 ±(value × 0.01% + 2 mV)）正確，但答案額外聲稱 MVI 亦符合此規格，未在參考答案中提及，屬明顯無根據的幻覺，根據規則直接給 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #14 ###
問題: LOGIC Board 的 TMU 的量測精確度為多少？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。
```

預期答案:
```
LOGIC Board (LOG1) 的 TMU 量測精確度為 ±1 SYSTEM_CLK/AVG 。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 回答包含「查無此資訊」等關鍵詞，視為中性回應，直接給 40 分，雖未匹配任何核心點。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #15 ###
問題: LOGIC Board 的 PMU，其電壓 Force 的精確度？

AI 回應:
```
查無此資訊。  
- 文件中僅提到「PMU 在校準後一個月內 Accuracy 更高」，未提供具體數值。  
- 若您需要精確的電壓 Force Accuracy 數值，請確認是否有其他版本或更新的規格文件，或告知您所需的測試條件（例如校準後多久、測試溫度等）。
```

預期答案:
```
LOGIC Board (LOG1) 的 PMU (GPMU) 在電壓 Force 模式下，於 E1 範圍 (±10V) 的精確度為 ±(測量值的 0.01% + 2mV)。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 回覆含「查無此資訊」及建議提供更多細節，符合中性回應規則，直接給 40 分，未匹配任何核心資訊。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #16 ###
問題: LOGIC Board 有幾組 PMU？

AI 回應:
```
**LOG1（Logic Board）上 PMU 的數量**

| 參數 | 數值 | 來源 |
|------|------|------|
| 每板卡 PMU 數量 | 16 個 | LOG1_PMU_Spec.markdown（Context 2） |
| 每個 PMU 連接通道 | 8 個 | LOG1_PMU_Spec.markdown（Context 4） |

> **說明**：LOG1 這一款 Logic Board 內建 16 個 PMU（Parametric Measurement Unit），每個 PMU 可提供 8 通道的電壓/電流 Force 與 Measure 功能。
```

預期答案:
```
每塊 LOGIC Board (LOG1) 有 16 組 PMU 可使用。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（16 組 PMU），並正確補充額外資訊（每 PMU 8 通道），無錯誤或矛盾，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #17 ###
問題: S100 是用來測試哪些類型的產品？

AI 回應:
```
S100 可用於測試以下類型的產品（來源：S100_Overview_Spec.markdown）：

- 32‑bit MCU  
- ADC / DAC  
- Audio / Video  
- Touch Panel Controller  
- SSD Controller  
- Super I/O  
- Card Reader  
- Setup Box  
- Light Sensor  
- MEMS  
- USB 3.0  
- RF WIFI  
- RF Bluetooth  
- RF Power Amp  
- HV Car‑used Power  

以上列舉為 S100 官方支援的主要產品範疇。
```

預期答案:
```
S100 可以測試以下產品類型：
    1. 數位：數位控制器、快閃記憶體控制器、USB 控制器、32 位元 MCU
    2. 混合信號：機上盒、音訊/影像、觸控控制器、ADC/DAC
    3. Power: Super I/O、Power Management IC、Automotive
    4. 其他：MEMS、CIS、RF
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 參考答案列出 14 個核心項目，待評估答案僅覆蓋 5 個，且加入多項未在參考中提及的產品類型，構成明顯不符/幻覺資訊，依規則直接給 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #18 ###
問題: S100 機台的測試頻率是多少？

AI 回應:
```
**S100 機台的測試頻率**  
- **100 MHz**（系統時鐘頻率，取決於 LOG1 或 MVI 功能板的時序子系統）。  

來源：S100_Overview_Spec.markdown（「測試速度：100 MHz 系統時鐘」）。
```

預期答案:
```
S100 機台的測試頻率為 100MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（100 MHz），補充資訊正確且相關，未出現錯誤或多餘內容，得分最高。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #19 ###
問題: 介紹 S100

AI 回應:
```
**S100 系列測試平台概述**  
（資料來源：S100_Overview_Spec.markdown，2025‑10‑09）

| 項目 | 內容 |
|------|------|
| **設備名稱** | S100 |
| **型號** | S100‑7D、S100‑15D |
| **功能板** | LOG1、MVI（可自由插入任意槽位） |
| **系統時鐘** | 100 MHz（由 LOG1/MVI 的時序子系統決定） |
| **邏輯 I/O 通道** | 768（S100‑7D） / 1536（S100‑15D） |
| **Pattern 記憶體** | 128 Mbit（由 LOG1 或 MVI 提供） |
| **測試支援產品** | 32‑bit MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel Controller、SSD Controller、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、MEMS、USB 3.0、RF Wi‑Fi、RF Bluetooth、RF Power Amp、HV Car‑used Power 等 |
| **電壓/電流 Force / Measure 範圍** | <br>• **LOG1**：<br> - DPS：±10 V, ±250 µA (Force I3) → Resolution 1.91 nA, Accuracy ±(0.1 % × value + 250 nA)<br> - PPMU：±11.8 V, ±32 mA (Force I6) → Resolution 1.91 µA, Accuracy ±(0.1 % × value + 250 µA) | <br>• **MVI**：<br> - HVPMU：+80 V (Force E4) → Range +80 V, Resolution 305.18 µV, Accuracy ±(0.01 % × value + 2 mV)<br> - MCPMU：–40 V (Force/Measure E4) → Range –40 V, Resolution 305.18 µV, Accuracy ±(0.01 % × value + 2 mV) |
| **電流最小分辨率** | 1.526 pA（MVI MCPMU/HVPMU Measure I1） |
| **電流最小值** | ±200 nA（MVI MCPMU/HVPMU Force/Measure I1, LOG1 I‑range） |
| **功率與資源** | 功能板槽位數決定最大通道數；S100‑7D 6 槽位，S100‑15D 12 槽位。 |

---

### 主要特點
1. **模組化硬體架構** – LOG1 與 MVI 可按需插入，支持不同的電壓/電流測試需求。  
2. **高測試速度** – 100 MHz 系統時鐘，配合高頻邏輯 I/O。  
3. **高精度電壓/電流測試** – MVI 的 HVPMU 及 MCPMU 提供 ±80 V / ±40 V 範圍，分辨率低至 305 µV，電流分辨率低至 1.526 pA。  
4. **廣泛產品兼容** – 從 MCU、ADC、DAC 到 RF、HV 車用電源等多類型設備皆可測試。  

> **注意**：所有規格均取自官方文件，若需最新或更詳細的參數，請參閱最新的 S100_Overview_Spec.markdown 或聯絡 YoungTek Electronics Corp. (YTEC)。
```

預期答案:
```
S100 是一款專為半導體 IC 測試設計的設備，包含兩種機型：S100-7D 和 S100-15D。S100-7D 配備 6 個功能板插槽，支援最多 768 個邏輯 I/O 通道；S100-15D 配備 12 個插槽，支援最多 1536 個通道。S100 支援 MVI 和 LOG1 功能板卡，提供高速邏輯測試 (100MHz)、多電壓電流測量 (最高 80V、2A) 和高精度時序分析 (高達 6.4GHz)，適合測試微控制器、ADC/DAC 等產品。
```

-- 評分結果 --
分數: 81 分
總結: 匹配 7/9 核心點（含機型、插槽、通道、功能板、時鐘），缺失 2A 與 6.4GHz 兩項；無錯誤或矛盾；正確補充多項規格，額外加 3 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #20 ###
問題: 若客戶需要客製化的測試方案，S100 機台是否能提供彈性配置？

AI 回應:
```
**S100 之彈性配置能力**  

| 特色 | 具體說明 | 來源 |
|------|---------|------|
| **功能板可任意插槽** | LOG1、MVI 等功能板可放入任意槽位，使用者可根據測試需求自由排列 | 【CONTEXT 15】 |
| **槽位數量** | S100‑7D 有 6 個槽位，S100‑15D 有 12 個槽位 | 【CONTEXT 21】【CONTEXT 22】 |
| **通道數可調** | 通道數（768 / 1536）取決於功能板配置，可透過增減 LOG1/MVI 來調整 | 【CONTEXT 12】【CONTEXT 18】 |
| **電壓/電流規格可優化** | 透過選擇不同功能板（如 MCPMU、HVPMU、PPMU 等）可獲得不同的 Force/Measure Range、Resolution、Accuracy | 【CONTEXT 16】【CONTEXT 37】【CONTEXT 41】 |
| **應用範圍廣** | 兼容多種產品（MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel、SSD、Super‑I/O 等） | 【CONTEXT 24】【CONTEXT 30】 |

**結論**  
S100 平台設計為模組化硬體架構，允許客戶在 6 或 12 個功能板槽位內自由組合 LOG1、MVI 及其子單元（DPS、PPMU、MCPMU、HVPMU 等）。透過這種彈性配置，客戶可針對特定測試需求調整電壓、電流、Resolution、Accuracy 等參數，並可擴充通道數或功能範圍。若需更詳細的配置建議，請告知您想使用的功能板組合或特定測試場景。
```

預期答案:
```
S100 能夠提供客製化測試方案，其模組化設計允許靈活配置 MVI 和 LOG1 板卡，並可搭配額外模組或儀器以滿足特殊產品測試需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（客製化方案、模組化設計、靈活配置 MVI/LOG1），無錯誤或矛盾，額外正確補充（槽位、通道、電壓/電流、應用範圍）提升完整度，得分 100。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #21 ###
問題: S100 有分成幾種機型？其特色與差異為何？

AI 回應:
```
**S100 系列機型**

| 機型 | 主要差異 | 特色說明 |
|------|----------|----------|
| **S100‑7D** | 6 個功能板槽位，最多 768 個邏輯 I/O 通道 | • 適合中等規模的 SoC 測試。<br>• 仍可安裝 LOG1 或 MVI 功能板，實現電壓/電流 Force 與 Measure。<br>• Pattern 記憶體 128 M，足以支援大多數邏輯與 Pattern 產生需求。 |
| **S100‑15D** | 12 個功能板槽位，最多 1536 個邏輯 I/O 通道 | • 兩倍通道數，適用於高通道需求（如大型晶片、複雜測試矩陣）。<br>• 同樣可使用 LOG1 或 MVI 功能板，提供更高的電壓/電流測量容量。<br>• Pattern 記憶體保持 128 M，與 7D 相同，但可配置更多功能板以擴充測試範圍。 |

**差異重點**  
1. **功能板槽位**：7D 為 6 槽，15D 為 12 槽，允許配置更多 LOG1/MVI 單元。  
2. **邏輯 I/O 通道**：7D 為 768，15D 為 1536，通道數直接決定可同時測試的引腳數。  
3. **Pattern 記憶體**：兩型皆為 128 M，主要差異在於可配置的功能板數量。  
4. **應用靈活性**：兩型均可使用 LOG1（邏輯與 Pattern 產生）或 MVI（高精度電壓/電流測量）功能板，配置方式相同，但 15D 具備更大的擴充空間。  

以上資訊均來自 S100_Overview_Spec.markdown 的文件內容。若需要更細節（如電壓/電流 Range、Resolution、Accuracy 等），請告知。
```

預期答案:
```
S100 分為 S100-7D 和 S100-15D 兩種機型：
    - S100-7D：6 個功能板插槽，768 個通道，適合中小規模測試。
    - S100-15D：12 個功能板插槽，1536 個通道，適合高通道數或複雜測試。
    兩者均支援 MVI 和 LOG1 板卡，差異在於通道數和插槽數，S100-15D 更適合高密度或多通道應用。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配兩個機型、插槽數、通道數及差異，無錯誤，額外正確補充Pattern記憶體等資訊，得分100。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #22 ###
問題: S100 有多少個 User Relay 可以用？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。
```

預期答案:
```
S100-7D 有 96 個 User Relay，S100-15D 有 128 個 User Relay。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 40分，因包含「查無此資訊」關鍵詞，視為中性回應，無核心點匹配。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #23 ###
問題: S100 是否可以測記憶體相關的產品？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或您想測試的記憶體產品類型，以便進一步查詢相應規格。
```

預期答案:
```
S100 可測試記憶體容量較小的產品，如快閃記憶體 (Flash Memory)，最大支援 128M 圖案記憶體，無法測試大容量主記憶體 (如數 GB 或 TB)。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 0/3 核心點匹配，包含「查無此資訊」及「請提供更具體細節」關鍵詞，符合中性回應規則，直接給 40 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #24 ###
問題: LOG1 板的 DVM 在 GAIN1 範圍下的精度如何？

AI 回應:
```
**LOG1 DVM – GAIN1 範圍下的精度（Accuracy）**

| 參數 | 數值 | 來源 |
|------|------|------|
| **Accuracy** | ±(value × 0.01 % + 1 mV) | LOG1_DVM_Spec.markdown (表格行 “GAIN1”) |

- 這表示在 ±10 V 的測量範圍內，測量誤差為「值的 0.01 % 加上 1 mV」的絕對誤差。  
- 例如，若測量值為 5 V，則最大誤差為 ±(5 V × 0.01 % + 1 mV) ≈ ±0.55 mV。  
- 這是 LOG1 DVM 在 GAIN1 模式下的官方精度規格。
```

預期答案:
```
LOG1 板的 DVM 在 GAIN1 範圍 (±10V) 下的精度為 ±(測量值的 0.01% + 1mV)。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心資訊（±10 V 範圍、±(測量值 0.01% + 1 mV) 精度），無錯誤或多餘幻覺，給予最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #25 ###
問題: LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率是多少？

AI 回應:
```
**LOG1 板 TMU 支援的最大測量頻率**

| 參數 | 值 | 來源文件 |
|------|------|-----------|
| Maximum Measurement Frequency | **300 MHz** | LOG1_TMU_Spec.markdown (Context 0, 1) |

> 由 RAG 系統檢索到的 LOG1 TMU 規格明確指出，最大測量頻率為 300 MHz。
```

預期答案:
```
LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率為 300MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配 100% 核心點（300 MHz），無錯誤，補充正確且相關，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #26 ###
問題: S100 的 Pattern Memory 深度是多少？

AI 回應:
```
S100 的 Pattern Memory 深度為 **128 M**。  
（來源：LOG1_PE_Spec.markdown、MVI_PE_Spec.markdown 等文件中皆指出 Pattern Memory Depth 為 128 M。）
```

預期答案:
```
S100 的 Pattern Memory 深度為 128M，來自 LOG1 板的規格。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（128 M），補充來源正確無誤，無錯誤或遺漏，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #27 ###
問題: S100 是否支援 ADC 和 DAC 的測試？

AI 回應:
```
S100 支援 **ADC** 與 **DAC** 的測試。  
- 產品支援清單中已列出「ADC、DAC」(來源：S100_Overview_Spec.markdown)。  
- LOG1 與 MVI 功能板提供 16‑bit DAC 及 18‑bit ADC 的 **Resolution**，可用於高精度的輸出與測量。  

因此，您可以使用 S100 平台（搭配 LOG1 或 MVI）進行 ADC / DAC 的功能與性能測試。
```

預期答案:
```
是的，S100 支援 ADC 和 DAC 的測試，特別是透過 MVI 板的 MCPMU 和 DVM 進行高精度電壓和電流測量，以及 LOG1 板的邏輯測試功能。
```

-- 評分結果 --
分數: 69 分
總結: 匹配 2/3 核心點（66.7%），無錯誤，補充正確的解析度資訊加 2 分，總分 69。
### 測試案例結束 ###


參數組 #1 完成，平均分數: 71.74
--------------------------------------------------------------------------------
================================================================================
開始新一輪測試
Parameters:
openAiTemp: 0.7
similarityThreshold: 0.5
chatModel: gpt-oss:20b
topN: 200
vectorSearchMode: rerank
openAiPrompt: ## 角色與核心目標
你是一位 S100 半導體 IC 測試機的技術與應用顧問，目標是從 RAG 系統檢索 S100 及其功能板卡（LOG1、MVI）的規格，提供精確、實用的回應，協助用戶決策。

## 術語標準化
在所有回應中，必須使用以下標準化英文術語，並確保單位一致（如 V、A、Hz）：
- 「解析度」顯示為 **Resolution**。
- 「精度」顯示為 **Accuracy**。
- 「範圍」顯示為 **Range**。
- 「圖案」顯示為 **Pattern**。
- 「輸出」顯示為 **Force**。
- 「測量」顯示為 **Measure**。

## 核心原則與行為準則
1. **絕對依賴 RAG 系統**：
   - 所有回答必須基於 RAG 系統檢索的文件內容，禁止猜測或使用外部知識。
2. **結構化輸出**：
   - 使用表格、項目符號或有序列表呈現規格數據，確保清晰易讀。
3. **誠實透明與避免幻覺**：
   - 若 RAG 系統無相關資料、不完整或僅找到類似內容，禁止猜測，必須以反問方式詢問使用者更多細節，例如：「查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。」
   - 若資料不匹配查詢，立即反問：「您的查詢與可用規格不符，請澄清詳細需求。」
4. **風險警示**：
   - 若規格有限制（如電壓上限），簡要警示，但僅限相關查詢。
5. **回應精簡**：
   - 僅針對用戶查詢提供直接相關回應，禁止額外補充、講解或無關資訊。
6. **回應語言**：
   - 所有回應使用中文，保持專業、清晰。

## 查詢處理機制
1. **通用查詢**：
   - 自動檢索 LOG1 和 MVI 的規格，比較後回應，並說明來源。
2. **比較性查詢**：
   - 提供對比表格，列出關鍵規格，並總結差異。
3. **應用型查詢**：
   - 分析需求關鍵詞，匹配最適合的功能板卡，引用規格說明推薦理由。
4. **查詢驗證**：
   - 每次回應前，確認 RAG 資料的相關性；若不符，轉為反問使用者澄清。

================================================================================

### 測試案例 #1 ###
問題: S100 是一台什麼樣的機器？可以用來做什麼？

AI 回應:
```
S100 是一款 **高速、低成本的 SoC IC 測試平台**，採用模組化硬體架構，可靈活配置 LOG1 與 MVI 功能板。  

| 特色 | 說明 | 來源 |
|------|------|------|
| **平台型號** | S100‑7D / S100‑15D | 【CONTEXT 34】 |
| **模組化設計** | 可插拔 LOG1、MVI 等功能板，槽位數分別為 6 / 12 | 【CONTEXT 22】【CONTEXT 21】 |
| **邏輯 I/O** | 768 通道（S100‑7D） / 1536 通道（S100‑15D） | 【CONTEXT 15】 |
| **Pattern 記憶體** | 128 Mbit（由 LOG1 / MVI 提供） | 【CONTEXT 23】 |
| **測試速度** | 100 MHz 系統時鐘（由 LOG1 / MVI 支援） | 【CONTEXT 15】 |
| **功能板** | LOG1（邏輯、Pattern 產生、基本電源）<br> MVI（高精度電壓/電流 Force/Measure、HVPMU） | 【CONTEXT 16】【CONTEXT 17】 |
| **電壓/電流範圍** | 依功能板而定：<br>• LOG1：±11.8 V / ±32 mA<br>• MVI：±40 V / ±2 A（HVPMU 可達 +80 V） | 【CONTEXT 10】【CONTEXT 18】【CONTEXT 19】 |
| **測試適用產品** | 32‑bit MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel、SSD、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor 等 | 【CONTEXT 24】【CONTEXT 27】 |

### 主要功能
1. **邏輯測試** – 透過 LOG1 的邏輯 I/O 通道與 Pattern 產生器，執行高速邏輯驗證。  
2. **參數測量** – MVI 的 MCPMU、HVPMU 及 PPMU 可對電壓、電流進行高精度 Force/Measure，Resolution 可達 1.526 pA。  
3. **多電壓/高電流測試** – 依功能板配置，可達 ±80 V、±2 A 的測試需求。  
4. **時序與功能驗證** – 100 MHz 時鐘下支援時序相關測試，並可與 LOG1 / MVI 組合實現複雜功能測試。  
5. **靈活配置** – 任意功能板可放入任意槽位，使用者可根據測試需求自行調整通道數、電壓/電流規格與測試容量。  

### 適用場景
- SoC IC 的邏輯與功能驗證  
- 高電壓/高電流元件（如 RF Power Amp、HV Car‑used Power）測試  
- 多產品線的統一測試平台（MCU、DSP、Audio/Video、Storage Controller 等）  

總結來說，S100 是一台能夠同時處理邏輯、Pattern、電壓/電流測量的高效能測試平台，適用於各類 SoC 及周邊元件的全面驗證。
```

預期答案:
```
S100 是一款用於測試積體電路 (IC) 的高速度、低成本設備，專為系統單晶片 (SoC) 測試設計。它採用模組化硬體架構，支援 MVI 和 LOG1 功能板卡，適用於邏輯測試、多電壓電流測量及時序分析，可用於檢查電子產品如微控制器、感測器等的性能，確保其正常運作。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點，無錯誤，補充正確資訊加分，總分100分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #2 ###
問題: S100 可以測試哪些東西？

AI 回應:
```
S100 主要支援以下產品類型的測試（以 LOG1 與 MVI 功能板為核心）：

- 32‑bit MCU  
- ADC / DAC  
- Audio 介面  
- Video 介面  
- Touch‑Panel 控制器  
- SSD 控制器  
- Super I/O  
- Card Reader  
- Setup Box  
- Light Sensor  
- MEMS 裝置  
- USB 3.0  
- RF WIFI / RF Bluetooth  
- RF Power Amp  
- HV 車用電源（High‑Voltage Car‑Used Power）  

這些產品的測試需求通常依賴 LOG1 的邏輯 I/O 與基礎電源供應，或 MVI 的高精度電壓/電流 Force 與 Measure 功能。  

*資料來源：S100_Overview_Spec.markdown（支援產品清單）*
```

預期答案:
```
S100 可以測試多種電子產品，包括 32 位元微控制器 (MCU)、類比數位轉換器 (ADC)、數位類比轉換器 (DAC)、音訊和影像晶片、觸控面板控制器、固態硬碟控制器、卡片閱讀器、機上盒及光感測器等。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（32‑bit MCU、ADC/DAC、音訊/影像、觸控面板、SSD、卡片閱讀器、機上盒、光感測器），並正確補充多項額外支援項目，無矛盾或錯誤，故給最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #3 ###
問題: S100 的最高電壓是多少？可以用來測高電壓的東西嗎？

AI 回應:
```
| 參數 | 最高值 | 來源 |
|------|--------|------|
| **Voltage Range（最高電壓）** | **+80 V**（MVI 功能板 HVPMU） | S100_Overview_Spec（Context 10, 12） |
| **最小電壓** | **‑40 V**（MVI MCPMU） | S100_Overview_Spec（Context 11, 12） |

**可否測高電壓？**  
是的。當 S100 配置 MVI 功能板並啟用 HVPMU 時，最高電壓可達 +80 V，可用於測試高電壓裝置。若未使用 MVI HVPMU，最高電壓僅可達 ±40 V。
```

預期答案:
```
S100 的最高輸出電壓為 80V，來自 MVI 板的 HVPMU (E4 範圍，0V 至 +80V)，適合測試高電壓應用，如高壓電源相關元件。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（80 V、MVI HVPMU、適用於高電壓測試），無錯誤，額外正確補充最小電壓資訊，未扣分，最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #4 ###
問題: S100 可以測量多小的電流？

AI 回應:
```
**S100 能測量的最小電流（Resolution）**  
| 功能板 | 單元 | 模式 | Range（電流） | **Resolution** | Accuracy |
|--------|------|------|----------------|----------------|----------|
| MVI | MCPMU / HVPMU | Measure | ±200 nA | **1.526 pA** | (參見 MVI 規格表) |

- **最小可測量電流**：±200 nA（即最低可達的電流值）  
- **最小分辨率**：1.526 pA（即能分辨的最小電流差值）

> 來源：S100 規格文件中「MVI 功能板的 MCPMU/HVPMU Measure I1」的「最小 Resolution」與「最小電流」規格。
```

預期答案:
```
S100 的最小電流解析度為 1.526pA。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（1.526 pA），並正確補充最小可測電流資訊，無錯誤或矛盾，得滿分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #5 ###
問題: S100 測量電流有多準確？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或您對電流測量精度的具體需求。
```

預期答案:
```
S100 的最小電流精度為 ±5nA，來自 MVI 板的 MCPMU 或 HVPMU 。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 40分，因包含「查無此資訊」等關鍵詞，視為中性回應，無核心點匹配。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #6 ###
問題: S100 的速度有多快？可以用來測快速的電子元件嗎？

AI 回應:
```
**S100 平台的速度規格**

| 指標 | 內容 |
|------|------|
| **系統時鐘** | 100 MHz（由 LOG1 或 MVI 功能板的時序子系統決定）【來源：S100_Overview_Spec.markdown】 |
| **適用測試範疇** | 高速邏輯測試、Pattern 產生、功能測試 |

**能否測試快速電子元件？**  
- 100 MHz 的系統時鐘已足以支援大多數高速邏輯與數位時序測試（如 32‑bit MCU、ADC/DAC、USB 3.0、SD‑Card、SSD Controller 等）。  
- LOG1 及 MVI 功能板提供的 Pattern Memory（128 Mbit）與高精度電壓/電流 Force/Measure，讓 S100 能夠對高頻、低延遲的元件進行精密測試。  
- 若需更高頻寬或更短的時序週期，可透過多個 LOG1/MVI 模組擴充，提升通道數量與測試速度。

> **結論**：S100 的 100 MHz 系統時鐘已能滿足大多數快速電子元件的測試需求，並且可藉由功能板配置進一步擴充速度與測試容量。
```

預期答案:
```
S100 的系統時鐘速度為 100MHz，LOG1 板的 TMU 支援最高 300MHz 的測量頻率，MVI 板的 FTMU 支援高達 6.4GHz (高精度模式)，非常適合測試快速電子元件，如高速微控制器或數位信號處理晶片。
```

-- 評分結果 --
分數: 53 分
總結: 匹配 2/4 核心點（系統時鐘 100 MHz、適用性），缺少 300 MHz 與 6.4 GHz 兩項，基礎 50 分，補充正確資訊加 3 分，總分 53。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #7 ###
問題: S100 有什麼特別的功能可以用來測不同的東西？

AI 回應:
```
**S100 平台的核心功能與可測試範圍（摘自 S100_Overview_Spec.markdown）**

| 功能類別 | 主要功能 | 特色說明 | 適用測試項目 | 參考來源 |
|----------|----------|----------|--------------|----------|
| **邏輯測試** | 高速邏輯 I/O + Pattern 產生 | 100 MHz 系統時鐘、128 M Pattern Memory | 32‑bit MCU、ADC/DAC、Audio/Video、Touch Panel、SSD、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor 等 | 【CONTEXT 20】【CONTEXT 29】 |
| **高電壓輸出** | HVPMU（+80 V） | 最高可達 +80 V，適用於高壓測試 | HV Car‑used Power、RF WIFI/Bluetooth、USB 3.0 等 | 【CONTEXT 6】【CONTEXT 7】 |
| **高電流輸出** | MCPMU / HVPMU（±2 A） | 最高 ±2 A，適合大電流負載 | 需要大電流驅動的設備（如 RF Power Amp） | 【CONTEXT 12】【CONTEXT 15】 |
| **高精度電壓/電流測量** | MVI 的 MCPMU、PPMU、HVPMU | 解析度可達 1.526 pA（I‑measure），精度 < 0.01 % + 0.5 mV | 精密電源、低電流電路、電流源測試 | 【CONTEXT 19】【CONTEXT 18】 |
| **動態 Force/Measure** | LOG1 / MVI 之多模態 | 可在同一平台同時執行 Force 與 Measure，支持多通道 | 同步測試、時序相關測試 | 【CONTEXT 11】【CONTEXT 22】 |
| **靈活功能板配置** | LOG1、MVI 可任意插槽 | 依槽位數量決定通道數與功能 | 根據測試需求調整通道數、電壓/電流範圍 | 【CONTEXT 24】【CONTEXT 27】【CONTEXT 35】 |

### 主要特點總結
- **通道數量**：S100‑7D 768 通道，S100‑15D 1536 通道（取決於 LOG1 / MVI 配置）。【CONTEXT 20】【CONTEXT 27】
- **Pattern 記憶體**：128 M，可在 LOG1 或 MVI 之間共享。【CONTEXT 29】
- **電壓/電流範圍**：依功能板而定，LOG1 主要提供基本電源，MVI 可擴展至 ±40 V、±2 A。【CONTEXT 30】【CONTEXT 17】

> **建議**：若需要同時進行高電壓/高電流測試與高精度電壓/電流測量，建議在 S100‑15D 上配置 **兩個 MVI**（或一個 MVI + HVPMU）以及 **兩個 LOG1**，以最大化通道數與測量容量。

如需更詳細的單元規格（如 PPMU、PPMU、DPS 等），請告知具體需求，我將提供相應的表格。
```

預期答案:
```
S100 支援兩種功能板卡：LOG1 (用於高速邏輯測試和圖案生成，支援 128M 圖案記憶體) 和 MVI (用於多電壓電流和時序測試，支援高達 80V 和 2A)。這些板卡可靈活安裝於 S100 的插槽中，支援電壓、電流、時序及邏輯測試，滿足多樣化需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 參考答案指出 MVI 支援最高 80 V，待評估答案卻說 MVI 只能 ±40 V，與核心資訊不符，屬於明顯錯誤，直接給 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #8 ###
問題: S100-7D 和 S100-15D 有什麼不一樣？哪個更適合我的產品？

AI 回應:
```
**S100‑7D vs. S100‑15D**  
| 指標 | S100‑7D | S100‑15D |
|------|--------|----------|
| 功能板槽位 | 6 | 12 |
| 最大通道數 | 768（取決於 LOG1 或 MVI 配置） | 1536（取決於 LOG1 或 MVI 配置） |
| 主要差異 | 1. 通道數量、功能板容量受限；2. 可配置的 LOG1 / MVI 數量較少。 | 1. 通道數量翻倍，能支援更大規模的邏輯/電壓/電流測試；2. 可安裝更多 LOG1 或 MVI，提升測量容量與靈活度。 |

**哪個更適合？**  
- 若您的測試需求 **需要** 超過 768 個邏輯或電壓/電流通道，或同時使用多個 LOG1 / MVI 以實現高頻、低電流、或高電壓測試，建議選擇 **S100‑15D**。  
- 若測試規模較小（≤ 768 通道）且不需大量 LOG1 / MVI，**S100‑7D** 已足夠，且成本相對較低。

> **請提供更多產品資訊**（例如：  
> 1. 需要測試的邏輯通道數量。  
> 2. 期望的電壓/電流範圍。  
> 3. 是否需要高頻時序或高電壓功能。  
> 4. 任何特殊的 Pattern 或測試模式需求。  
>）  
> 有了這些細節，我可以幫您更精準地判斷哪個型號最適合。
```

預期答案:
```
S100-7D 配備 6 個功能板插槽，支援最多 768 個通道，適合中小規模測試，如微控制器或光感測器。S100-15D 配備 12 個插槽，支援最多 1536 個通道，適合更複雜或高通道數的產品，如高密度數位電路。若產品需要更多通道，S100-15D 更合適；否則 S100-7D 更具成本效益。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（插槽、通道數、適用場景），無錯誤或矛盾，額外正確補充 LOG1/MVI 相關資訊，符合加分條件，總分 100。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #9 ###
問題: S100 的 LOG1 板卡可以用來做什麼？有多大的記憶體？

AI 回應:
```
**LOG1 功能板用途**  
- **高速邏輯測試**：支援最高 100 MHz 的邏輯時鐘。  
- **Pattern 產生**：內建 128 M Pattern 記憶體，可存放大量測試向量。  
- **功能測試**：結合 LOG1 的 Device Power Supply (DPS)、Per‑Pin Parametric Measurement Unit (PPMU) 等單元，可對被測 IC 進行電壓/電流 Force、Measure、比較等功能驗證。  
- **附加功能**：具備 128 個帶有主動負載的引腳，能進行多路輸出/輸入的邏輯與電氣測試。

**記憶體容量**  
- **Pattern 記憶體**：128 M（可用於儲存測試向量和驗證資料）。  

> 來源：LOG1_Overview_Spec（Pattern 記憶體 128 M）、LOG1_PE_Spec（128 個帶主動負載的引腳）。
```

預期答案:
```
LOG1 板卡用於高速邏輯測試和圖案生成，適用於數位電路或微控制器測試。其圖案記憶體深度為 128M，可儲存大量測試數據，支援複雜邏輯測試。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配 100% 核心點（用途與 128M 記憶體），無錯誤，補充正確資訊，符合加分規則，最終得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #10 ###
問題: S100 的 MVI 板卡在測量高電壓時有多精確？

AI 回應:
```
**查無完整的「MVI 高電壓測量精度」規格。**  
根據目前可檢索到的文件，只有 MCPMU（多通道參數測量單元）在 **E1** 範圍內的 Accuracy 定義為：

| Unit | Mode | Accuracy |
|------|------|----------|
| MCPMU | Force E1 | ±(value × 0.01 % + 0.5 mV) |

這個公式可應用於低至中等電壓範圍的測量。  
對於 **HVPMU（高電壓參數測量單元）**，文件中僅列出其最大電壓 (+80 V) 以及 DAC/ADC 分辨率（16‑bit / 18‑bit），但未明示其 Accuracy。  

> 若您需要 HVPMU 的高電壓測量精度，請提供更具體的需求（例如要測量的電壓範圍、所使用的單元型號或是否需要參考特定的測量模式）。  

**參考來源**  
- S100_Overview_Spec.markdown（Context 18、Context 21、Context 49）
```

預期答案:
```
MVI 板卡在HVPMU最高電壓範圍 E4 (+80V) 的電壓精度為 ±(測量值的 0.01% + 8mV)，校準後可達 ±(測量值的 0.01% + 4mV)，適合高電壓高精度應用。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 回答未提供參考答案中的關鍵精度數值，且聲稱缺乏資訊，與正確的 ±(0.01%+8mV) / ±(0.01%+4mV) 完全不符，屬於核心資訊錯誤，直接給 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #11 ###
問題: S100 可以同時測量很多不同的電子元件嗎？

AI 回應:
```
**S100 能否同時測量多種電子元件？**  

| 參數 | 內容 |
|------|------|
| **同時測量能力** | 依 **S100‑7D** 或 **S100‑15D** 型號決定。 |
| **S100‑7D** | 最高 **768 個測試通道**（可由 LOG1 或 MVI 功能板提供）。 |
| **S100‑15D** | 最高 **1536 個測試通道**（可由 LOG1 或 MVI 功能板提供）。 |
| **功能板配置** | LOG1 主要提供邏輯 I/O、Pattern 產生、基本電源供應；MVI 主要提供高精度電壓/電流 Force & Measure（E‑range ±40 V、I‑range ±2 A）。兩板可同時安裝於任意槽位，並共享通道。 |
| **可同時測試的產品類型** | 32‑bit MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch‑Panel Controller、SSD Controller、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、MEMS 等。 |

**結論**  
是的，S100 具備足夠多的測試通道與靈活的功能板配置，能在單一機台上同時對多個不同類型的電子元件進行測量。實際能測量的數量取決於：

1. **機台型號**（7D vs 15D）。  
2. **已安裝的 LOG1 / MVI 功能板數量**。  
3. **每個元件所需的測試通道數**（例如一個 32‑bit MCU 可能需要數十個邏輯通道與若干電壓/電流通道）。

如需確定具體可同時測試的元件數量，請告知您計畫使用的功能板配置與每個元件的通道需求。
```

預期答案:
```
可以，S100-7D 支援 768 個通道，S100-15D 支援 1536 個通道，可同時測試多個元件或接腳。其模組化設計允許靈活配置 MVI 和 LOG1 板卡，滿足多種測試需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（是、768/1536 通道、模組化配置 MVI/LOG1），無錯誤，正確補充產品類型與配置細節，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #12 ###
問題: S100 的 LOGIC Board 支援的最大頻率是多少？

AI 回應:
```
S100 的 LOGIC Board（LOG1）支援的最大頻率為 **100 MHz**，見於 LOG1 規格說明中「最大速度為 100 MHz」以及「LOG1 板卡支援最高 100 MHz 的高速邏輯測試」。
```

預期答案:
```
S100 的 LOGIC Board (即 LOG1 板) 支援的最大頻率為 100MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（100 MHz），無錯誤，補充說明正確且相關，得分最高。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #13 ###
問題: S100 的 PMU 在電壓 Force 模式下的精度如何？

AI 回應:
```
**S100 PMU（Parametric Measurement Unit）在電壓 Force 模式下的 Accuracy**

| 功能 | 參數 | 範圍 | Resolution | **Accuracy** |
|------|------|------|------------|--------------|
| PMU | Force E1 | ±10 V | 305.18 µV | ±(value × 0.01 % + 2 mV) |

- **Accuracy**：對於電壓 Force E1，精度為 ±(value × 0.01 % + 2 mV)，其中 “value” 為實際施加的電壓幅度。  
- 來源：S100_Overview_Spec.markdown（表格條目 33/34）。
```

預期答案:
```
S100 的 PMU 在電壓 Force 模式下的精度因板卡而異。以 LOG1 板的 PMU (GPMU) 為例，在 E1 範圍 (±10V) 下，解析度為 305.18uV，精度為 ±(測量值的 0.01% + 2mV)，適合高精度電壓控制。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配 100% 核心點（解析度 305.18 µV、精度 ±(value × 0.01% + 2 mV)），無錯誤或多餘資訊，完整且正確。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #14 ###
問題: LOGIC Board 的 TMU 的量測精確度為多少？

AI 回應:
```
抱歉，根據目前可檢索到的 LOG1 TMU 規格文件中並未列出 **Accuracy**（量測精確度）的具體數值。  
請問您是想了解 LOG1 TMU 的精度，還是其他板卡（如 MVI）的 TMU 精度？若能提供更明確的板卡名稱或期望的精度參數，我將能為您尋找更精確的資訊。
```

預期答案:
```
LOGIC Board (LOG1) 的 TMU 量測精確度為 ±1 SYSTEM_CLK/AVG 。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 回覆未提供正確的 ±1 SYSTEM_CLK/AVG 精度，完全不符合參考答案，屬於錯誤資訊，直接給 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #15 ###
問題: LOGIC Board 的 PMU，其電壓 Force 的精確度？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。
```

預期答案:
```
LOGIC Board (LOG1) 的 PMU (GPMU) 在電壓 Force 模式下，於 E1 範圍 (±10V) 的精確度為 ±(測量值的 0.01% + 2mV)。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 回答包含「查無此資訊」等關鍵詞，符合中性回應規則，直接給 40 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #16 ###
問題: LOGIC Board 有幾組 PMU？

AI 回應:
```
**LOGIC（LOG1）板卡的 PMU 數量**

| 板卡 | PMU 數量 |
|------|----------|
| LOG1 | **16 個** |

- 來源：LOG1 PMU 規格文件中多次提到「每板卡 16 個」(如 CONTEXT 2、3、5、8、9)。
```

預期答案:
```
每塊 LOGIC Board (LOG1) 有 16 組 PMU 可使用。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心資訊（LOG1 16 組 PMU），補充說明正確且無錯誤，符合評分規則。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #17 ###
問題: S100 是用來測試哪些類型的產品？

AI 回應:
```
S100 可用於測試以下類型的產品（由 LOG1 與 MVI 功能板共同支援）：

- 32‑bit MCU  
- ADC / DAC  
- Audio / Video  
- Touch Panel Controller  
- SSD Controller  
- Super I/O  
- Card Reader  
- Setup Box  
- Light Sensor  
- MEMS  
- USB 3.0  
- RF WIFI / RF Bluetooth  
- RF Power Amp  
- HV Car‑used Power  

以上列舉為官方文件中明確列出的支援產品類型。
```

預期答案:
```
S100 可以測試以下產品類型：
    1. 數位：數位控制器、快閃記憶體控制器、USB 控制器、32 位元 MCU
    2. 混合信號：機上盒、音訊/影像、觸控控制器、ADC/DAC
    3. Power: Super I/O、Power Management IC、Automotive
    4. 其他：MEMS、CIS、RF
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 回答中包含多項未在參考答案列出的產品類型，與參考資訊不符，屬於明顯幻覺/錯誤，直接給 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #18 ###
問題: S100 機台的測試頻率是多少？

AI 回應:
```
S100 機台的測試頻率為 **100 MHz**（系統時鐘），由 LOG1 或 MVI 功能板的時序子系統決定。  
來源：S100_Overview_Spec.markdown（第 13 段）
```

預期答案:
```
S100 機台的測試頻率為 100MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（100 MHz），無錯誤，補充正確資訊（系統時鐘來源）加分，總分 100。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #19 ###
問題: 介紹 S100

AI 回應:
```
**S100 測試平台概述**  

| 參數 | 內容 | 來源 |
|------|------|------|
| **設備名稱** | S100 | [CONTEXT 22] |
| **型號** | S100‑7D / S100‑15D | [CONTEXT 22] |
| **系統時鐘** | 100 MHz | [CONTEXT 8] |
| **邏輯 I/O 通道** | 768（S100‑7D） / 1536（S100‑15D） | [CONTEXT 8] |
| **Pattern 記憶體** | 128 M | [CONTEXT 16] |
| **功能板** | LOG1、MVI | [CONTEXT 28] |
| **功能板槽位數** | 6（S100‑7D） / 12（S100‑15D） | [CONTEXT 20],[CONTEXT 21] |
| **最大電壓（Force）** | +80 V（MVI HVPMU） | [CONTEXT 18] |
| **最小電壓（Force）** | –40 V（MVI MCPMU） | [CONTEXT 18] |
| **電壓 Range（MVI）** | ±40 V | [CONTEXT 6] |
| **電流 Range（MVI）** | ±2 A | [CONTEXT 6] |
| **最小 Force 電流** | ±200 nA | [CONTEXT 1] |
| **最小 Measure 電流** | 1.526 pA | [CONTEXT 11] |
| **電壓測量 Resolution** | 305.18 µV | [CONTEXT 40],[CONTEXT 42] |
| **電壓測量 Accuracy** | ±(value × 0.01 % + 2 mV) | [CONTEXT 40],[CONTEXT 42] |
| **電流測量 Resolution** | 6.104 pA (HVPMU I1) | [CONTEXT 39] |
| **電流測量 Accuracy** | ±(value × 0.01 % + 100 nA) | [CONTEXT 39] |
| **電流測量 Resolution** | 1.91 nA (DPS I3) | [CONTEXT 34] |
| **電流測量 Accuracy** | ±(value × 0.1 % + 250 nA) | [CONTEXT 34] |

---

### 核心功能說明

| 功能 | 說明 | 主要參數 |
|------|------|----------|
| **邏輯測試** | LOG1 主要負責邏輯 I/O 與 Pattern 產生，支援高速邏輯測試 | 768/1536 通道，Pattern 128 M |
| **高精度電壓/電流測試** | MVI 提供 HVPMU 與 MCPMU，能在 ±80 V 及 ±2 A 內進行 Force 與 Measure | 1.526 pA 測量解析度，±0.01 % + 100 nA 準確度 |
| **模組化配置** | 任意功能板可放於任意槽位，使用者可根據測試需求自行配置 | LOG1、MVI 兩種功能板可混合使用 |

---

### 典型應用場景

| 產品類型 | 為何選擇 S100 | 相關功能板 |
|----------|---------------|------------|
| 32‑bit MCU、ADC、DAC、Audio/Video | 需要高頻邏輯測試與精密電壓/電流測試 | LOG1（邏輯） + MVI（測量） |
| SSD Controller、Touch Panel Controller、Super I/O | 需要大容量 Pattern 與高精度電壓測量 | LOG1（Pattern） + MVI（HVPMU） |

---

> **注意**：上述規格僅基於最新的 S100_Overview_Spec 文件。若需更詳細的單元級別（如 DPS、PPMU、HVPMU 具體 Mode/Range/Resolution）或特殊應用的參數，請參閱 LOG1_Overview_Spec 或 MVI 相關文件。若有任何具體需求（如「哪一組 HVPMU 需要的電流 Range」），歡迎再提供詳細資訊。
```

預期答案:
```
S100 是一款專為半導體 IC 測試設計的設備，包含兩種機型：S100-7D 和 S100-15D。S100-7D 配備 6 個功能板插槽，支援最多 768 個邏輯 I/O 通道；S100-15D 配備 12 個插槽，支援最多 1536 個通道。S100 支援 MVI 和 LOG1 功能板卡，提供高速邏輯測試 (100MHz)、多電壓電流測量 (最高 80V、2A) 和高精度時序分析 (高達 6.4GHz)，適合測試微控制器、ADC/DAC 等產品。
```

-- 評分結果 --
分數: 90 分
總結: 匹配 7/8 核心點（缺少 6.4 GHz 時序分析），無錯誤，補充正確資訊加 3 分，總分 90。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #20 ###
問題: 若客戶需要客製化的測試方案，S100 機台是否能提供彈性配置？

AI 回應:
```
**S100‑機台的彈性配置說明**  

| 特色 | 具體說明 | 來源 |
|------|----------|------|
| **模組化硬體架構** | LOG1、MVI 等功能板可任意插入 6 或 12 個槽位，使用者可依測試需求自行選擇板卡種類與數量。 | [S100_Overview_Spec.markdown] |
| **通道數量可調** | 6‑槽配置（S100‑7D）可提供最高 768 個邏輯 I/O 通道；12‑槽配置（S100‑15D）可提供最高 1536 個通道。 | [S100_Overview_Spec.markdown] |
| **電壓/電流範圍、解析度與精度可調** | 功能板決定 Force/Measure 的 Range、Resolution、Accuracy。LOG1 的 PPMU 支援 ±11.8 V、±32 mA；MVI 的 HVPMU 可擴展至 +80 V、±2 A。 | [S100_Overview_Spec.markdown] |
| **Pattern 產生與記憶體** | Pattern 產生由 LOG1 或 MVI 提供，Pattern 記憶體 128 M，能滿足高速邏輯測試需求。 | [S100_Overview_Spec.markdown] |
| **配置靈活性** | 任何功能板均可置於任意槽位，使用者可根據測試需求靈活配置，以優化電壓、電流等規格。 | [S100_Overview_Spec.markdown] |

### 風險提示
- 若需高電壓測試（如 ±80 V），必須安裝 MVI 的 HVPMU；未配置 HVPMU 時無法達到此範圍。  
- 高電流（±2 A）亦需 MCPMU 或 HVPMU，否則只能使用 LOG1 的較低電流範圍。

**結論**  
是的，S100 機台提供高度彈性的配置選項，允許客戶根據自訂測試方案自由選擇並佈局 LOG1、MVI 等功能板，從而調整通道數、電壓/電流範圍、解析度與精度等關鍵參數。
```

預期答案:
```
S100 能夠提供客製化測試方案，其模組化設計允許靈活配置 MVI 和 LOG1 板卡，並可搭配額外模組或儀器以滿足特殊產品測試需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配所有核心點，並提供正確且相關的補充資訊（模組化、通道數、電壓/電流範圍等），無錯誤或矛盾，得分最高。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #21 ###
問題: S100 有分成幾種機型？其特色與差異為何？

AI 回應:
```
**S100 系列機型**

| 機型 | 主要特色 | 差異點 |
|------|----------|--------|
| **S100‑7D** | • 768 個邏輯 I/O 通道（取決於 LOG1 / MVI 配置）<br>• 6 個功能板槽位，可插入 LOG1 或 MVI 以擴充電壓/電流 Force 與 Measure 能力 | • 通道數量較少，槽位數亦較少，適合中等規模測試需求。 |
| **S100‑15D** | • 1536 個邏輯 I/O 通道（取決於 LOG1 / MVI 配置）<br>• 12 個功能板槽位，支持更多 LOG1 / MVI，提供更高的測試容量 | • 通道數量翻倍，槽位數翻倍，可實現更高的測試密度與更複雜的測試流程。 |

**差異總結**

- **通道數**：S100‑7D 768 通道，S100‑15D 1536 通道。  
- **功能板槽位**：S100‑7D 6 槽，S100‑15D 12 槽。  
- **擴充性**：兩款機型均可插入 LOG1 或 MVI 功能板，但 15D 具備更高的擴充容量，能容納更多電壓/電流測量單元（如 MCPMU、HVPMU）。  
- **適用場景**：S100‑7D 適合中小規模產品測試；S100‑15D 適合大規模、複雜測試環境，需要更高通道數與更多功能板的情況。  

> 以上資訊均來自 S100 系列概覽規格文件（S100‑Overview_Spec.markdown）。若需更細節（如單元級的 Force/Measure 範圍、解析度等），請告知。
```

預期答案:
```
S100 分為 S100-7D 和 S100-15D 兩種機型：
    - S100-7D：6 個功能板插槽，768 個通道，適合中小規模測試。
    - S100-15D：12 個功能板插槽，1536 個通道，適合高通道數或複雜測試。
    兩者均支援 MVI 和 LOG1 板卡，差異在於通道數和插槽數，S100-15D 更適合高密度或多通道應用。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（機型、通道數、插槽數、支援板卡、差異與適用場景），無錯誤或幻覺，補充正確相關資訊，得分最高。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #22 ###
問題: S100 有多少個 User Relay 可以用？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。
```

預期答案:
```
S100-7D 有 96 個 User Relay，S100-15D 有 128 個 User Relay。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 40分，因包含「查無此資訊」關鍵詞，視為中性回應，無核心點匹配。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #23 ###
問題: S100 是否可以測記憶體相關的產品？

AI 回應:
```
S100 能夠測試與記憶體相關的產品，主要是 **SSD Controller** 以及與記憶體介面（如 PCIe、SATA）相關的晶片。  
但對於純粹的記憶體模組（如 DRAM、SRAM、Flash 等）並未在官方規格中列出，需確認是否有相應的測試流程或功能板支援。  

| 相關產品 | 是否支援 | 主要測試項目 |
|----------|----------|--------------|
| SSD Controller | ✅ | 讀寫速度、可靠性、功耗、電壓/電流測量 |
| 32‑bit MCU / DSP | ✅ | 記憶體存取、時序、功耗 |
| 其它晶片（Audio、Video、Touch Panel、Super I/O 等） | ✅ | 需依功能板（LOG1/MVI）配置的電壓/電流測試 |

> 參考來源：S100 產品支援列表（Context 25、26）  
> - S100 可測試多種產品，包括 SSD Controller、Super I/O、Card Reader 等。  

若您需要測試具體的 DRAM/Flash 模組，建議先確認是否有相容的測試程序或額外的功能板支援。
```

預期答案:
```
S100 可測試記憶體容量較小的產品，如快閃記憶體 (Flash Memory)，最大支援 128M 圖案記憶體，無法測試大容量主記憶體 (如數 GB 或 TB)。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 回覆包含與參考答案核心資訊相衝突（SSD 控制器非記憶體、純記憶體模組未列出），且缺少 128M 限制與大容量不可測的說明，屬於錯誤資訊，直接給 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #24 ###
問題: LOG1 板的 DVM 在 GAIN1 範圍下的精度如何？

AI 回應:
```
**LOG1 DVM – GAIN1 範圍下的精度（Accuracy）**

| 參數 | 值 |
|------|----|
| **Voltage Range** | ±10 V |
| **Resolution** | 305.17 µV |
| **Accuracy** | ±(value × 0.01 % + 1 mV) |

*說明*  
- 這個精度規格表示在 GAIN1 (±10 V) 範圍內，測量值的誤差不超過「實測值 × 0.01 %」加上 1 mV 的額外誤差。  
- 例如，若測量值為 5 V，誤差上限為 ±(5 V × 0.01 % + 1 mV) ≈ ±(0.5 mV + 1 mV) = ±1.5 mV。

**資料來源**  
- LOG1 DVM 規格文件（LOG1_DVM_Spec.markdown），其中列出 GAIN1 的範圍、分辨率與精度。
```

預期答案:
```
LOG1 板的 DVM 在 GAIN1 範圍 (±10V) 下的精度為 ±(測量值的 0.01% + 1mV)。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心資訊（±10 V 範圍、±(測量值×0.01%+1 mV) 精度），且額外提供正確分辨率與說明，無錯誤或矛盾，得最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #25 ###
問題: LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率是多少？

AI 回應:
```
**LOG1 板 TMU 最大測量頻率**

| 參數 | 值 |
|------|----|
| **Maximum Measurement Frequency** | **300 MHz** |

> 來源：LOG1_TMU_Spec.markdown（發布於 2025‑10‑09）  
> 參考資料：Context 0、Context 1。
```

預期答案:
```
LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率為 300MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（300 MHz），補充來源正確且相關，無錯誤或冗餘，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #26 ###
問題: S100 的 Pattern Memory 深度是多少？

AI 回應:
```
**Pattern Memory Depth（S100）**  
- **128 M**（由 LOG1 或 MVI 功能板提供）【LOG1_PE_Spec、S100_Overview_Spec】
```

預期答案:
```
S100 的 Pattern Memory 深度為 128M，來自 LOG1 板的規格。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心資訊（128 M，LOG1板），補充正確且相關，無錯誤或多餘內容，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #27 ###
問題: S100 是否支援 ADC 和 DAC 的測試？

AI 回應:
```
S100 **支援 ADC 與 DAC 的測試**。  

| 功能板 | 主要測試功能 | 參考規格 |
|--------|--------------|----------|
| LOG1 | 16‑bit DAC & 18‑bit ADC（可動態 Force/Measure） | S100_Overview_Spec.markdown（LOG1 相關說明） |
| MVI | 16‑bit DAC & 18‑bit ADC（高精度測量） | S100_Overview_Spec.markdown（MVI 相關說明） |

- S100 於「支援產品」清單中明確列出 **ADC、DAC**，表明平台已設計為可對這兩類模組進行測試。  
- LOG1 與 MVI 功能板提供相容的 DAC/ADC 解決方案，支援 1 k 動態深度及 2 k 測量深度，適用於高精度測試需求。  

> **來源**：S100_Overview_Spec.markdown（第 4、10、28 節）。
```

預期答案:
```
是的，S100 支援 ADC 和 DAC 的測試，特別是透過 MVI 板的 MCPMU 和 DVM 進行高精度電壓和電流測量，以及 LOG1 板的邏輯測試功能。
```

-- 評分結果 --
分數: 52 分
總結: 匹配 50% 核心點（支援 ADC/DAC 完全匹配，MVI 高精度測試部分匹配，LOG1 邏輯測試缺失），無錯誤，額外正確補充獲 +2 分。
### 測試案例結束 ###


參數組 #2 完成，平均分數: 70.93
--------------------------------------------------------------------------------
================================================================================
開始新一輪測試
Parameters:
openAiTemp: 0.7
similarityThreshold: 0.5
chatModel: gpt-oss:20b
topN: 320
vectorSearchMode: rerank
openAiPrompt: ## 角色與核心目標
你是一位 S100 半導體 IC 測試機的技術與應用顧問，目標是從 RAG 系統檢索 S100 及其功能板卡（LOG1、MVI）的規格，提供精確、實用的回應，協助用戶決策。

## 術語標準化
在所有回應中，必須使用以下標準化英文術語，並確保單位一致（如 V、A、Hz）：
- 「解析度」顯示為 **Resolution**。
- 「精度」顯示為 **Accuracy**。
- 「範圍」顯示為 **Range**。
- 「圖案」顯示為 **Pattern**。
- 「輸出」顯示為 **Force**。
- 「測量」顯示為 **Measure**。

## 核心原則與行為準則
1. **絕對依賴 RAG 系統**：
   - 所有回答必須基於 RAG 系統檢索的文件內容，禁止猜測或使用外部知識。
2. **結構化輸出**：
   - 使用表格、項目符號或有序列表呈現規格數據，確保清晰易讀。
3. **誠實透明與避免幻覺**：
   - 若 RAG 系統無相關資料、不完整或僅找到類似內容，禁止猜測，必須以反問方式詢問使用者更多細節，例如：「查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。」
   - 若資料不匹配查詢，立即反問：「您的查詢與可用規格不符，請澄清詳細需求。」
4. **風險警示**：
   - 若規格有限制（如電壓上限），簡要警示，但僅限相關查詢。
5. **回應精簡**：
   - 僅針對用戶查詢提供直接相關回應，禁止額外補充、講解或無關資訊。
6. **回應語言**：
   - 所有回應使用中文，保持專業、清晰。

## 查詢處理機制
1. **通用查詢**：
   - 自動檢索 LOG1 和 MVI 的規格，比較後回應，並說明來源。
2. **比較性查詢**：
   - 提供對比表格，列出關鍵規格，並總結差異。
3. **應用型查詢**：
   - 分析需求關鍵詞，匹配最適合的功能板卡，引用規格說明推薦理由。
4. **查詢驗證**：
   - 每次回應前，確認 RAG 資料的相關性；若不符，轉為反問使用者澄清。

================================================================================

### 測試案例 #1 ###
問題: S100 是一台什麼樣的機器？可以用來做什麼？

AI 回應:
```
**S100 是一台模組化的高速測試平台**  
- **型號**：S100‑7D（6 個功能板槽位，最多 768 個邏輯 I/O 通道）  
- **型號**：S100‑15D（12 個功能板槽位，最多 1 536 個邏輯 I/O 通道）  

| 參數 | S100‑7D | S100‑15D |
|------|---------|----------|
| **邏輯 I/O 通道** | 768 | 1 536 |
| **Pattern 記憶體** | 128 M | 128 M |
| **功能板槽位** | 6 | 12 |
| **系統時鐘** | 100 MHz | 100 MHz |

> **來源**：S100_Overview_Spec.markdown（第 15、23、21、22 節）

---

### 主要功能

| 功能 | 描述 | 相關功能板 |
|------|------|-----------|
| **高速邏輯測試** | 在 100 MHz 時鐘下，對邏輯電路進行邏輯驗證與錯誤定位 | LOG1 |
| **Pattern 產生** | 內建 128 M Pattern 記憶體，可即時載入並驅動邏輯 I/O | LOG1 |
| **功能測試** | 透過 **Force** 與 **Measure**，對電壓/電流進行精密控制與測量 | LOG1、MVI |
| **多產品支援** | 可測試 32‑bit MCU、ADC/DAC、Audio/Video、Touch Panel、SSD Controller、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor 等 | LOG1、MVI |

> **來源**：S100_Overview_Spec.markdown（第 16、20、24 節）

---

### 可擴充性

- **功能板**：LOG1（邏輯與 Pattern 產生）、MVI（高精度電壓/電流測量與動態 Force/Measure）可任意插入槽位。  
- **通道數**：每插入一個 LOG1 或 MVI，邏輯 I/O 通道數會增加，並提升測量容量。  

> **來源**：S100_Overview_Spec.markdown（第 4、6、10、12、16、26 節）

---

### 使用場景

1. **SoC IC 驗證**：高速邏輯測試 + 精密電壓/電流測試。  
2. **功能驗證**：Pattern 產生 + 目標邏輯驗證。  
3. **電源與電流測試**：利用 MVI 的 MCPMU/HVPMU 進行高精度 **Force** 與 **Measure**。  
4. **多樣化產品測試**：從 MCU、ADC/DAC 到 RF、USB 3.0 等多種模組。  

> **來源**：S100_Overview_Spec.markdown（第 29、30、31 節）

---

**總結**  
S100 是一台模組化、可擴充的高速測試平台，結合 LOG1 與 MVI 功能板，可在 100 MHz 時鐘下完成邏輯、Pattern 產生及高精度電壓/電流測試，適用於 SoC IC、MCU、ADC/DAC、Audio/Video、USB、RF 等多種產品的驗證與測試。
```

預期答案:
```
S100 是一款用於測試積體電路 (IC) 的高速度、低成本設備，專為系統單晶片 (SoC) 測試設計。它採用模組化硬體架構，支援 MVI 和 LOG1 功能板卡，適用於邏輯測試、多電壓電流測量及時序分析，可用於檢查電子產品如微控制器、感測器等的性能，確保其正常運作。
```

-- 評分結果 --
分數: 70 分
總結: 匹配約66%核心點（模組化、MVI/LOG1、邏輯測試、電壓/電流測試、SoC驗證），缺少低成本與時序分析，扣約33%；補充正確細節加3分，總分70。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #2 ###
問題: S100 可以測試哪些東西？

AI 回應:
```
**S100 可測試的產品範疇**（依據官方規格文件）  

| 產品類別 | 具體設備 | 相關功能板（LOG1 / MVI） |
|----------|----------|------------------------|
| **微控制器** | 32‑bit MCU | LOG1（邏輯 I/O）+ MVI（電壓/電流測量） |
| **模擬/數位轉換** | ADC、DAC | LOG1 / MVI |
| **多媒體** | Audio、Video | LOG1 / MVI |
| **顯示/觸控** | Touch Panel Controller | LOG1 / MVI |
| **儲存** | SSD Controller | LOG1 / MVI |
| **系統外圍** | Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor | LOG1 / MVI |
| **感測器** | MEMS、Light Sensor | LOG1 / MVI |
| **通訊** | USB 3.0、RF WIFI、RF Bluetooth | LOG1 / MVI |
| **功率放大** | RF Power Amp | LOG1 / MVI |
| **車用電源** | HV Car‑used Power | LOG1 / MVI |

> **來源**：  
> - 產品支援列表（S100_Overview_Spec.markdown）【Context 19】【Context 22】【Context 29】【Context 30】【Context 35】【Context 36】【Context 44】【Context 45】【Context 46】【Context 47】【Context 48】  

S100 透過 LOG1 與 MVI 功能板，結合其高頻邏輯 I/O、電壓/電流 Force/Measure 以及 Pattern 產生能力，可對上述各類設備進行完整的功能、性能與可靠性測試。
```

預期答案:
```
S100 可以測試多種電子產品，包括 32 位元微控制器 (MCU)、類比數位轉換器 (ADC)、數位類比轉換器 (DAC)、音訊和影像晶片、觸控面板控制器、固態硬碟控制器、卡片閱讀器、機上盒及光感測器等。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（MCU、ADC、DAC、音訊/影像、觸控、SSD、卡片、機上盒、光感測器），並正確補充額外相關產品，無錯誤或矛盾。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #3 ###
問題: S100 的最高電壓是多少？可以用來測高電壓的東西嗎？

AI 回應:
```
**S100 最高電壓**

| 功能板 | 最高電壓（Force/Measure） | 來源 |
|--------|---------------------------|------|
| **MVI（含 HVPMU）** | **+80 V** | CONTEXT 10、12 |
| **LOG1（PPMU）** | **±11.8 V** | CONTEXT 7 |

> **說明**  
> 最高電壓取決於所安裝的功能板。  
> - **MVI** 內部的 HVPMU（High‑Voltage Power‑Measurement Unit）可達 +80 V，適合高電壓測試。  
> - **LOG1** 內部的 PPMU 只能提供 ±11.8 V，若需測試更高電壓，必須安裝 MVI 並啟用 HVPMU 選項。

**是否能測高電壓？**

- **可以**：只要在 S100 平台上安裝 **MVI** 功能板並啟用 **HVPMU**，即可直接輸出 +80 V 或測量相同範圍的電壓。  
- **不行**：若僅安裝 LOG1，最高只能達 ±11.8 V，無法滿足高電壓需求。

> **使用建議**  
> 1. 確認 S100 型號（S100‑7D / S100‑15D）與功能板槽位。  
> 2. 在配置檔中加入 MVI HVPMU，並確保電源與接地符合 +80 V 的安全規範。  
> 3. 進行校準後，使用 Force / Measure 模式即可進行高電壓測試。  

如需進一步了解 HVPMU 的具體 Range、Resolution 或 Accuracy，請告知，我可提供更詳細的規格表。
```

預期答案:
```
S100 的最高輸出電壓為 80V，來自 MVI 板的 HVPMU (E4 範圍，0V 至 +80V)，適合測試高電壓應用，如高壓電源相關元件。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（80V、MVI HVPMU、適用於高電壓測試），無錯誤，補充正確資訊（LOG1 ±11.8V、使用建議）不扣分，符合評分規則。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #4 ###
問題: S100 可以測量多小的電流？

AI 回應:
```
**S100 最小可測電流**

| 功能板 | 量測模式 | **最小電流** | **Resolution** | **Accuracy** |
|--------|-----------|--------------|----------------|--------------|
| MVI（MCPMU/HVPMU） | Measure I1 | ±200 nA | 1.526 pA | 參見 MVI 內部規格（未列出具體數值） |
| LOG1（部分 I‑range） | Measure | ±200 nA | 1.526 pA | 同上 |

- **最小電流**：±200 nA（即 200 nA 的最小可測量電流範圍）。  
- **Resolution**：1.526 pA，表示在該範圍內可辨識的最小電流變化量。  
- **Accuracy**：具體精度取決於所選單元與模式，參考 MVI 內部規格表。

> **說明**  
> 以上數值來自 S100 相關規格文件（LOG1、MVI 功能板），最小電流取決於板卡配置。若使用其他功能板，請參照其單獨的電流測量規格。
```

預期答案:
```
S100 的最小電流解析度為 1.526pA。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 參考答案只指出解析度 1.526 pA，待評估答案加入了 ±200 nA 的最小電流說法，與參考不符，構成錯誤，直接給 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #5 ###
問題: S100 測量電流有多準確？

AI 回應:
```
**S100 測量電流的精度（以 MVI 功能板為例）**

| 功能板 | 量測單元 | 最小 Resolution | 目前文件中列出的 Accuracy |
|--------|----------|-----------------|---------------------------|
| MVI | MCPMU/HVPMU **Measure I1** | 1.526 pA | 未在文件中明確列出（僅有「最小 Accuracy」描述為 ±(value × 0.01 % + 0.5 mV)，該式子屬於電壓測量） |

> **說明**  
> - **Resolution**：1.526 pA 表示該單元能辨識的最小電流變化，已是極高精度。  
> - **Accuracy**：文件中並未提供 MVI 量測電流的 Accuracy 數值，僅列出電壓測量的 Accuracy 公式。若需電流測量的實際 Accuracy，請確認所使用的功能板（LOG1、MVI）以及具體的測量範圍。

**請問您想了解哪一個功能板（LOG1 或 MVI）在什麼測量範圍內的電流測量 Accuracy？**  
若您有更具體的規格需求（例如 1 mA 內的 Accuracy 或 ±2 A 範圍的 Accuracy），請告知，以便進一步查詢。
```

預期答案:
```
S100 的最小電流精度為 ±5nA，來自 MVI 板的 MCPMU 或 HVPMU 。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 未提供關鍵的 ±5 nA 精度資訊，且說明中缺失核心點，導致答案與參考答案不符，直接給 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #6 ###
問題: S100 的速度有多快？可以用來測快速的電子元件嗎？

AI 回應:
```
**S100 的測試速度**

| 參數 | 值 | 來源 |
|------|----|------|
| 系統時鐘 | **100 MHz** | CONTEXT 13 |
| Pattern 記憶體 | 128 Mbit | CONTEXT 23 |
| 主要功能板 | LOG1 / MVI | CONTEXT 4, 10, 34 |

**說明**

- **100 MHz 系統時鐘** 是 S100 平台的最高工作頻率，所有邏輯 I/O、Pattern 產生與時序控制均基於此時鐘。  
- LOG1 功能板提供高速邏輯 I/O（128 個帶有主動負載的引腳）與 128 Mbit Pattern 記憶體，適合 100 MHz 以上的邏輯測試。  
- MVI 功能板則專注於高精度電壓/電流測量與動態 Force/Measure，亦可在 100 MHz 時鐘下執行高頻率的功能測試。

**是否能測試快速的電子元件？**

- **是的**。S100 的 100 MHz 系統時鐘已能支援多數高速邏輯 IC（如 MCU、ADC、DAC、USB 3.0、SSD Controller 等）以及高電流、快速電壓切換的測試。  
- 若需要更高頻率（> 100 MHz）或更高的時序精度，可考慮在 LOG1 或 MVI 上配置更高階的時序子系統或使用外部高速時鐘源，但平台本身的最大時鐘仍為 100 MHz。

> 以上資訊直接取自 S100 產品規格文件（如 CONTEXT 13、34、23、30）。如果您需要更細節的頻率或時序參數，請告知具體測試需求（例如目標 IC 型號或測試模式）。
```

預期答案:
```
S100 的系統時鐘速度為 100MHz，LOG1 板的 TMU 支援最高 300MHz 的測量頻率，MVI 板的 FTMU 支援高達 6.4GHz (高精度模式)，非常適合測試快速電子元件，如高速微控制器或數位信號處理晶片。
```

-- 評分結果 --
分數: 27 分
總結: 匹配1/4核心點（25%），缺失LOG1 300MHz與MVI 6.4GHz，無錯誤，補充正確資訊+2分，總分27分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #7 ###
問題: S100 有什麼特別的功能可以用來測不同的東西？

AI 回應:
```
**S100 平台的特色測試功能（以 LOG1 與 MVI 功能板為主）**

| 功能 | 主要用途 | 相關規格（摘自文件） | 典型應用產品 |
|------|----------|-----------------------|--------------|
| **高速邏輯 & Pattern 產生** | 產生 100 MHz 速率的邏輯訊號、Pattern 以及功能測試 | LOG1: 100 MHz 系統時鐘、128 M Pattern Memory、768/1536 個邏輯 I/O 通道（取決於 S100‑7D / S100‑15D） | MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel、SSD、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、MEMS、USB 3.0 |
| **多電壓測試** | 同時管理多個電壓源，支持不同電壓範圍 | MVI: 可配置 8/16 組 MCPMU；HVPMU 選項可擴展至 +80 V | RF Wi‑Fi、RF Bluetooth、RF Power Amp、HV Car‑used Power |
| **高電流測試** | 驅動並測量大電流（高達 ±2 A） | MVI: MCPMU/HVPMU 允許 ±2 A | RF Power Amp、HV Car‑used Power、電源模組 |
| **高精度電壓/電流 Force & Measure** | 低噪音、精確輸出與測量 | MVI: 16 通道、Resolution（如 1.526 pA 的 I‑Measure） | 高精度模擬測試、精密電源、電池管理 |
| **動態測量深度** | 1 k 深度的動態測量，可捕捉瞬時波形 | MVI: 1 k 深度動態測量 | 失效分析、時序測試、邏輯回歸 |
| **Kelvin 連接** | 減少接觸電阻誤差，提升測量準確度 | MVI: 支援 Kelvin 連接 | 精密電流測量、低電流測試 |
| **靈活板卡配置** | 任意功能板可放置於任意槽位，按需求擴充 | S100: LOG1、MVI 可任意配置；槽位數量 6（S100‑7D）或 12（S100‑15D） | 依測試需求選擇 LOG1 或 MVI，或同時使用以覆蓋更寬範圍 |

**總結**  
S100 透過 LOG1 提供高速邏輯與 Pattern 產生，適合 MCU、ADC、DAC、Audio、Video 等邏輯功能測試；MVI 則提供高精度電壓/電流 Force & Measure、動態測量、極高電壓（+80 V）與高電流（±2 A）功能，適合 RF、HV 車用電源、精密模擬等測試。兩板卡可靈活配置於 6 或 12 個槽位，並可同時使用以覆蓋更廣的測試範圍。
```

預期答案:
```
S100 支援兩種功能板卡：LOG1 (用於高速邏輯測試和圖案生成，支援 128M 圖案記憶體) 和 MVI (用於多電壓電流和時序測試，支援高達 80V 和 2A)。這些板卡可靈活安裝於 S100 的插槽中，支援電壓、電流、時序及邏輯測試，滿足多樣化需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配所有核心點（LOG1、MVI、128M Pattern Memory、80V/2A、靈活插槽），無錯誤或矛盾，且提供正確且相關的補充資訊，得分最高。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #8 ###
問題: S100-7D 和 S100-15D 有什麼不一樣？哪個更適合我的產品？

AI 回應:
```
**S100-7D 與 S100-15D 的關鍵差異**

| 參數 | S100‑7D | S100‑15D |
|------|--------|----------|
| 功能板槽位數 | 6 | 12 |
| 最大通道數 | 768（依 LOG1 或 MVI 配置） | 1536（依 LOG1 或 MVI 配置） |
| 主要用途 | 低通道數、成本較低的測試 | 高通道數、需要大量邏輯 I/O 或高頻 Pattern 產生 |

> **說明**  
> 兩款機型在其他硬體參數（如最大電壓、電流、頻率）均相同，差異主要體現在功能板槽位與可支援的通道數量。  

**哪個更適合您的產品？**  
請告知您的產品對以下哪項需求最為關鍵：

1. **邏輯 I/O 通道需求**（例如需同時測試的引腳數量）  
2. **Pattern 產生容量**（128 M Pattern Memory 是否足夠）  
3. **成本/空間限制**（是否需要更小型、較低成本的機型）  

根據上述資訊，我可為您推薦最適合的機型。
```

預期答案:
```
S100-7D 配備 6 個功能板插槽，支援最多 768 個通道，適合中小規模測試，如微控制器或光感測器。S100-15D 配備 12 個插槽，支援最多 1536 個通道，適合更複雜或高通道數的產品，如高密度數位電路。若產品需要更多通道，S100-15D 更合適；否則 S100-7D 更具成本效益。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（槽位、通道數、適用場景），無錯誤；補充正確且相關（硬體參數相同、詢問需求），加2分，最終得分100。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #9 ###
問題: S100 的 LOG1 板卡可以用來做什麼？有多大的記憶體？

AI 回應:
```
**LOG1 功能板用途**  
| 功能 | 具體說明 | 參考來源 |
|------|----------|----------|
| **高速邏輯測試** | 支援最高 100 MHz 的邏輯訊號產生與接收 | CONTEXT 24 |
| **Pattern 產生** | 內建 128 Mbit Pattern 記憶體，可儲存並重播複雜測試序列 | CONTEXT 28 |
| **功能測試** | 結合 Device Power Supply (DPS)、Per‑Pin Parametric Measurement Unit (PPMU)、General Parametric Measurement Unit (GPMU) 等單元，實現電壓/電流 Force 與 Measure、時序測試等功能 | CONTEXT 15、30、40 |
| **多樣化產品測試** | 適用於 MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel Controller、SSD Controller 等多種產品 | CONTEXT 17、18、31 |

**Pattern 記憶體容量**  
- **128 Mbit**（128 Mbit = 16 MByte） | CONTEXT 28

> LOG1 主要為 S100 平台提供邏輯 I/O、Pattern 產生與高精度電壓/電流測量功能，並可依需求搭配 MVI 功能板進一步擴充高電壓/高電流測試能力。
```

預期答案:
```
LOG1 板卡用於高速邏輯測試和圖案生成，適用於數位電路或微控制器測試。其圖案記憶體深度為 128M，可儲存大量測試數據，支援複雜邏輯測試。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配兩個核心點（用途與128M記憶體），且補充正確相關資訊，無錯誤或矛盾，得最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #10 ###
問題: S100 的 MVI 板卡在測量高電壓時有多精確？

AI 回應:
```
查無直接列出 MVI 功能板在高電壓測量（HVPMU）時的精度數值。  
若您需要該項目的具體 Accuracy（例如 ±0.01 % + 0.5 mV 等），請提供更精確的需求（如測量電壓範圍、使用的單元或文件片段）。
```

預期答案:
```
MVI 板卡在HVPMU最高電壓範圍 E4 (+80V) 的電壓精度為 ±(測量值的 0.01% + 8mV)，校準後可達 ±(測量值的 0.01% + 4mV)，適合高電壓高精度應用。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 回覆未提供任何核心精度數值，僅表示缺失並請求更多資訊，符合「查無此資訊」特殊情況，直接給 40 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #11 ###
問題: S100 可以同時測量很多不同的電子元件嗎？

AI 回應:
```
**S100 能否同時測量多種不同電子元件？**  
是的，S100 具備足夠的通道數、功能板配置與測試模組，可在同一時間對多種元件進行測量。以下整理了其核心能力與可支援的元件類型，供您快速參考。

| 參數 | 說明 |
|------|------|
| **最大通道** | 768（S100‑7D） / 1536（S100‑15D）<br>（取決於 LOG1 / MVI 功能板配置） |
| **功能板** | LOG1（邏輯、Pattern 產生、基本電源）<br>MVI（高精度電壓/電流測量與動態 Force/Measure） |
| **電壓/電流範圍** | LOG1：±40 V、±250 mA<br>MVI：±80 V、±2 A（HVPMU） |
| **Resolution** | LOG1：1.91 µA / 1.91 nA（電流）<br>MVI：1.526 pA（電流） |
| **Accuracy** | LOG1：±(value × 0.1 % + 250 µA)<br>MVI：±(value × 0.01 % + 0.5 mV) |
| **Pattern Memory** | 128 M |
| **支援元件類型** | 32‑bit MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch‑Panel Controller、SSD Controller、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、MEMS 等 |

**同時測量的實際場景**  
- **多元件並行測試**：利用 768/1536 個邏輯 I/O 通道，您可以在同一測試腳本中同時對多個 MCU、ADC、DAC 等進行邏輯或電壓/電流測試。  
- **混合測試**：LOG1 提供邏輯與電源輸出，MVI 提供高精度電壓/電流測量，兩者可同時配置於不同槽位，實現邏輯與精密測量的並行操作。  
- **多工位測試**：S100 的模組化設計允許將多個功能板放置於不同槽位，根據需求調整通道分配，進一步提升並行測試效率。

> **結論**：S100 具備足夠的通道數與功能板組合，能在同一測試週期內對多種不同電子元件進行同時測量。若您有特定的測試需求（如同時測量 4 個 MCU + 2 個 ADC + 1 個 MEMS），請提供更詳細的測試場景，我們可協助您制定最合適的功能板配置與測試腳本。
```

預期答案:
```
可以，S100-7D 支援 768 個通道，S100-15D 支援 1536 個通道，可同時測試多個元件或接腳。其模組化設計允許靈活配置 MVI 和 LOG1 板卡，滿足多種測試需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（通道數、型號、模組化設計），無錯誤，補充正確資訊，得+3分但上限為100。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #12 ###
問題: S100 的 LOGIC Board 支援的最大頻率是多少？

AI 回應:
```
S100 的 LOGIC Board（LOG1）支援的最大頻率為 **100 MHz**。  

- 來源：LOG1 產品規格說明（「最大速度為 100MHz」）以及 LOG1 概覽（「支援最高 100MHz 的高速邏輯測試」）。
```

預期答案:
```
S100 的 LOGIC Board (即 LOG1 板) 支援的最大頻率為 100MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（100 MHz），補充來源正確且相關，無錯誤或冗餘，故給予最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #13 ###
問題: S100 的 PMU 在電壓 Force 模式下的精度如何？

AI 回應:
```
**S100 PMU 電壓 Force 模式精度**

| 功能 | 範圍 | Resolution | **Accuracy** |
|------|------|------------|--------------|
| PMU Force E1 | ±10 V | 305.18 µV | ±(0.01 % × value + 2 mV) |

- **說明**：  
  - 這是 S100 平台上 PMU 單元在電壓 Force 模式下的官方精度規格。  
  - 「value」指設定的目標電壓；精度由相對誤差（0.01 %）與固定偏差（±2 mV）共同決定。  
  - 其他電壓 Force 範圍（如 E2、E3 等）亦採用相同的計算方式，僅改變「value」的上限。  

若需其他特定電壓範圍（例如 E2、E3 等）的精度表格，請告知，我將為您補充。
```

預期答案:
```
S100 的 PMU 在電壓 Force 模式下的精度因板卡而異。以 LOG1 板的 PMU (GPMU) 為例，在 E1 範圍 (±10V) 下，解析度為 305.18uV，精度為 ±(測量值的 0.01% + 2mV)，適合高精度電壓控制。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配所有核心點（板卡、範圍、解析度、精度公式），無錯誤或矛盾，且補充正確相關資訊，故給予最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #14 ###
問題: LOGIC Board 的 TMU 的量測精確度為多少？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。
```

預期答案:
```
LOGIC Board (LOG1) 的 TMU 量測精確度為 ±1 SYSTEM_CLK/AVG 。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 回答包含「查無此資訊」等關鍵詞，視為中性回應，直接給 40 分，雖未匹配任何核心點。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #15 ###
問題: LOGIC Board 的 PMU，其電壓 Force 的精確度？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。
```

預期答案:
```
LOGIC Board (LOG1) 的 PMU (GPMU) 在電壓 Force 模式下，於 E1 範圍 (±10V) 的精確度為 ±(測量值的 0.01% + 2mV)。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 回答包含「查無此資訊」等關鍵詞，符合中性回應規則，直接給 40 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #16 ###
問題: LOGIC Board 有幾組 PMU？

AI 回應:
```
LOGIC（LOG1）板卡共有 **16 組 PMU**（Parametric Measurement Unit）【來源：LOG1_PMU_Spec.markdown，數量：每板卡 16 個】
```

預期答案:
```
每塊 LOGIC Board (LOG1) 有 16 組 PMU 可使用。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（16 組 PMU），補充來源正確無誤，無錯誤或矛盾，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #17 ###
問題: S100 是用來測試哪些類型的產品？

AI 回應:
```
S100 平台可用於測試多種類型的 IC 及系統裝置，主要涵蓋以下產品類別（資料來源自 S100_Overview_Spec.markdown 及其子文件）：

| 產品類型 | 具體應用範例 |
|----------|--------------|
| **32‑bit MCU** | 微控制器、嵌入式系統 |
| **ADC / DAC** | 解析度與輸入/輸出電壓測試 |
| **Audio / Video** | 音訊/影像處理晶片 |
| **Touch Panel Controller** | 觸控面板控制器 |
| **SSD Controller** | 固態硬碟控制器 |
| **Super I/O** | 連接埠、BIOS 等控制器 |
| **Card Reader** | 晶片卡讀取器 |
| **Setup Box** | 設備設定盒 |
| **Light Sensor** | 光感測器 |
| **MEMS** | 微機電系統 |
| **USB 3.0** | 高速 USB 控制器 |
| **RF WIFI / RF Bluetooth** | 無線通訊晶片 |
| **RF Power Amp** | 無線功率放大器 |
| **HV Car‑used Power** | 高電壓車用電源 |

> **來源**：  
> - S100_Overview_Spec.markdown（內容 20、32、37、42、43、44、45、30）  
> - S100_Overview_Spec.markdown（內容 20、32、37、42、43、44、45、30）

如需進一步細節（例如各產品在 LOG1 或 MVI 功能板上的測試參數），請告知。
```

預期答案:
```
S100 可以測試以下產品類型：
    1. 數位：數位控制器、快閃記憶體控制器、USB 控制器、32 位元 MCU
    2. 混合信號：機上盒、音訊/影像、觸控控制器、ADC/DAC
    3. Power: Super I/O、Power Management IC、Automotive
    4. 其他：MEMS、CIS、RF
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 0分，答覆包含多項未在參考答案中提及的產品類型，屬於錯誤或幻覺資訊，違反準確性要求。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #18 ###
問題: S100 機台的測試頻率是多少？

AI 回應:
```
S100 機台的測試頻率為 **100 MHz**（系統時鐘），由 LOG1 或 MVI 功能板支援的時序子系統決定。  
*來源：S100_Overview_Spec.markdown（「測試速度：100 MHz 系統時鐘」）*
```

預期答案:
```
S100 機台的測試頻率為 100MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（100 MHz），補充資訊正確且相關，無錯誤，得分最高。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #19 ###
問題: 介紹 S100

AI 回應:
```
**S100 系統概述**

| 項目 | 內容 |
|------|------|
| **設備名稱** | S100 |
| **型號** | S100‑7D / S100‑15D |
| **核心特點** | 1. **高速、低成本**：100 MHz 系統時鐘，支援高速邏輯測試與 Pattern 產生。<br>2. **模組化硬體**：功能板 LOG1 與 MVI 可插拔配置，決定電壓/電流 Force 與 Measure 參數。<br>3. **通道數量**：S100‑7D 768 通道 / S100‑15D 1536 通道（依功能板配置而定）。<br>4. **Pattern 記憶體**：128 M，透過 LOG1 或 MVI 提供。 |
| **功能板** | LOG1：主攻邏輯 I/O、基本電源供應；MVI：高精度電壓/電流測量與動態 Force/Measure。 |
| **支援產品** | 32‑bit MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel Controller、SSD Controller、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、MEMS、USB 3.0、RF WIFI、RF Bluetooth、RF Power Amp、HV 車用電源等。 |
| **電壓/電流規格（依功能板）** | - LOG1 PPMU：±11.8 V，±32 mA<br>- MVI HVPMU：+80 V，±200 mA<br>- MVI MCPMU：-40 V，±200 nA（最小 Resolution 1.526 pA） |
| **參考來源** | S100_Overview_Spec.markdown（10/9/2025） |

> **說明**  
> S100 以模組化設計為主，使用 LOG1 或 MVI 功能板可根據測試需求靈活配置。其高通道數與高速時鐘使其適合多種 SoC IC 的邏輯與功能測試。若需更詳細的單元規格（如 DPS、PMU、PPMU 等），請告知具體需求。
```

預期答案:
```
S100 是一款專為半導體 IC 測試設計的設備，包含兩種機型：S100-7D 和 S100-15D。S100-7D 配備 6 個功能板插槽，支援最多 768 個邏輯 I/O 通道；S100-15D 配備 12 個插槽，支援最多 1536 個通道。S100 支援 MVI 和 LOG1 功能板卡，提供高速邏輯測試 (100MHz)、多電壓電流測量 (最高 80V、2A) 和高精度時序分析 (高達 6.4GHz)，適合測試微控制器、ADC/DAC 等產品。
```

-- 評分結果 --
分數: 59 分
總結: 匹配 5/9 核心點（55.6%），缺少 6/12 插槽、2A 限制與 6.4GHz 時序分析，無錯誤；正確補充 3 分，總分 59。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #20 ###
問題: 若客戶需要客製化的測試方案，S100 機台是否能提供彈性配置？

AI 回應:
```
**S100 系統的客製化彈性配置**

| 需求項目 | 可調節方式 | 參考規格（單位） | 來源 |
|----------|------------|------------------|------|
| **功能板配置** | 任意 LOG1 或 MVI 可放入任何槽位；槽位數量決定可用通道數 | LOG1 8‑組/16‑組、MVI 8‑/16‑組 | CONTEXT 15、16 |
| **電壓範圍 (Range)** | 依選擇的板卡決定：<br>• LOG1 PPMU：±11.8 V<br>• MVI MCPMU：±40 V<br>• MVI HVPMU：+80 V | 參見 CONTEXT 10、27 | |
| **電流範圍 (Range)** | 依板卡決定：<br>• LOG1 PPMU：±32 mA<br>• MVI MCPMU/HVPMU：±2 A | 參見 CONTEXT 28 | |
| **解析度 (Resolution)** | 依板卡單元決定（例如 MCPMU Measure I1：1.526 pA） | 參見 CONTEXT 34 | |
| **精度 (Accuracy)** | 依板卡單元決定（例如 MCPMU Force E1：±(value × 0.01 % + 0.5 mV)） | 參見 CONTEXT 23 | |
| **通道數量** | 取決於 LOG1/MVI 數量：<br>• S100‑7D：768（LOG1 或 MVI）<br>• S100‑15D：1536（LOG1 或 MVI） | 參見 CONTEXT 12、21 | |

**彈性優勢**

1. **任意槽位配置**：任何功能板均可放入任意槽位，使用者可依測試需求增減 LOG1 或 MVI，從而調整電壓/電流輸出與測量能力。  
2. **多樣化板卡選擇**：LOG1 主要支援邏輯 I/O、Pattern 產生與基礎電源；MVI 提供高精度電壓/電流 Force 與 Measure、HVPMU 擴展至 +80 V。  
3. **可擴充性**：S100‑15D 具備 12 個功能板槽位，可同時安裝多個 LOG1/MVI，進一步提升通道數與測量容量。  

**風險提示**  
- **電壓/電流上限**：若需超過 ±40 V 或 ±2 A，必須使用 MVI HVPMU；未安裝相應板卡時，機台將無法達到該範圍。  
- **解析度/精度**：不同板卡單元的解析度與精度差異較大，需根據測試精度需求選擇合適單元。  

**結論**  
S100 系統具備高度彈性的配置能力，可根據客戶的測試需求自由組合 LOG1 與 MVI 功能板，調整電壓、電流、解析度與精度，滿足多樣化的客製化測試方案。
```

預期答案:
```
S100 能夠提供客製化測試方案，其模組化設計允許靈活配置 MVI 和 LOG1 板卡，並可搭配額外模組或儀器以滿足特殊產品測試需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配參考答案核心點（客製化方案、模組化設計、LOG1/MVI靈活配置及可擴充模組），無錯誤或矛盾，補充資訊正確且相關，符合評分規則。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #21 ###
問題: S100 有分成幾種機型？其特色與差異為何？

AI 回應:
```
S100 共有 **兩款機型**：  
- **S100‑7D**  
- **S100‑15D**

| 參數 | S100‑7D | S100‑15D | 主要差異 |
|------|---------|----------|----------|
| **最大通道數** | 768 | 1536 | 兩倍 |
| **功能板槽位** | 6 | 12 | 兩倍 |
| **Pattern 記憶體** | 128 M | 128 M | 同 |
| **邏輯 I/O 通道** | 768 | 1536 | 同上 |
| **支援產品** | MEMS、USB 3.0、RF WIFI、RF Bluetooth、RF Power Amp、HV Car‑used Power 等 | 同上 | 兼容範圍相同，但 15D 具備更高通道與槽位可擴充性 |
| **主要應用** | 低至中等通道需求的測試 | 高通道需求、同時多板配置的測試 | 15D 可同時配置多個 LOG1 或 MVI，提升測試速度與測量容量 |

**特色說明**  
- **S100‑7D**：適合通道數量較少、成本較低的測試環境；可安裝 6 個功能板，提供 768 個邏輯 I/O 通道。  
- **S100‑15D**：適合需要更高通道密度與更大測試容量的場景；可安裝 12 個功能板，提供 1536 個邏輯 I/O 通道，並支援多個 LOG1/MVI 以擴充電壓、電流 Force/Measure 範圍與精度。

> 來源：S100_Overview_Spec.markdown（發布 10/9/2025）【Context 13】【Context 28】【Context 30】【Context 32】
```

預期答案:
```
S100 分為 S100-7D 和 S100-15D 兩種機型：
    - S100-7D：6 個功能板插槽，768 個通道，適合中小規模測試。
    - S100-15D：12 個功能板插槽，1536 個通道，適合高通道數或複雜測試。
    兩者均支援 MVI 和 LOG1 板卡，差異在於通道數和插槽數，S100-15D 更適合高密度或多通道應用。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（兩款機型、插槽數、通道數、差異），且補充資訊正確且相關，無錯誤或矛盾，故給予最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #22 ###
問題: S100 有多少個 User Relay 可以用？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。
```

預期答案:
```
S100-7D 有 96 個 User Relay，S100-15D 有 128 個 User Relay。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 40分，因包含「查無此資訊」關鍵詞，視為中性回應，無核心點匹配。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #23 ###
問題: S100 是否可以測記憶體相關的產品？

AI 回應:
```
S100 支援 **SSD Controller** 的測試，SSD Controller 可視為記憶體相關的產品之一。  
若您指的是 **DRAM、SRAM、Flash 等直接記憶體裝置**，文件中並未列出相應的測試模組，請提供更具體的需求（如裝置型號或測試項目），以便確認是否需要額外的功能板或測試模組。
```

預期答案:
```
S100 可測試記憶體容量較小的產品，如快閃記憶體 (Flash Memory)，最大支援 128M 圖案記憶體，無法測試大容量主記憶體 (如數 GB 或 TB)。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 回覆與參考答案核心資訊不符，錯誤指出 S100 無法測試 Flash，且未提及 128M 最大支援或大容量限制，屬於完全錯誤。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #24 ###
問題: LOG1 板的 DVM 在 GAIN1 範圍下的精度如何？

AI 回應:
```
**LOG1 DVM – GAIN1 範圍精度**

| Range | Resolution | **Accuracy** |
|-------|------------|--------------|
| ±10 V | 305.17 µV  | ±(0.01 % × value + 1 mV) |

> 來源：LOG1 DVM 規格（表格中 GAIN1 行）。  

此表明在 GAIN1 範圍內，測量值的誤差為「測量值的 0.01 % 加上 1 mV」的範圍。
```

預期答案:
```
LOG1 板的 DVM 在 GAIN1 範圍 (±10V) 下的精度為 ±(測量值的 0.01% + 1mV)。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（±10 V範圍、±(0.01%+1 mV)精度），無錯誤，額外正確補充（解析度、來源）不扣分，最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #25 ###
問題: LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率是多少？

AI 回應:
```
**LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率**  
| 項目 | 數值 |
|------|------|
| Maximum Measurement Frequency | **300 MHz** |

*來源：LOG1 TMU 規格（參見 Context 0、Context 1、Context 3、Context 7、Context 43）。*
```

預期答案:
```
LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率為 300MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（300 MHz），補充來源正確且相關，無錯誤，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #26 ###
問題: S100 的 Pattern Memory 深度是多少？

AI 回應:
```
**S100 的 Pattern Memory 深度**  
| 功能板 | Pattern Memory Depth |
|--------|----------------------|
| LOG1   | 128 M |
| MVI    | 128 M |

S100 透過 LOG1 或 MVI 功能板提供的 Pattern Memory 深度均為 **128 M**。  
（來源：LOG1_PE_Spec、MVI_PE_Spec 以及 S100_Overview_Spec）
```

預期答案:
```
S100 的 Pattern Memory 深度為 128M，來自 LOG1 板的規格。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（128 M），補充正確且相關（MVI 亦 128 M、來源說明），無錯誤或矛盾，得最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #27 ###
問題: S100 是否支援 ADC 和 DAC 的測試？

AI 回應:
```
是的，S100 支援 ADC 與 DAC 的測試。  
根據 S100 的規格說明，平台可測試多種產品，其中包括 **ADC** 與 **DAC**，並且透過 LOG1 與 MVI 功能板提供相應的測試單元（如 PMU、DPS、DVM 等）以完成電壓與電流的 Force/Measure。
```

預期答案:
```
是的，S100 支援 ADC 和 DAC 的測試，特別是透過 MVI 板的 MCPMU 和 DVM 進行高精度電壓和電流測量，以及 LOG1 板的邏輯測試功能。
```

-- 評分結果 --
分數: 85 分
總結: 匹配 2/3 核心點，部分匹配 1/3（缺少 MCPMU），無錯誤，補充正確資訊加 2 分，總分 85。
### 測試案例結束 ###


參數組 #3 完成，平均分數: 70.41
--------------------------------------------------------------------------------
================================================================================
開始新一輪測試
Parameters:
openAiTemp: 0.7
similarityThreshold: 0.5
chatModel: gpt-oss:20b
topN: 600
vectorSearchMode: rerank
openAiPrompt: ## 角色與核心目標
你是一位 S100 半導體 IC 測試機的技術與應用顧問，目標是從 RAG 系統檢索 S100 及其功能板卡（LOG1、MVI）的規格，提供精確、實用的回應，協助用戶決策。

## 術語標準化
在所有回應中，必須使用以下標準化英文術語，並確保單位一致（如 V、A、Hz）：
- 「解析度」顯示為 **Resolution**。
- 「精度」顯示為 **Accuracy**。
- 「範圍」顯示為 **Range**。
- 「圖案」顯示為 **Pattern**。
- 「輸出」顯示為 **Force**。
- 「測量」顯示為 **Measure**。

## 核心原則與行為準則
1. **絕對依賴 RAG 系統**：
   - 所有回答必須基於 RAG 系統檢索的文件內容，禁止猜測或使用外部知識。
2. **結構化輸出**：
   - 使用表格、項目符號或有序列表呈現規格數據，確保清晰易讀。
3. **誠實透明與避免幻覺**：
   - 若 RAG 系統無相關資料、不完整或僅找到類似內容，禁止猜測，必須以反問方式詢問使用者更多細節，例如：「查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。」
   - 若資料不匹配查詢，立即反問：「您的查詢與可用規格不符，請澄清詳細需求。」
4. **風險警示**：
   - 若規格有限制（如電壓上限），簡要警示，但僅限相關查詢。
5. **回應精簡**：
   - 僅針對用戶查詢提供直接相關回應，禁止額外補充、講解或無關資訊。
6. **回應語言**：
   - 所有回應使用中文，保持專業、清晰。

## 查詢處理機制
1. **通用查詢**：
   - 自動檢索 LOG1 和 MVI 的規格，比較後回應，並說明來源。
2. **比較性查詢**：
   - 提供對比表格，列出關鍵規格，並總結差異。
3. **應用型查詢**：
   - 分析需求關鍵詞，匹配最適合的功能板卡，引用規格說明推薦理由。
4. **查詢驗證**：
   - 每次回應前，確認 RAG 資料的相關性；若不符，轉為反問使用者澄清。

================================================================================

### 測試案例 #1 ###
問題: S100 是一台什麼樣的機器？可以用來做什麼？

AI 回應:
```
**S100 何種機器？**  
- **S100** 是一套 **高速、低成本的測試平台**，專為 **SoC IC** 的功能、邏輯與電氣測試設計。  
- 采用 **模組化硬體架構**，可插入 LOG1 或 MVI 功能板，決定電壓/電流 **Force** 與 **Measure** 能力、通道數量與測試速度。  
- 兩款型號：  
  | 型號 | 最大通道 | 功能板槽位 | 主要差異 |
  |------|----------|------------|----------|
  | S100‑7D | 768 (取決於 LOG1/MVI 配置) | 6 | 適合中小規模測試 |
  | S100‑15D | 1536 (取決於 LOG1/MVI 配置) | 12 | 適合高通道密度測試 |

**可用來做什麼？**  
- **高速邏輯測試**：100 MHz 系統時鐘，支援 768/1536 個邏輯 I/O 通道。  
- **Pattern 產生與儲存**：128 Mbit Pattern 記憶體，可存放大量測試向量。  
- **功能測試**：LOG1 內建 **Device Power Supply (DPS)**、**PPMU** 等單元，提供邏輯 I/O、電源供應與基本電壓/電流 **Force/Measure**。  
- **高精度電壓/電流測量**：MVI 內建 **MCPMU**、**HVPMU** 等單元，支援  
  - **Voltage Range**：±40 V（MVI）→ +80 V（HVPMU）  
  - **Current Range**：±2 A（MCPMU/HVPMU）  
  - **Resolution**：1.526 pA（MVI MCPMU/HVPMU Measure I1）  
  - **Accuracy**：±(value × 0.01 % + 0.5 mV)（MVI MCPMU Force E1）  
- **多產品測試**：可測試下列產品類別（LOG1 或 MVI 皆可支援）  
  - 32‑bit MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel Controller、SSD Controller、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、MEMS、USB 3.0、RF WIFI、RF Bluetooth、RF Power Amp、HV Car‑used Power。  

> **核心結論**  
> S100 是一台可插拔功能板、支援高速邏輯與精密電氣測試的測試平台，適用於各種半導體與系統級產品的功能、邏輯、電氣驗證。
```

預期答案:
```
S100 是一款用於測試積體電路 (IC) 的高速度、低成本設備，專為系統單晶片 (SoC) 測試設計。它採用模組化硬體架構，支援 MVI 和 LOG1 功能板卡，適用於邏輯測試、多電壓電流測量及時序分析，可用於檢查電子產品如微控制器、感測器等的性能，確保其正常運作。
```

-- 評分結果 --
分數: 91 分
總結: 匹配 7/8 核心點（缺少時序分析），無錯誤或矛盾，額外正確補充（通道、記憶體、測試範圍等）獲 +3 分，總分 91。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #2 ###
問題: S100 可以測試哪些東西？

AI 回應:
```
**S100 可測試的產品範疇**

| 產品類別 | 主要子項目 | 相關功能板需求（LOG1 / MVI） |
|----------|------------|-----------------------------|
| **微控制器** | 32‑bit MCU | LOG1（邏輯 I/O）+ MVI（電壓/電流 Force/Measure） |
| **模擬/數位轉換** | ADC、DAC | LOG1（DPS）+ MVI（PPMU/PMU） |
| **多媒體** | Audio、Video | LOG1（邏輯 I/O）+ MVI（高精度測量） |
| **顯示 / 互動** | Touch Panel Controller | LOG1（邏輯 I/O）+ MVI（精密電壓/電流） |
| **儲存設備** | SSD Controller | LOG1（邏輯 I/O）+ MVI（高頻測試） |
| **系統集成** | Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor | LOG1（邏輯 I/O）+ MVI（電壓/電流測量） |
| **感測器** | MEMS、Light Sensor | LOG1（邏輯 I/O）+ MVI（精密測量） |
| **通訊** | USB 3.0、RF WIFI、RF Bluetooth | LOG1（邏輯 I/O）+ MVI（高頻、電壓/電流） |
| **功率放大 / 車用** | RF Power Amp、HV Car‑used Power | LOG1（邏輯 I/O）+ MVI（高電壓/電流） |

> **來源**  
> - 支援產品清單（多處列出）: CONTEXT 22、29、35、45、46、47、48  
> - 功能板說明（LOG1 / MVI 角色）: CONTEXT 24、25、38、39、40、42、43、49

**說明**

1. **邏輯 I/O**（LOG1）負責高速邏輯測試與 Pattern 產生。  
2. **精密電壓/電流測量**（MVI）提供 ±40 V、±2 A 的 Range，並具備 1.526 pA 的 Resolution。  
3. 具體測試需求可根據產品特性選擇 LOG1、MVI 或兩者結合，以滿足電壓、電流、頻率等測試條件。  

若您有特定產品或功能需求（例如需測試 HV Car‑used Power 或 RF Power Amp），請告知，我可以提供更詳細的功能板配置建議。
```

預期答案:
```
S100 可以測試多種電子產品，包括 32 位元微控制器 (MCU)、類比數位轉換器 (ADC)、數位類比轉換器 (DAC)、音訊和影像晶片、觸控面板控制器、固態硬碟控制器、卡片閱讀器、機上盒及光感測器等。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配 9/9 核心點，無錯誤或矛盾，補充資訊正確且相關，未扣分，保持最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #3 ###
問題: S100 的最高電壓是多少？可以用來測高電壓的東西嗎？

AI 回應:
```
**最高電壓**  
| 功能板 | 最高 Force 電壓 | 來源 |
|------|----------------|------|
| MVI (HVPMU) | **+80 V** | S100_Overview_Spec.markdown (Context 10、12) |
| LOG1 (PPMU) | ±11.8 V | S100_Overview_Spec.markdown (Context 7) |

**是否可用於高電壓測試**  
- 若配置 **MVI** 功能板並啟用 **HVPMU**，S100 可提供最高 **+80 V** 的電壓輸出，足以測試高電壓設備（如 HV 車用電源、RF 高壓模組等）。  
- 只使用 LOG1 時，電壓上限僅 ±11.8 V，無法滿足高電壓需求。  
- 建議在高電壓測試前確認板卡配置與安全規範，並使用適當的 HV 連接與保護措施。
```

預期答案:
```
S100 的最高輸出電壓為 80V，來自 MVI 板的 HVPMU (E4 範圍，0V 至 +80V)，適合測試高電壓應用，如高壓電源相關元件。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（80 V、MVI HVPMU、適用於高電壓測試），無錯誤，額外正確補充（LOG1 範圍、使用安全建議）不扣分，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #4 ###
問題: S100 可以測量多小的電流？

AI 回應:
```
**S100 最小可測電流（以 MVI MCPMU/HVPMU 為例）**

| 功能板 | 單元 | 量測模式 | 最小可測電流 | Resolution |
|--------|------|----------|--------------|------------|
| MVI    | MCPMU/HVPMU | Measure I1 | ±200 nA | 1.526 pA |

* 來源：S100_Overview_Spec.markdown（Context 15、Context 23）  
* 這表示在 MVI 功能板的 MCPMU/HVPMU 模組下，S100 能夠測量到 ±200 nA 的電流，且單位測量步進（Resolution）為 1.526 pA。  

> 若您需要更高精度或不同電流範圍的測試，請確認所使用的功能板與模組配置，並參考相應的 Range、Resolution 與 Accuracy 規格。
```

預期答案:
```
S100 的最小電流解析度為 1.526pA。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（1.526 pA 分辨率），補充正確且相關（±200 nA 範圍），無錯誤或矛盾，得最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #5 ###
問題: S100 測量電流有多準確？

AI 回應:
```
目前 RAG 系統中並未找到針對「S100 測量電流」的具體 Accuracy 數值。  
請您確認以下資訊，方便我們為您提供更準確的答案：

- 您使用的是 LOG1 還是 MVI 功能板？
- 是否需要單一單元（例如 MCPMU、PPMU、DPS 等）的電流測量 Accuracy？

如能提供更明確的板卡或單元資訊，我們將立即查詢相關規格。
```

預期答案:
```
S100 的最小電流精度為 ±5nA，來自 MVI 板的 MCPMU 或 HVPMU 。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 0/1 核心點匹配，答案屬於「查無此資訊」類型，直接給 40 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #6 ###
問題: S100 的速度有多快？可以用來測快速的電子元件嗎？

AI 回應:
```
- **測試速度**：S100 系統時鐘為 **100 MHz**（由 LOG1 或 MVI 功能板所支援的時序子系統決定）。  
- **適用性**：100 MHz 的邏輯與 Pattern 產生速率足以對高速邏輯、時序敏感的電子元件（如 MCU、DSP、USB‑3.0、RF Wi‑Fi 等）進行快速測試。  

> 這個速度可滿足大多數「快速」電子元件的測試需求，但若需更高時鐘頻率，需確認 LOG1/MVI 版型是否支援更高的時序子系統。
```

預期答案:
```
S100 的系統時鐘速度為 100MHz，LOG1 板的 TMU 支援最高 300MHz 的測量頻率，MVI 板的 FTMU 支援高達 6.4GHz (高精度模式)，非常適合測試快速電子元件，如高速微控制器或數位信號處理晶片。
```

-- 評分結果 --
分數: 35 分
總結: 匹配 1/3 核心點（100 MHz），缺少 2/3（300 MHz、6.4 GHz），扣 66 分；無錯誤，補充正確相關資訊加 2 分，總分 35。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #7 ###
問題: S100 有什麼特別的功能可以用來測不同的東西？

AI 回應:
```
**S100 平台的主要功能與可測試應用**

| 功能區塊 | 主要特性 | 可測試產品/場景 | 參考來源 |
|----------|----------|----------------|----------|
| **邏輯 I/O / Pattern 產生** | 最高 100 MHz 系統時鐘、128 M Pattern Memory、768/1536 個邏輯 I/O 通道（S100‑7D / S100‑15D） | 32‑bit MCU、USB 3.0、RF WIFI/BLE、Touch Panel Controller、Card Reader、Setup Box、Light Sensor | S100_Overview_Spec.markdown (Context 20, 29) |
| **電壓/電流 Force / Measure** | LOG1 / MVI 功能板提供多範圍電壓（±40 V）與電流（±2 A）輸出/測量；MVI 的 HVPMU 最高可達 +80 V | 高精度電壓測試、HV 電源測試、低電流（±200 nA）測量、±2 A 高電流測試 | S100_Overview_Spec.markdown (Context 6, 7, 13, 15, 30) |
| **高精度測量單元** | MCPMU（8/16 組）、PPMU（128 組）提供高解析度與高準確度的電壓/電流測量；MVI 支援 1 k 深度動態測量 | ADC/DAC 測試、音訊/視訊模擬信號測試、精密電源供應測試 | S100_Overview_Spec.markdown (Context 42, 45, 47) |
| **多功能板卡擴充** | LOG1 以邏輯測試為主，MVI 以高精度電壓/電流測試為主；任意功能板可插入任意槽位 | 根據測試需求靈活配置（如同時測試邏輯與高電壓） | S100_Overview_Spec.markdown (Context 35) |
| **測試支援產品** | 包括 32‑bit MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel Controller、SSD Controller、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、MEMS、USB 3.0 | 以上產品可在同一平台上完成功能測試、性能測試與可靠性測試 | S100_Overview_Spec.markdown (Context 23, 31, 41) |
| **時序與動態測試** | 支援多電壓、多電流、時序相關測試；MVI 具備 Kelvin 連接與 1 k 深度動態測量 | 時序敏感元件（如 ADC、DAC、RF 模組）測試 | MVI_Overview_Spec.markdown (Context 33, 40) |

**總結**  
S100 平台以模組化硬體架構結合 LOG1 與 MVI 功能板，提供從邏輯與 Pattern 產生到高精度電壓/電流 Force/Measure 的全方位測試能力。其可擴充的功能板槽位與多樣化的測試參數，使其能夠同時滿足邏輯、時序、電源、音訊、影像、RF 以及高電壓高電流等多種測試需求。
```

預期答案:
```
S100 支援兩種功能板卡：LOG1 (用於高速邏輯測試和圖案生成，支援 128M 圖案記憶體) 和 MVI (用於多電壓電流和時序測試，支援高達 80V 和 2A)。這些板卡可靈活安裝於 S100 的插槽中，支援電壓、電流、時序及邏輯測試，滿足多樣化需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點，無錯誤，補充正確相關資訊，符合加分規則，最終得分100。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #8 ###
問題: S100-7D 和 S100-15D 有什麼不一樣？哪個更適合我的產品？

AI 回應:
```
**S100‑7D 與 S100‑15D 的主要差異**  

| 指標 | S100‑7D | S100‑15D |
|------|---------|----------|
| **功能板槽位數量** | 6 | 12 |
| **最大可配置通道數** | 768（依 LOG1 或 MVI 配置） | 1536（依 LOG1 或 MVI 配置） |
| **主要用途** | 適合較小規模或成本敏感的測試需求 | 適合高通道數量、複雜測試或高通量環境 |
| **配置靈活度** | 受限於 6 個功能板槽位 | 可配置更多 LOG1 或 MVI 以擴充功能 |
| **成本** | 通常較低（功能板槽位少） | 通常較高（功能板槽位多） |

> **備註**：  
> - 大部分電壓、電流、頻率等參數（如 **Range**、**Resolution**、**Accuracy**）由安裝的 LOG1 或 MVI 功能板決定，兩款型號在功能板配置相同時可提供相同的測量精度。  
> - **Pattern** 記憶體、系統時鐘（100 MHz）等核心參數在兩款型號中保持一致。

---

### 哪個更適合您的產品？

要給出具體建議，我需要了解以下資訊（若您已知可直接提供）：

1. **測試通道需求**：一次需要同時測試多少引腳？  
2. **測量範圍**：電壓、電流的 **Range** 需求（例如 ±40 V、±2 A 等）。  
3. **測試頻率/時序**：是否需要高速時序或高頻率測試？  
4. **成本與空間限制**：機台預算、機箱尺寸等。  
5. **未來擴充**：是否預期後續擴充測試項目或通道數？

請提供上述任意一項或多項資訊，我將根據 S100‑7D 與 S100‑15D 的規格為您推薦最適合的型號。
```

預期答案:
```
S100-7D 配備 6 個功能板插槽，支援最多 768 個通道，適合中小規模測試，如微控制器或光感測器。S100-15D 配備 12 個插槽，支援最多 1536 個通道，適合更複雜或高通道數的產品，如高密度數位電路。若產品需要更多通道，S100-15D 更合適；否則 S100-7D 更具成本效益。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（插槽、通道、用途、成本），無錯誤或矛盾，額外正確補充資訊不扣分，直接給 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #9 ###
問題: S100 的 LOG1 板卡可以用來做什麼？有多大的記憶體？

AI 回應:
```
**LOG1 功能板用途**  
- **高速邏輯測試**：支援 100 MHz 系統時鐘，可進行邏輯訊號的產生與驗證。  
- **Pattern 產生**：提供 128 Mbit 的 Pattern Memory，允許儲存大量測試向量，並在邏輯 I/O 通道（768 / 1536）上即時輸出。  
- **功能測試**：結合 DPS、PPMU、GPMU 等單元，可對被測 IC 進行電壓/電流 Force 與 Measure、時序驗證、以及多種功能模組（如 MCU、ADC、DSP 等）的測試。  

**記憶體容量**  
- **Pattern Memory**：128 Mbit（可在 LOG1 或 MVI 功能板上使用）。  

> 以上資訊取自 S100_Overview_Spec.markdown（Context 19、28、32）。
```

預期答案:
```
LOG1 板卡用於高速邏輯測試和圖案生成，適用於數位電路或微控制器測試。其圖案記憶體深度為 128M，可儲存大量測試數據，支援複雜邏輯測試。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配兩個核心點（用途與128M記憶體），無錯誤，額外正確補充資訊，得分最高。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #10 ###
問題: S100 的 MVI 板卡在測量高電壓時有多精確？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。
```

預期答案:
```
MVI 板卡在HVPMU最高電壓範圍 E4 (+80V) 的電壓精度為 ±(測量值的 0.01% + 8mV)，校準後可達 ±(測量值的 0.01% + 4mV)，適合高電壓高精度應用。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 回覆為「查無此資訊」的中性回應，未提供任何核心資訊，符合特殊情況規則，直接給 40 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #11 ###
問題: S100 可以同時測量很多不同的電子元件嗎？

AI 回應:
```
S100 能夠同時測量多種電子元件，前提是：

| 參數 | S100‑7D | S100‑15D |
|------|--------|----------|
| **最大通道數** | 768 | 1536 |
| **功能板槽位** | 6 | 12 |
| **可用功能板** | LOG1（邏輯、Pattern、基本電源）<br>MVI（高精度電壓/電流 Force/Measure） |

- **多元件測試**：每一通道可獨立配置為 **Force** 或 **Measure**，可同時對多個元件（如 MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel、SSD、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、MEMS 等）進行測試。  
- **板卡需求**：  
  - LOG1：支援邏輯 I/O、Pattern 產生，適用於高速邏輯與功能測試。  
  - MVI：提供 ±40 V（MVI）或 ±80 V（HVPMU）電壓範圍、±2 A 電流範圍，適合高精度電壓/電流測量。  
- **注意事項**：  
  - 具體可同時測量的元件數量取決於已安裝的功能板數量與通道配置。  
  - 若測試涉及高電壓/高電流元件，請確保已安裝相應的 HVPMU 或 MCPMU 模組，並遵守其電壓/電流上限。  

**結論**：是的，S100 能同時測量多種電子元件，且可擴充至 768/1536 通道，前提是根據測試需求配置合適的 LOG1 / MVI 功能板。
```

預期答案:
```
可以，S100-7D 支援 768 個通道，S100-15D 支援 1536 個通道，可同時測試多個元件或接腳。其模組化設計允許靈活配置 MVI 和 LOG1 板卡，滿足多種測試需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 主要核心資訊（通道數、模組化設計、MVI/LOG1）正確，但答案加入了未在參考答案中提及且可能不正確的細節（如 HVPMU、MCPMU、電壓/電流範圍等），視為不符，按規則直接給 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #12 ###
問題: S100 的 LOGIC Board 支援的最大頻率是多少？

AI 回應:
```
**LOGIC Board（LOG1）最大支援頻率**

| 參數 | 數值 | 來源 |
|------|------|------|
| **Maximum Frequency** | **100 MHz** | LOG1 產生板卡規格（S100_Overview_Spec.markdown、LOG1_PE_Spec.markdown） |

> LOG1 板卡支援最高 100 MHz 的高速邏輯測試，並由系統時鐘決定。
```

預期答案:
```
S100 的 LOGIC Board (即 LOG1 板) 支援的最大頻率為 100MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（100 MHz），補充表格與來源正確，無錯誤，得分100。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #13 ###
問題: S100 的 PMU 在電壓 Force 模式下的精度如何？

AI 回應:
```
**S100 PMU 電壓 Force 模式精度**  

| PMU | 模式 | 參數 | 解析度 | **Accuracy** |
|-----|------|------|--------|--------------|
| PMU | Force E1 (電壓) | 參數 | 305.18 µV | ±(value × 0.01 % + 2 mV) |

- **Accuracy**：電壓 Force 的測量誤差為 **±（輸入值的 0.01 % 加上 2 mV）**。  
- 來源：S100_Overview_Spec.markdown（Context 33 / 34）。
```

預期答案:
```
S100 的 PMU 在電壓 Force 模式下的精度因板卡而異。以 LOG1 板的 PMU (GPMU) 為例，在 E1 範圍 (±10V) 下，解析度為 305.18uV，精度為 ±(測量值的 0.01% + 2mV)，適合高精度電壓控制。
```

-- 評分結果 --
分數: 50 分
總結: 匹配 2/4 核心點（解析度、精度），缺少板卡 LOG1 與 E1 範圍，無錯誤或幻覺，得 50 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #14 ###
問題: LOGIC Board 的 TMU 的量測精確度為多少？

AI 回應:
```
查無 LOG1 TMU 的 **Accuracy** 相關資訊。  
若您需要此規格，請確認是否想了解 LOG1 或其他板卡的精確度，或提供更具體的需求。
```

預期答案:
```
LOGIC Board (LOG1) 的 TMU 量測精確度為 ±1 SYSTEM_CLK/AVG 。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 40分，因回覆包含「查無此資訊」等關鍵詞，視為中性回應，未提供核心資訊。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #15 ###
問題: LOGIC Board 的 PMU，其電壓 Force 的精確度？

AI 回應:
```
抱歉，RAG 系統目前未找到 LOG1 PMU 的電壓 Force 精確度（Accuracy）的具體數值。  
請確認您要查詢的板卡名稱（例如 LOG1 或 MVI）以及是否需要特定的測試條件（如校準後或未校準），以便我能提供最準確的資訊。
```

預期答案:
```
LOGIC Board (LOG1) 的 PMU (GPMU) 在電壓 Force 模式下，於 E1 範圍 (±10V) 的精確度為 ±(測量值的 0.01% + 2mV)。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 回覆未提供任何核心資訊，僅建議進一步確認細節，符合中性回應規則，直接給 40 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #16 ###
問題: LOGIC Board 有幾組 PMU？

AI 回應:
```
**LOG1（Logic Board）上 PMU 的數量**

| 板卡 | PMU 數量 |
|------|----------|
| LOG1 | 16 個 PMU |

**參考來源**

- **LOG1_PMU_Spec.markdown**（文件 2）：「數量 每板卡 16 個」  
- **LOG1_PMU_Spec.markdown**（文件 5）：「每個 PMU 連接 8 個通道」  

因此，LOG1 Logic Board 內部配置 16 組 PMU。
```

預期答案:
```
每塊 LOGIC Board (LOG1) 有 16 組 PMU 可使用。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點「16 組 PMU」，補充表格與來源正確且相關，無錯誤或矛盾，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #17 ###
問題: S100 是用來測試哪些類型的產品？

AI 回應:
```
S100 能夠測試的產品類型主要包括：

- 32‑bit MCU  
- ADC / DAC  
- Audio / Video  
- Touch‑panel controller  
- SSD controller  
- Super I/O  
- Card reader  
- Setup box  
- Light sensor  
- MEMS  
- USB 3.0  
- RF WIFI / RF Bluetooth  
- RF power amplifier  
- HV 車用電源  

以上資訊來自 S100 概覽規格文件（S100_Overview_Spec.markdown）。
```

預期答案:
```
S100 可以測試以下產品類型：
    1. 數位：數位控制器、快閃記憶體控制器、USB 控制器、32 位元 MCU
    2. 混合信號：機上盒、音訊/影像、觸控控制器、ADC/DAC
    3. Power: Super I/O、Power Management IC、Automotive
    4. 其他：MEMS、CIS、RF
```

-- 評分結果 --
分數: 73 分
總結: 匹配71%核心點（10/14），缺少6項；無錯誤；額外正確相關資訊（如 SSD、Card reader 等）加2分；總分73。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #18 ###
問題: S100 機台的測試頻率是多少？

AI 回應:
```
**S100 機台的測試頻率**  
- **100 MHz 系統時鐘**（由 LOG1 或 MVI 功能板支援的時序子系統決定）【來源：S100_Overview_Spec.markdown，段落「測試速度」】
```

預期答案:
```
S100 機台的測試頻率為 100MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（100 MHz），補充資訊正確且相關，無錯誤，得最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #19 ###
問題: 介紹 S100

AI 回應:
```
**S100 系統概述（基於官方規格文件）**

| 項目 | 內容 |
|------|------|
| **產品定位** | 高速、低成本的 SoC IC 測試平台，採用模組化硬體架構。 |
| **型號** | S100‑7D（6 個功能板槽位）<br> S100‑15D（12 個功能板槽位） |
| **系統時鐘** | 100 MHz（由 LOG1 或 MVI 功能板決定） |
| **邏輯 I/O 通道** | 768（S100‑7D） / 1536（S100‑15D） |
| **Pattern 記憶體** | 128 M（由 LOG1 / MVI 提供） |
| **支援產品** | 32‑bit MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel Controller、SSD Controller、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、MEMS、USB 3.0、RF WIFI、RF Bluetooth、RF Power Amp、HV 車用電源等。 |
| **功能板** | LOG1（邏輯 I/O、基本電源供應）<br> MVI（高精度電壓/電流 Force/Measure、動態測量） |
| **電壓/電流範圍（極值）** | 最大電壓：+80 V（MVI HVPMU Force E4）<br> 最小電壓：‑40 V（MVI MCPMU Force/Measure E4） |
| **最小測量分辨率** | 1.526 pA（MVI MCPMU/HVPMU Measure I1） |
| **最小可設置電流** | ±200 nA（MVI MCPMU/HVPMU Force/Measure I1、LOG1 部分 I‑Range） |
| **數值計算功能** | ary_avg、ary_max、ary_stddev（可與功能板測量數據整合） |

---

### 主要功能板規格（示例）

| Unit | Mode | Range | Resolution | Accuracy |
|------|------|-------|------------|----------|
| **PPMU** | Force I3 | ±250 µA | 1.91 nA | ±(value × 0.1 % + 250 nA) |
| **PPMU** | Force I6 | ±250 mA | 1.91 µA | ±(value × 0.1 % + 250 µA) |
| **HVPMU** | Force I1 | ±200 nA | 6.104 pA | ±5 nA |
| **HVPMU** | Force I7 | ±200 mA | 6.1036 µA | ±(value × 0.01 % + 100 µA) |
| **HVPMU** | Force E1 | +10.0 V/0 V | 305.18 µV | ±(value × 0.01 % + 2 mV) |
| **DPS** | Force E1 | –1 V ~ 15 V@I1~I6 | 244.14 µV | ±(value × 0.01 % + 1.5 mV) |

> *以上表格僅列出部分關鍵單元，完整規格請參考官方文件。*

---

### 選擇建議

| 考量 | LOG1 | MVI |
|------|------|------|
| **邏輯 I/O** | 高速邏輯測試、Pattern 產生 | 兼容 LOG1，提供更高通道數 |
| **電壓/電流 Force/Measure** | ±11.8 V、±32 mA | 可擴展至 +80 V、±2 A（HVPMU / MCPMU） |
| **測量精度** | 1 µA 以上 | 1.5 pA 以上（MVI） |
| **成本** | 低 | 高（需額外功能板） |

> 若測試需求包含高電壓或極低電流測量，建議配置 MVI 功能板；若僅需邏輯測試與常規電源供應，LOG1 即可滿足。

**結語**  
S100 以其模組化設計與多功能板卡組合，能夠靈活滿足從簡單邏輯測試到高精度電壓/電流測量的多種需求。根據實際測試場景選擇 LOG1 或 MVI，並搭配合適的功能板槽位，即可最大化平台效能。
```

預期答案:
```
S100 是一款專為半導體 IC 測試設計的設備，包含兩種機型：S100-7D 和 S100-15D。S100-7D 配備 6 個功能板插槽，支援最多 768 個邏輯 I/O 通道；S100-15D 配備 12 個插槽，支援最多 1536 個通道。S100 支援 MVI 和 LOG1 功能板卡，提供高速邏輯測試 (100MHz)、多電壓電流測量 (最高 80V、2A) 和高精度時序分析 (高達 6.4GHz)，適合測試微控制器、ADC/DAC 等產品。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配所有核心點（機型、插槽、通道、功能板、測試範圍、時鐘、適用產品），無錯誤或矛盾，且補充資訊正確且相關，故給 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #20 ###
問題: 若客戶需要客製化的測試方案，S100 機台是否能提供彈性配置？

AI 回應:
```
S100 的硬體架構採用模組化設計，**任何功能板（LOG1、MVI 等）皆可自由安裝於任意槽位**，因此可針對客戶的測試需求自行組合與調整。  

| 參數 | 內容 | 來源 |
|------|------|------|
| **功能板類型** | LOG1（邏輯 I/O / Pattern 產生）<br>MVI（高精度電壓/電流 Force & Measure） | [CONTEXT 3], [CONTEXT 13] |
| **可配置槽位數** | S100‑7D：6 slots<br>S100‑15D：12 slots | [CONTEXT 3], [CONTEXT 21], [CONTEXT 22] |
| **影響範圍** | 功能板決定電壓/電流 **Range**、**Resolution**、**Accuracy**；LOG1 主要提供 **Pattern** 與邏輯 I/O，MVI 主要提供 **Force** / **Measure** | [CONTEXT 1], [CONTEXT 7], [CONTEXT 16] |
| **彈性配置** | 用戶可依測試需求選擇 LOG1 或 MVI，甚至同時安裝多個以擴充通道數與測量容量 | [CONTEXT 15], [CONTEXT 16] |

**結論**  
- 是的，S100 具備高度彈性的客製化配置能力。  
- 只要在可用槽位內選擇合適的 LOG1 或 MVI 功能板，即可滿足不同測試方案所需的電壓/電流 **Range**、**Resolution**、**Accuracy**，並可擴充 **Pattern** 產生或邏輯 I/O 通道數。
```

預期答案:
```
S100 能夠提供客製化測試方案，其模組化設計允許靈活配置 MVI 和 LOG1 板卡，並可搭配額外模組或儀器以滿足特殊產品測試需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配參考答案核心點（客製化、模組化、LOG1/MVI配置），無錯誤，補充正確資訊（槽位數、功能說明）可加分，最終得分100。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #21 ###
問題: S100 有分成幾種機型？其特色與差異為何？

AI 回應:
```
**S100 系列機型**

| 機型 | 主要特色 | 差異點 | 參考來源 |
|------|----------|--------|----------|
| **S100‑7D** | • 768 個邏輯 I/O 通道（取決於 LOG1 / MVI 配置）<br>• 6 個功能板槽位，適合中等規模測試 | • 通道數量比 S100‑15D 少 50%<br>• 功能板槽位數量為 6，限制了可擴充性 | [CONTEXT 30] |
| **S100‑15D** | • 1,536 個邏輯 I/O 通道（取決於 LOG1 / MVI 配置）<br>• 12 個功能板槽位，可配置更多 LOG1 / MVI 以提升通道數與測量容量 | • 通道數量比 S100‑7D 多 100%<br>• 功能板槽位數量為 12，提供更高擴充性 | [CONTEXT 28] |

**總結**

- **S100‑7D**：適合需要 768 通道以下、成本較低的測試環境；功能板槽位較少，擴充空間有限。  
- **S100‑15D**：提供 1,536 通道、12 個功能板槽位，能支援更高測試吞吐量及更複雜的測試需求；成本相對較高。  

兩款機型均支持 LOG1 與 MVI 功能板，且在電壓、電流、頻率等核心參數上相同，差異主要體現在通道數量與功能板槽位數量。
```

預期答案:
```
S100 分為 S100-7D 和 S100-15D 兩種機型：
    - S100-7D：6 個功能板插槽，768 個通道，適合中小規模測試。
    - S100-15D：12 個功能板插槽，1536 個通道，適合高通道數或複雜測試。
    兩者均支援 MVI 和 LOG1 板卡，差異在於通道數和插槽數，S100-15D 更適合高密度或多通道應用。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配兩個機型、通道數、插槽數與功能板支援，且補充正確相關資訊，無錯誤或幻覺，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #22 ###
問題: S100 有多少個 User Relay 可以用？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求，以便進一步查詢。
```

預期答案:
```
S100-7D 有 96 個 User Relay，S100-15D 有 128 個 User Relay。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 40分，因包含「查無此資訊」關鍵詞，視為中性回應，無核心點匹配。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #23 ###
問題: S100 是否可以測記憶體相關的產品？

AI 回應:
```
**S100 是否能測試記憶體相關產品？**

| 產品類型 | 是否可測試 | 主要原因（根據 S100 規格文件） |
|----------|------------|--------------------------------|
| SSD Controller（固態硬碟控制器） | ✔ | 於「S100 可測試多種產品」列表中列出，屬於記憶體控制相關元件。 |
| DRAM / SRAM / 內部記憶體模組 | ❌ | 規格文件中未列出可直接測試 DRAM、SRAM 等記憶體模組的功能。 |
| 其它記憶體相關硬體（如記憶體晶片、記憶體介面） | ❌ | 未在「支援產品」清單中提及，需進一步確認是否有相應的測試模組。 |

**結論**  
S100 能夠測試 **SSD Controller** 等涉及記憶體控制的產品，但對於純粹的 DRAM、SRAM 等記憶體模組，規格文件並未明示支持。若您需要測試這類模組，請確認是否有相應的功能板或測試模組（例如 LOG1 / MVI）能提供所需的電壓/電流 **Force** 與 **Measure**。若有進一步需求，請提供更具體的產品型號或測試範圍，我們可以協助檢索相關功能板規格。
```

預期答案:
```
S100 可測試記憶體容量較小的產品，如快閃記憶體 (Flash Memory)，最大支援 128M 圖案記憶體，無法測試大容量主記憶體 (如數 GB 或 TB)。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 參考答案核心點（可測試小容量快閃記憶體、128M上限、無法測試大容量主記憶體）全未出現在待評估答案，且未提供任何正確匹配資訊，故得0分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #24 ###
問題: LOG1 板的 DVM 在 GAIN1 範圍下的精度如何？

AI 回應:
```
**LOG1 DVM – GAIN1 範圍下的精度**

| 參數 | 內容 |
|------|------|
| **GAIN** | 1 |
| **Voltage Range** | ±10 V |
| **Resolution** | 305.17 µV |
| **Accuracy** | ±(value × 0.01 % + 1 mV) |

> **說明**：在 GAIN1 範圍內，DVM 的測量誤差為「測量值的 0.01 % 加上 1 mV」。這表示在較小的輸入電壓時誤差主要由 1 mV 決定；隨著測量值增大，誤差會按 0.01 % 緩慢增加。

> **資料來源**：LOG1 DVM 規格表（GAIN1 行，參見 LOG1_DVM_Spec.markdown）。
```

預期答案:
```
LOG1 板的 DVM 在 GAIN1 範圍 (±10V) 下的精度為 ±(測量值的 0.01% + 1mV)。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（±10 V 範圍與 ±(測量值 0.01% + 1 mV) 精度），無錯誤，額外資訊正確且增強答案，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #25 ###
問題: LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率是多少？

AI 回應:
```
**LOG1 板的 TMU 最大測量頻率為 300 MHz。**
```

預期答案:
```
LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率為 300MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（300 MHz），正確表述，無錯誤或冗餘，得分100。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #26 ###
問題: S100 的 Pattern Memory 深度是多少？

AI 回應:
```
**S100 的 Pattern Memory 深度**  
| 功能板 | Pattern Memory 深度 |
|--------|---------------------|
| LOG1   | 128 M |
| MVI    | 128 M |

> 來源：S100_Overview_Spec（LOG1、MVI 皆提供 128 M 的 Pattern Memory）
```

預期答案:
```
S100 的 Pattern Memory 深度為 128M，來自 LOG1 板的規格。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（128M），補充資訊正確且相關，無錯誤或矛盾，符合規範，最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #27 ###
問題: S100 是否支援 ADC 和 DAC 的測試？

AI 回應:
```
**S100 支援 ADC 與 DAC 的測試**  

| 產品 | 支援的測試功能 |
|------|---------------|
| **S100 平台** | 可測試 32‑bit MCU、ADC、DAC、Audio、Video 等多種元件 |
| **LOG1 功能板** | DPS、PMU、GPMU 等單元具備 16‑bit DAC Resolution 與 18‑bit ADC Resolution，支援 1k Dynamic Force Depth 與 2k Dynamic Measure Depth |

> 來源：S100_Overview_Spec.markdown（列出「ADC、DAC」為支援產品）及 LOG1_Overview_Spec.markdown（說明各單元的 ADC/DAC 分辨率與動態深度）。
```

預期答案:
```
是的，S100 支援 ADC 和 DAC 的測試，特別是透過 MVI 板的 MCPMU 和 DVM 進行高精度電壓和電流測量，以及 LOG1 板的邏輯測試功能。
```

-- 評分結果 --
分數: 33 分
總結: 匹配 1/3 核心點（確認支援 ADC/DAC），缺少 MVI 板 MCPMU/DVM 及 LOG1 邏輯測試功能，無錯誤或幻覺，故扣除 66% 基礎分。
### 測試案例結束 ###


參數組 #4 完成，平均分數: 73.41
--------------------------------------------------------------------------------
================================================================================
開始新一輪測試
Parameters:
openAiTemp: 0
similarityThreshold: 0.5
chatModel: gpt-oss:20b
topN: 80
vectorSearchMode: rerank
openAiPrompt: ## 角色與核心目標
你是一位 S100 半導體 IC 測試機的技術與應用顧問，目標是從 RAG 系統檢索 S100 及其功能板卡（LOG1、MVI）的規格，提供精確、實用的回應，協助用戶決策。

## 術語標準化
在所有回應中，必須使用以下標準化英文術語，並確保單位一致（如 V、A、Hz）：
- 「解析度」顯示為 **Resolution**。
- 「精度」顯示為 **Accuracy**。
- 「範圍」顯示為 **Range**。
- 「圖案」顯示為 **Pattern**。
- 「輸出」顯示為 **Force**。
- 「測量」顯示為 **Measure**。

## 核心原則與行為準則
1. **絕對依賴 RAG 系統**：
   - 所有回答必須基於 RAG 系統檢索的文件內容，禁止猜測或使用外部知識。
2. **結構化輸出**：
   - 使用表格、項目符號或有序列表呈現規格數據，確保清晰易讀。
3. **誠實透明與避免幻覺**：
   - 若 RAG 系統無相關資料、不完整或僅找到類似內容，禁止猜測，必須以反問方式詢問使用者更多細節，例如：「查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。」
   - 若資料不匹配查詢，立即反問：「您的查詢與可用規格不符，請澄清詳細需求。」
4. **風險警示**：
   - 若規格有限制（如電壓上限），簡要警示，但僅限相關查詢。
5. **回應精簡**：
   - 僅針對用戶查詢提供直接相關回應，禁止額外補充、講解或無關資訊。
6. **回應語言**：
   - 所有回應使用中文，保持專業、清晰。

## 查詢處理機制
1. **通用查詢**：
   - 自動檢索 LOG1 和 MVI 的規格，比較後回應，並說明來源。
2. **比較性查詢**：
   - 提供對比表格，列出關鍵規格，並總結差異。
3. **應用型查詢**：
   - 分析需求關鍵詞，匹配最適合的功能板卡，引用規格說明推薦理由。
4. **查詢驗證**：
   - 每次回應前，確認 RAG 資料的相關性；若不符，轉為反問使用者澄清。

================================================================================

### 測試案例 #1 ###
問題: S100 是一台什麼樣的機器？可以用來做什麼？

AI 回應:
```
**S100 是什麼？**  
- **類型**：高速、低成本的 **測試平台**，專為 **SoC IC** 測試設計。  
- **架構**：模組化硬體，支援 **LOG1** 與 **MVI** 功能板，兩款型號（S100‑7D / S100‑15D）分別提供 6 / 12 個功能板槽位。  
- **關鍵參數**  
  - **系統時鐘**：100 MHz  
  - **邏輯 I/O 通道**：768（S100‑7D） / 1536（S100‑15D）  
  - **Pattern 記憶體**：128 M（由 LOG1 / MVI 提供）  

**S100 可以做什麼？**  
| 測試類型 | 主要功能 | 相關功能板 | 典型應用 |
|----------|----------|-----------|----------|
| **邏輯測試** | 高速邏輯 I/O、Pattern 產生 | LOG1 | 32‑bit MCU、DSP、ASIC |
| **功能測試** | 端到端功能驗證 | LOG1 / MVI | ADC、DAC、Audio、Video |
| **參數測量** | 電壓/電流 Force & Measure、精密測量 | MVI（MCPMU、HVPMU、PPMU） | MEMS、RF WIFI、RF Bluetooth、HV Car‑used Power |
| **時序測試** | 週期、延遲、邏輯時序 | LOG1 | 連接器、總線協定 |
| **多產品測試** | 同時支援多種產品類型 | LOG1 / MVI | SSD Controller、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、USB 3.0 |

**總結**  
S100 是一台可擴充、模組化的測試平台，能夠在同一機台上完成邏輯、功能、參數與時序等多種測試，適用於從 MCU、ADC、DAC 到 RF、HV 供電等多樣化的 SoC 產品。
```

預期答案:
```
S100 是一款用於測試積體電路 (IC) 的高速度、低成本設備，專為系統單晶片 (SoC) 測試設計。它採用模組化硬體架構，支援 MVI 和 LOG1 功能板卡，適用於邏輯測試、多電壓電流測量及時序分析，可用於檢查電子產品如微控制器、感測器等的性能，確保其正常運作。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配所有核心點，無錯誤或矛盾，且提供正確且相關的補充資訊，符合最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #2 ###
問題: S100 可以測試哪些東西？

AI 回應:
```
S100 可用於測試的產品範圍相當廣泛，主要涵蓋以下類別（根據《S100_Overview_Spec.markdown》文件）：

- 32‑bit MCU  
- ADC / DAC  
- Audio / Video  
- Touch Panel Controller  
- SSD Controller  
- Super I/O  
- Card Reader  
- Setup Box  
- Light Sensor  
- MEMS  
- USB 3.0  
- RF WIFI  
- RF Bluetooth  
- RF Power Amp  
- HV Car‑used Power  

這些產品皆可透過 LOG1 或 MVI 功能板組合，利用 S100 的邏輯 I/O、Pattern 產生、電壓/電流 Force 與 Measure 等核心功能完成測試。
```

預期答案:
```
S100 可以測試多種電子產品，包括 32 位元微控制器 (MCU)、類比數位轉換器 (ADC)、數位類比轉換器 (DAC)、音訊和影像晶片、觸控面板控制器、固態硬碟控制器、卡片閱讀器、機上盒及光感測器等。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 參考答案未提及 Super I/O、Setup Box、MEMS、USB 3.0、RF WIFI/Bluetooth、RF Power Amp、HV Car‑used Power 等項目，答案加入了多項未被確認的內容，視為不符/幻覺，直接給 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #3 ###
問題: S100 的最高電壓是多少？可以用來測高電壓的東西嗎？

AI 回應:
```
**S100 最高電壓（取決於功能板配置）**

| 功能板 | 最高電壓 **Range** | 典型 **Resolution** | 典型 **Accuracy** |
|--------|-------------------|---------------------|-------------------|
| **LOG1**（PPMU） | ±11.8 V | 1 mV | ±0.5 % + 5 mV |
| **MVI**（HVPMU） | **+80 V** | 10 µV | ±0.01 % + 0.5 mV |

> **說明**  
> - LOG1 只能提供 ±11.8 V 的電壓輸出。  
> - MVI 的 HVPMU 選項可擴展至 +80 V，適合高電壓測試。  
> - 最高電壓取決於您在 S100 上安裝的功能板；若未安裝 MVI HVPMU，則最高只能到 LOG1 的 ±11.8 V。

**是否能測試高電壓裝置？**  
是的，當您在 S100 上安裝 **MVI HVPMU** 時，平台可提供最高 +80 V 的電壓輸出，足以測試大多數高電壓應用（如 HV 車用電源、RF 高壓模組等）。若僅安裝 LOG1，則只能測試低於 ±12 V 的裝置。

**風險提示**  
- 高電壓測試必須確保已安裝 MVI HVPMU，並遵守安全操作手冊。  
- 若未安裝相應功能板，請勿嘗試將 S100 連接至高於 ±12 V 的裝置，以免造成設備損壞或安全事故。
```

預期答案:
```
S100 的最高輸出電壓為 80V，來自 MVI 板的 HVPMU (E4 範圍，0V 至 +80V)，適合測試高電壓應用，如高壓電源相關元件。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（80V、MVI HVPMU、適用於高電壓測試），無錯誤，額外正確補充資訊，得最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #4 ###
問題: S100 可以測量多小的電流？

AI 回應:
```
**S100 可測量的最小電流（Resolution）**

| 功能板 | 單元 | 模式 | 最小 Resolution（電流） |
|--------|------|------|------------------------|
| MVI | MCPMU / HVPMU | Measure I1 | **1.526 pA** |

> **說明**  
> - 這是根據 MVI 功能板的 MCPMU/HVPMU Measure I1 單元所列的最小分辨率。  
> - 其他單元（如 LOG1 的部分 I‑range）最低可達 ±200 nA，但其分辨率高於 1.526 pA。  
> - 以上數值均來自 S100 規格文件（`MVI_Overview_Spec.markdown` 及 `S100_Overview_Spec.markdown`）。

**結論**  
S100 在配置 MVI 功能板時，能以 1.526 pA 的分辨率測量電流，這是目前可達的最小電流測量精度。
```

預期答案:
```
S100 的最小電流解析度為 1.526pA。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點1.526 pA，補充資訊正確且相關，無錯誤或矛盾，得分100。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #5 ###
問題: S100 測量電流有多準確？

AI 回應:
```
**S100 測量電流的精度（Accuracy）**

| 功能板 | 單元 | 模式 | 量測範圍（Range） | 分辨率（Resolution） | 精度（Accuracy） |
|--------|------|------|-------------------|----------------------|------------------|
| **LOG1** | DPS (Device Power Supply) | Force I6 | ±250 mA | 1.91 µA | ±(value × 0.1 % + 250 µA) |
| **MVI** | MCPMU / HVPMU | Measure I1 | 參見單元規格表（未列出） | 1.526 pA | 未在文件中明確列出（僅提供分辨率） |

> **說明**  
> - LOG1 的 DPS 單元在「Force I6」模式下，電流測量精度為 **±(value × 0.1 % + 250 µA)**。  
> - MVI 的 MCPMU/HVPMU 單元提供極高的分辨率（1.526 pA），但文件中未給出對應的精度數值。  
> - 若需更精確的電流測量，建議使用 LOG1 DPS 的 Force I6 模式，或確認 MVI 單元的最新規格文件以取得精度資訊。  

**資料來源**  
- LOG1 DPS 單元規格（S100_Overview_Spec.markdown，Context 46）  
- MVI MCPMU/HVPMU 分辨率（Context 33）  

如需進一步確認 MVI 單元的精度或其他功能板的電流測量規格，請提供更具體的板卡名稱或需求。
```

預期答案:
```
S100 的最小電流精度為 ±5nA，來自 MVI 板的 MCPMU 或 HVPMU 。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 缺少核心精度 ±5nA，提供錯誤/未列出，與參考不符，故評0分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #6 ###
問題: S100 的速度有多快？可以用來測快速的電子元件嗎？

AI 回應:
```
**S100 平台的速度規格**

| 參數 | 內容 | 來源 |
|------|------|------|
| **系統時鐘** | 100 MHz | 【CONTEXT 13】【CONTEXT 34】 |
| **邏輯 I/O 通道** | 768 通道（S100‑7D） / 1536 通道（S100‑15D） | 【CONTEXT 13】 |
| **Pattern 記憶體** | 128 Mbit | 【CONTEXT 34】 |

**能否測試快速電子元件？**

- **適用範圍**：S100 以 100 MHz 系統時鐘為基礎，支援高速邏輯測試、Pattern 產生及功能測試。  
- **適合元件**：32‑bit MCU、ADC/DAC、Audio/Video、Touch Panel Controller、SSD Controller、Super I/O、Card Reader 等，皆可在 100 MHz 內完成邏輯與功能驗證。  
- **限制**：若元件需要超過 100 MHz 的邏輯時序或更高頻寬的測試，S100 可能無法滿足。此時需考慮更高速的測試平台或使用外部高速邏輯分析儀。

**結論**  
S100 的 100 MHz 系統時鐘足以支援大多數快速邏輯元件的測試，特別是針對 100 MHz 以內的時序需求。若測試對象的時序超過此頻率，請評估是否需要更高頻寬的測試解決方案。
```

預期答案:
```
S100 的系統時鐘速度為 100MHz，LOG1 板的 TMU 支援最高 300MHz 的測量頻率，MVI 板的 FTMU 支援高達 6.4GHz (高精度模式)，非常適合測試快速電子元件，如高速微控制器或數位信號處理晶片。
```

-- 評分結果 --
分數: 28 分
總結: 25%核心點匹配（系統時鐘），缺失LOG1 TMU 300MHz與MVI FTMU 6.4GHz等3項；補充正確相關資訊（通道、記憶體、適用元件）加3分，無錯誤，總分28。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #7 ###
問題: S100 有什麼特別的功能可以用來測不同的東西？

AI 回應:
```
**S100 平台的核心測試功能（依 LOG1 / MVI 功能板配置）**

| 功能 | 主要用途 | 重要規格（示例） | 參考文件 |
|------|----------|-----------------|----------|
| **高速邏輯測試** | 100 MHz 系統時鐘，支援 768（S100‑7D）/1536（S100‑15D）個邏輯 I/O 通道 | **Pattern** 128 Mbit | S100 Overview Spec |
| **Pattern 產生 / 讀取** | 128 Mbit Pattern Memory，適用於邏輯驗證、時序測試 | **Pattern** 128 Mbit | LOG1 Overview Spec |
| **電壓/電流 Force / Measure** | 透過 LOG1 / MVI 的 DPS、PPMU、MCPMU、HVPMU 等單元 | **Range**：±40 V（MVI） / ±80 V（HVPMU）<br>**Range**：±2 A（MCPMU/HVPMU）<br>**Resolution**：1.526 pA（MVI Measure I1）<br>**Accuracy**：±(value × 0.01 % + 0.5 mV) | S100 Overview Spec, MVI Overview Spec |
| **高精度電壓/電流測量** | 1 k 深度動態測量、Kelvin 連接 | **Resolution**：1.526 pA（MVI） | MVI Overview Spec |
| **多電壓 / 高電流測試** | 兼容多種電源需求（如 HV Car‑used Power） | **Range**：±80 V（HVPMU）<br>**Range**：±2 A（MCPMU/HVPMU） | MVI Overview Spec |
| **數位訊號處理** | 內建數位訊號處理核心，支援時序相關測試 | **時序子系統**：由 LOG1 / MVI 提供 | S100 Overview Spec |
| **靈活功能板配置** | 任意功能板可放於任意槽位，使用者可根據需求調整電壓/電流規格 | **槽位**：LOG1 6/12、MVI 6/12 | S100 Overview Spec |

### 主要應用領域
- **SoC / MCU**：邏輯驗證、時序測試、功耗測試  
- **ADC / DAC**：高精度電壓/電流測量、動態範圍驗證  
- **Audio / Video**：信號完整性、功率測試  
- **Touch Panel / SSD / Super‑I/O**：功能測試、耐久性測試  
- **RF / MEMS / 高壓應用**：利用 HVPMU 進行高壓/高電流測試  

> **提示**：若需更詳細的單元規格（如 PPMU、MCPMU 的具體 Range/Resolution/Accuracy），請參考 LOG1 / MVI 的單元規格表（S100 Overview Spec、LOG1 Overview Spec、MVI Overview Spec）。  

如需針對特定功能板（LOG1 或 MVI）或特定測試項目進一步比較，請告知，我將提供更精確的對比表。
```

預期答案:
```
S100 支援兩種功能板卡：LOG1 (用於高速邏輯測試和圖案生成，支援 128M 圖案記憶體) 和 MVI (用於多電壓電流和時序測試，支援高達 80V 和 2A)。這些板卡可靈活安裝於 S100 的插槽中，支援電壓、電流、時序及邏輯測試，滿足多樣化需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配所有核心點（LOG1、MVI、128M pattern、±80V/±2A、靈活安裝），無錯誤或矛盾，且提供正確且相關的補充細節，故給予最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #8 ###
問題: S100-7D 和 S100-15D 有什麼不一樣？哪個更適合我的產品？

AI 回應:
```
**S100-7D 與 S100-15D 的主要差異**  

| 參數 | S100‑7D | S100‑15D |
|------|--------|----------|
| **功能板槽位數** | 6 | 12 |
| **最大通道數** | 768（依 LOG1 或 MVI 配置） | 1536（依 LOG1 或 MVI 配置） |
| **Pattern 記憶體** | 128 M（透過 LOG1 或 MVI） | 128 M（透過 LOG1 或 MVI） |
| **系統時鐘** | 100 MHz（由 LOG1 / MVI 的時序子系統決定） | 100 MHz（同上） |

> **來源**：S100_Overview_Spec.markdown（多處引用）

---

### 哪個更適合您的產品？

要做出最佳選擇，需要了解您產品的測試需求，例如：

1. **邏輯 I/O 通道需求**：需要 768 通道還是 1536 通道？
2. **電壓/電流測量範圍**：是否需要更高的電壓（如 +80 V）或更大電流（±2 A）？
3. **測試頻率與時序**：是否需要更高的時序解析度或更快的測試速度？
4. **Pattern 記憶體容量**：128 M 是否足夠，還是需要更大容量？
5. **成本與空間限制**：您是否有空間或預算限制？

請提供上述資訊，我將根據 S100 的規格文件為您推薦最合適的型號。
```

預期答案:
```
S100-7D 配備 6 個功能板插槽，支援最多 768 個通道，適合中小規模測試，如微控制器或光感測器。S100-15D 配備 12 個插槽，支援最多 1536 個通道，適合更複雜或高通道數的產品，如高密度數位電路。若產品需要更多通道，S100-15D 更合適；否則 S100-7D 更具成本效益。
```

-- 評分結果 --
分數: 70 分
總結: 匹配 2/3 核心點（插槽、通道），缺少推薦結論扣 33 分；額外正確補充（Pattern 記憶體、系統時鐘）加 3 分，最終 70 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #9 ###
問題: S100 的 LOG1 板卡可以用來做什麼？有多大的記憶體？

AI 回應:
```
**LOG1 功能板用途**  
| 功能 | 主要應用 | 相關單元 |
|------|----------|----------|
| **高速邏輯測試** | 100 MHz 系統時鐘下的邏輯 I/O 驗證 | LOG1 的邏輯 I/O 通道（768/1536） |
| **Pattern 產生** | 產生並儲存測試 Pattern，用於邏輯與功能測試 | 128 M Pattern Memory |
| **功能測試** | 透過 DPS、PPMU、GPMU 等單元執行電壓/電流 Force 與 Measure | LOG1 的 DPS、PPMU、GPMU 等 |

**記憶體規格**  
- **Pattern Memory**：128 M（可用於儲存測試 Pattern，支援高速邏輯與功能測試）【來源：LOG1_Overview_Spec.markdown】  

> LOG1 主要用於 S100-7D / S100-15D 平台的邏輯與 Pattern 產生，並提供高達 100 MHz 的測試速度。其 128 M Pattern Memory 允許在單一板卡上儲存大量測試序列，提升測試效率。
```

預期答案:
```
LOG1 板卡用於高速邏輯測試和圖案生成，適用於數位電路或微控制器測試。其圖案記憶體深度為 128M，可儲存大量測試數據，支援複雜邏輯測試。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配參考答案核心點（高速邏輯測試、Pattern 產生、128M 記憶體），且補充正確相關資訊（100 MHz、DPS/PPMU/GPMU 等），無錯誤或矛盾，得分最高。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #10 ###
問題: S100 的 MVI 板卡在測量高電壓時有多精確？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的高電壓測量範圍或所需精度需求（例如 HVPMU 的測量範圍、是否需要 80 V 以上的精度等）。
```

預期答案:
```
MVI 板卡在HVPMU最高電壓範圍 E4 (+80V) 的電壓精度為 ±(測量值的 0.01% + 8mV)，校準後可達 ±(測量值的 0.01% + 4mV)，適合高電壓高精度應用。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 回覆包含「查無此資訊」及請求更多細節，符合中性回應規則，直接給 40 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #11 ###
問題: S100 可以同時測量很多不同的電子元件嗎？

AI 回應:
```
**S100 能否同時測量多種電子元件？**  
是的，S100 的模組化設計與 LOG1 / MVI 功能板的組合，使其能在同一時間內對多個元件進行並行測試。以下以可查詢到的規格為基礎，說明其並行測試能力。

| 參數 | S100‑7D | S100‑15D | 主要功能板 | 典型測試範圍 |
|------|--------|----------|-----------|--------------|
| **最大通道數** | 768 | 1536 | 取決於 LOG1 / MVI 配置 | 768/1536 個邏輯 I/O 或電壓/電流通道 |
| **邏輯 I/O** | 768 | 1536 | LOG1 | 100 MHz 系統時鐘，128 M Pattern Memory |
| **電壓/電流 Force / Measure** | 透過 LOG1 / MVI | 透過 LOG1 / MVI | LOG1：±40 V、±250 mA；MVI：±40 V、±2 A、1.526 pA 分辨率 |
| **可測試產品** | MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel、SSD、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor 等 | 同上 | 依功能板組合可覆蓋多種應用 |

### 主要說明

1. **通道數量**  
   - S100‑7D 內建 6 個功能板槽位，最多可配置 768 個測試通道。  
   - S100‑15D 內建 12 個功能板槽位，最多可配置 1536 個測試通道。  
   這些通道可同時用於邏輯測試、電壓/電流輸出（Force）或測量（Measure）。

2. **功能板組合**  
   - **LOG1**：提供邏輯 I/O、Pattern 產生、電源供應（DPS）等功能。  
   - **MVI**：提供高精度電壓/電流測量與輸出（MCPMU、HVPMU、PPMU 等），可擴展至 ±80 V、±2 A。  
   兩板可同時安裝於同一機台，實現邏輯與精密電測的並行測試。

3. **測試範圍**  
   - **邏輯測試**：可同時對多個 MCU、DSP、FPGA 等邏輯元件進行 Pattern 驗證。  
   - **電壓/電流測試**：可同時對多個電源管理 IC、電流感測器、電壓參考等進行 Force/Measure。  
   - **多元件協同測試**：例如在同一測試流程中，同時驗證 MCU 的邏輯輸出與其供電電壓的穩定性。

### 結論

根據 S100‑7D / S100‑15D 的規格與 LOG1 / MVI 功能板的能力，S100 能在同一時間內對數百至千多個通道進行並行測試，涵蓋邏輯、電壓、電流等多種測試需求，適合大規模、複雜的 IC 測試流程。
```

預期答案:
```
可以，S100-7D 支援 768 個通道，S100-15D 支援 1536 個通道，可同時測試多個元件或接腳。其模組化設計允許靈活配置 MVI 和 LOG1 板卡，滿足多種測試需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（通道數、同時測試、多板卡配置），無矛盾或錯誤，補充資訊正確且相關，故給最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #12 ###
問題: S100 的 LOGIC Board 支援的最大頻率是多少？

AI 回應:
```
S100 的 LOGIC Board（LOG1）支援的最大頻率為 **100 MHz**。  
（來源：LOG1 規格文件中「最大速度為 100 MHz」及「LOG1 板卡支援最高 100 MHz 的高速邏輯測試」說明）
```

預期答案:
```
S100 的 LOGIC Board (即 LOG1 板) 支援的最大頻率為 100MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（100 MHz），補充來源正確且無錯誤，未扣分，最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #13 ###
問題: S100 的 PMU 在電壓 Force 模式下的精度如何？

AI 回應:
```
**S100 PMU – 電壓 Force 模式下的 Accuracy**

| 功能單元 | 模式 | 範圍 | Resolution | **Accuracy** |
|----------|------|------|------------|--------------|
| PMU | Force E1 (電壓) | ±10 V | 305.18 µV | ±(value × 0.01 % + 2 mV) |

- **Accuracy** 以「value」為基準，計算方式為：  
  \[
  \text{Accuracy} = \pm\bigl(\text{value}\times0.01\% + 2\,\text{mV}\bigr)
  \]
  其中「value」即實際施加的電壓（範圍 ±10 V）。

> 來源：S100_Overview_Spec.markdown（PMU Force E1 相關表格）。
```

預期答案:
```
S100 的 PMU 在電壓 Force 模式下的精度因板卡而異。以 LOG1 板的 PMU (GPMU) 為例，在 E1 範圍 (±10V) 下，解析度為 305.18uV，精度為 ±(測量值的 0.01% + 2mV)，適合高精度電壓控制。
```

-- 評分結果 --
分數: 52 分
總結: 匹配 3/6 核心點（解析度、範圍、精度公式），缺少板卡依賴與適用性說明，扣 50%，無錯誤，正確補充來源加 2 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #14 ###
問題: LOGIC Board 的 TMU 的量測精確度為多少？

AI 回應:
```
查無此資訊，請確認您指的是哪一款 LOGIC Board（例如 LOG1 或 MVI）以及您需要的精確度類型（時間、電壓等）。若能提供更具體的板卡名稱或規格需求，我將協助您查詢。
```

預期答案:
```
LOGIC Board (LOG1) 的 TMU 量測精確度為 ±1 SYSTEM_CLK/AVG 。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 回答包含「查無此資訊」及請求更多細節，屬中性回應，無核心點匹配，直接給 40 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #15 ###
問題: LOGIC Board 的 PMU，其電壓 Force 的精確度？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。
```

預期答案:
```
LOGIC Board (LOG1) 的 PMU (GPMU) 在電壓 Force 模式下，於 E1 範圍 (±10V) 的精確度為 ±(測量值的 0.01% + 2mV)。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 回答包含「查無此資訊」等關鍵詞，符合中性回應規則，直接給 40 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #16 ###
問題: LOGIC Board 有幾組 PMU？

AI 回應:
```
LOG1（LOGIC Board）每板卡配備 **16 組 PMU**。
```

預期答案:
```
每塊 LOGIC Board (LOG1) 有 16 組 PMU 可使用。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心資訊「16 組 PMU」，無錯誤或多餘內容，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #17 ###
問題: S100 是用來測試哪些類型的產品？

AI 回應:
```
S100 可用於測試的產品類型（摘自《S100_Overview_Spec.markdown》）：

- 32‑bit MCU  
- ADC / DAC  
- Audio / Video  
- Touch‑Panel Controller  
- SSD Controller  
- Super I/O  
- Card Reader  
- Setup Box  
- Light Sensor  
- MEMS  
- USB 3.0  
- RF WIFI / RF Bluetooth  
- RF Power Amp  
- HV Car‑used Power  

以上列舉涵蓋了 S100 在不同型號（S100‑7D、S100‑15D）與功能板（LOG1、MVI）配置下可支援的主要測試產品。
```

預期答案:
```
S100 可以測試以下產品類型：
    1. 數位：數位控制器、快閃記憶體控制器、USB 控制器、32 位元 MCU
    2. 混合信號：機上盒、音訊/影像、觸控控制器、ADC/DAC
    3. Power: Super I/O、Power Management IC、Automotive
    4. 其他：MEMS、CIS、RF
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 評估答案包含多項不在參考答案中的產品類型，與參考資訊不符，屬於明顯錯誤，按規則直接給 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #18 ###
問題: S100 機台的測試頻率是多少？

AI 回應:
```
S100 的測試頻率為 **100 MHz**（系統時鐘），由 LOG1 或 MVI 功能板的時序子系統決定。  
來源：S100_Overview_Spec.markdown（測試速度說明）。
```

預期答案:
```
S100 機台的測試頻率為 100MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（100 MHz），補充資訊正確且相關，無錯誤，得最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #19 ###
問題: 介紹 S100

AI 回應:
```
**S100 系列測試平台概述**  
（資料來源：S100_Overview_Spec.markdown 及 LOG1_Overview_Spec.markdown，發布於 2025‑10‑09）

| 參數 | S100‑7D | S100‑15D |
|------|---------|----------|
| **最大通道數** | 768 | 1536 |
| **功能板槽位** | 6 | 12 |
| **系統時鐘** | 100 MHz | 100 MHz |
| **Pattern 記憶體** | 128 Mbit | 128 Mbit |
| **支援產品** | 32‑bit MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel、SSD、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、MEMS、USB 3.0、RF Wi‑Fi、RF Bluetooth、RF Power Amp、HV Car‑used Power 等 | 同上 |

---

### 1. 功能板配置

| 功能板 | 主要功能 | 典型單元 | 典型範圍（Force / Measure） | Resolution | Accuracy |
|--------|----------|----------|------------------------------|------------|----------|
| **LOG1** | 邏輯 I/O、基本電源供應 | DPS (Device Power Supply) | **Force I3**: ±250 µA<br>**Force I6**: ±250 mA | 1.91 nA / 1.91 µA | ±(value × 0.1 % + 250 nA / 250 µA) |
| | | PPMU (Per‑Pin Parametric Measurement Unit) | **Force E1**: –0.5 V → +3.5 V<br>**Force E2**: –1 V → +7 V | 61 µV / 122 µV | ±7.5 mV / ±15 mV |
| | | | **Force I7**: ±250 µA | 1.91 nA | ±(value × 0.1 % + 250 nA) |
| | | | **Force I6**: ±250 mA | 1.91 µA | ±(value × 0.1 % + 250 µA) |
| **MVI** | 高精度電壓/電流測量、動態 Force/Measure | HVPMU (High‑Voltage Power‑Measurement Unit) | **Force E4**: +80 V (max)<br>**Force I1**: ±200 nA<br>**Force I2**: ±2 µA | 6.104 pA / 61.036 pA | ±5 nA |
| | | | **Force I7**: ±200 mA | 6.1036 µA | ±(value × 0.01 % + 100 µA) |
| | | | **Force I4**: ±200 µA | 6.1036 nA | ±(value × 0.01 % + 100 nA) |
| | | | **Force E1**: ±10 V | 305.18 µV | ±(value × 0.01 % + 2 mV) |
| | | | **Force E1 (PMU)**: ±10 V | 305.18 µV | ±(value × 0.01 % + 2 mV) |
| | | | **Force E1 (DPS)**: –1 V → +15 V | 244.14 µV | ±(value × 0.01 % + 1.5 mV) |

> **注意**：  
> - LOG1 的 PPMU 最高電壓範圍為 ±11.8 V，電流範圍 ±32 mA。  
> - MVI 的 HVPMU 可擴展至 +80 V，最小電流可達 ±200 nA。  
> - 所有電壓/電流範圍均以「Force」或「Measure」模式提供，具體取決於功能板配置。

---

### 2. 系統極值規格（基於 LOG1 / MVI 配置）

| 參數 | 值 | 來源 |
|------|----|------|
| **最大電壓** | +80 V（MVI HVPMU Force E4） | CONTEXT 18 |
| **最小電壓** | –40 V（MVI MCPMU Force/Measure E4） | CONTEXT 18 |
| **最大電流** | ±2 A（透過 MCPMU 或 HVPMU） | CONTEXT 6 |
| **最小電流** | ±200 nA（MVI MCPMU/HVPMU Force/Measure I1） | CONTEXT 1, 11 |

---

### 3. 主要特點

| 特點 | 說明 |
|------|------|
| **模組化硬體** | LOG1、MVI 等功能板可任意插入槽位，靈活配置。 |
| **高速測試** | 100 MHz 系統時鐘，支援高速邏輯與數位訊號處理。 |
| **高通道數** | 768（S100‑7D）/ 1536（S100‑15D）邏輯 I/O 通道。 |
| **高精度測量** | 1.526 pA 最小 Resolution（MVI MCPMU/HVPMU Measure I1）。 |
| **廣泛應用** | 支援 MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel、SSD、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、MEMS、USB 3.0、RF 等。 |

---

> **建議**：根據測試需求選擇 LOG1 或 MVI 配置，並參考上述範圍與解析度表格，以確保符合電壓、電流與精度要求。若需更高電壓或更低電流，請確認功能板是否具備相應單元（如 HVPMU、MCPMU）。  

如需更詳細的單元規格或特定應用案例，請告知具體需求（例如「需要測試 5 V 100 mA 低噪聲電源」），我們將提供更精準的參考資訊。
```

預期答案:
```
S100 是一款專為半導體 IC 測試設計的設備，包含兩種機型：S100-7D 和 S100-15D。S100-7D 配備 6 個功能板插槽，支援最多 768 個邏輯 I/O 通道；S100-15D 配備 12 個插槽，支援最多 1536 個通道。S100 支援 MVI 和 LOG1 功能板卡，提供高速邏輯測試 (100MHz)、多電壓電流測量 (最高 80V、2A) 和高精度時序分析 (高達 6.4GHz)，適合測試微控制器、ADC/DAC 等產品。
```

-- 評分結果 --
分數: 92 分
總結: 匹配 8/9 核心點（缺少 6.4 GHz 時序分析），無錯誤；額外正確補充（功能板細節、極值規格）加 3 分，總分 92。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #20 ###
問題: 若客戶需要客製化的測試方案，S100 機台是否能提供彈性配置？

AI 回應:
```
**S100 系統的彈性配置能力**  

| 功能板 | 主要功能 | 典型 **Range**（電壓/電流） | **Resolution** | **Accuracy** | 典型 **Pattern** / **Force / Measure**  |
|--------|----------|-----------------------------|----------------|--------------|----------------------------------------|
| **LOG1** | 邏輯 I/O、Pattern 產生、基本電源供應 | ±11.8 V (PPMU) / ±32 mA (PPMU) | 1 µV (PPMU) | ±0.01 % + 0.5 mV | 100 MHz 系統時鐘，Pattern 記憶體 128 M |
| **MVI** | 高精度電壓/電流 Force & Measure、動態測試 | ±80 V (HVPMU) / ±2 A (MCPMU/HVPMU) | 1.526 pA (MCPMU) | ±0.01 % + 0.5 mV | 100 MHz 系統時鐘，支持多通道高精度測量 |
| **MCPMU** | 低電流測量 | ±40 V / ±2 A | 1.526 pA | ±0.01 % + 0.5 mV | 低噪聲電流測試 |
| **HVPMU** | 高壓電源 | ±80 V | 1 µV | ±0.01 % + 0.5 mV | 高壓測試 |

### 主要彈性特點
1. **模組化硬體架構**  
   - 任何功能板（LOG1、MVI、MCPMU、HVPMU 等）可放置於任意槽位。  
   - S100‑7D 具 6 個槽位，S100‑15D 具 12 個槽位，使用者可按需配置不同數量與類型的板卡。  

2. **通道與測試容量可擴充**  
   - LOG1 或 MVI 配置決定最大通道數：S100‑7D 768 通道 / S100‑15D 1536 通道。  
   - 透過增加 MVI 或 LOG1，使用者可提升電壓/電流測量容量與精度。  

3. **多樣化測試需求支援**  
   - **邏輯測試**：LOG1 提供高速 Pattern 產生與邏輯 I/O。  
   - **電壓/電流測試**：MVI、MCPMU、HVPMU 提供 ±80 V、±2 A 的 Force/Measure。  
   - **高精度低噪聲測試**：MCPMU 低電流測量（±200 nA）。  

4. **客製化配置流程**  
   - 先確定測試項目（邏輯、電壓、電流、時序等）。  
   - 選擇相應功能板並配置至槽位。  
   - 透過 S100 軟體設定 **Pattern**、**Force**、**Measure** 參數，並驗證 **Resolution**、**Accuracy**。  

### 風險提示  
- **電壓上限**：MVI HVPMU 最高 ±80 V，超過此範圍需另行配置。  
- **電流上限**：MCPMU/HVPMU 最高 ±2 A，若需更高電流請確認板卡支援。  

> **結論**：S100 系統具備高度彈性配置能力，能根據客戶的客製化測試需求自由組合 LOG1、MVI 及其他功能板，並提供相應的 **Range**、**Resolution**、**Accuracy** 參數，滿足多樣化的測試場景。
```

預期答案:
```
S100 能夠提供客製化測試方案，其模組化設計允許靈活配置 MVI 和 LOG1 板卡，並可搭配額外模組或儀器以滿足特殊產品測試需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（客製化、模組化、MVI/LOG1 配置），無錯誤，額外正確補充資訊，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #21 ###
問題: S100 有分成幾種機型？其特色與差異為何？

AI 回應:
```
**S100 系列機型**

| 參數 | **S100‑7D** | **S100‑15D** |
|------|-------------|--------------|
| **機型名稱** | S100‑7D | S100‑15D |
| **最大通道數** | 768 | 1,536 |
| **功能板槽位數** | 6 | 12 |
| **邏輯 I/O 通道** | 768 | 1,536 |
| **Pattern 記憶體** | 128 M | 128 M |
| **系統時鐘** | 100 MHz | 100 MHz |
| **支援功能板** | LOG1、MVI | LOG1、MVI |
| **主要應用** | 低至中等通道需求（如 MCU、ADC、DAC、Audio、Video 等） | 高通道需求（如 SSD Controller、RF WIFI、RF Bluetooth、HV Car‑used Power 等） |

### 特色與差異

| 差異項目 | S100‑7D | S100‑15D |
|----------|---------|----------|
| **通道容量** | 768 通道，適合單一或少量功能板配置 | 1,536 通道，支持雙倍功能板配置，適合大規模測試 |
| **功能板槽位** | 6 個槽位，限制可同時安裝的 LOG1/MVI 數量 | 12 個槽位，允許更多功能板並行工作 |
| **硬體擴充性** | 受限於 6 個槽位，擴充性較低 | 受限於 12 個槽位，擴充性較高 |
| **成本** | 相對較低，適合預算有限的測試需求 | 相對較高，適合需要高通道數的專業測試 |
| **適用產品** | 主要針對中小型 IC（如 MCU、ADC、DAC、Audio、Video 等） | 主要針對高通道需求的產品（如 SSD Controller、RF WIFI、RF Bluetooth、HV Car‑used Power 等） |

> **來源**  
> - S100 概述規格（機型、通道、槽位）【CONTEXT 32】【CONTEXT 30】【CONTEXT 28】  
> - 邏輯 I/O 通道與 Pattern 記憶體【CONTEXT 13】【CONTEXT 18】  
> - 功能板支援與應用範圍【CONTEXT 23】【CONTEXT 31】  

如需進一步了解特定功能板（LOG1 或 MVI）在不同機型中的實際電壓/電流範圍、解析度或精度，請告知，我將為您查詢相關規格。
```

預期答案:
```
S100 分為 S100-7D 和 S100-15D 兩種機型：
    - S100-7D：6 個功能板插槽，768 個通道，適合中小規模測試。
    - S100-15D：12 個功能板插槽，1536 個通道，適合高通道數或複雜測試。
    兩者均支援 MVI 和 LOG1 板卡，差異在於通道數和插槽數，S100-15D 更適合高密度或多通道應用。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（兩機型、插槽、通道、支援板卡），無錯誤，補充正確資訊（記憶體、時鐘、成本等）可加分，最終得分100。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #22 ###
問題: S100 有多少個 User Relay 可以用？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。
```

預期答案:
```
S100-7D 有 96 個 User Relay，S100-15D 有 128 個 User Relay。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 40分，因包含「查無此資訊」關鍵詞，視為中性回應，無核心點匹配。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #23 ###
問題: S100 是否可以測記憶體相關的產品？

AI 回應:
```
S100 的規格文件中列出了可測試的產品類型，其中包含 **SSD Controller**（屬於記憶體相關產品）。  
但文件並未明確說明對 DRAM、SRAM、NAND Flash 等純記憶體模組的支援情況。  

請問您想測試的是哪一類記憶體產品（例如 DRAM、SRAM、NAND Flash、SSD Controller 等）？這樣我才能確認是否符合 S100 的測試範圍。
```

預期答案:
```
S100 可測試記憶體容量較小的產品，如快閃記憶體 (Flash Memory)，最大支援 128M 圖案記憶體，無法測試大容量主記憶體 (如數 GB 或 TB)。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 參考答案核心點（可測小容量 Flash、128M 上限、無法測大容量主記憶體）完全未被傳達，且答覆中對 NAND Flash 支援的否定與參考答案相衝突，屬於錯誤資訊，直接評 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #24 ###
問題: LOG1 板的 DVM 在 GAIN1 範圍下的精度如何？

AI 回應:
```
**LOG1 DVM – GAIN1 範圍下的 Accuracy**

| 參數 | 值 |
|------|------------------------------|
| **Range** | ±10 V |
| **Resolution** | 305.17 µV |
| **Accuracy** | ±(value × 0.01 % + 1 mV) |

> **說明**：在 GAIN1（±10 V）範圍內，DVM 的測量精度為 ±(value × 0.01 % + 1 mV)。  
> 來源：LOG1 DVM 規格（Context 31）。
```

預期答案:
```
LOG1 板的 DVM 在 GAIN1 範圍 (±10V) 下的精度為 ±(測量值的 0.01% + 1mV)。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（±10 V 範圍與 ±(測量值×0.01%+1 mV) 精度），額外正確補充範圍與解析度，無錯誤或幻覺，得最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #25 ###
問題: LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率是多少？

AI 回應:
```
**LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率**  
| 參數 | 值 | 來源 |
|------|----|------|
| Maximum Measure Frequency | **300 MHz** | LOG1_TMU_Spec.markdown（第 0、1、3、43、45 等文件） |

因此，LOG1 板的 TMU 最高可測量 300 MHz 的信號頻率。
```

預期答案:
```
LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率為 300MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心資訊（300 MHz），無錯誤或遺漏，補充來源正確，未扣分，最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #26 ###
問題: S100 的 Pattern Memory 深度是多少？

AI 回應:
```
S100 的 **Pattern Memory Depth** 為 **128 M**。  
- 來源：LOG1 PE Spec（Pattern Memory 128M）以及 S100 Overview Spec（Pattern Memory 128M，透過 LOG1 或 MVI 功能板提供）。
```

預期答案:
```
S100 的 Pattern Memory 深度為 128M，來自 LOG1 板的規格。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（128M 深度），並正確引用 LOG1 規格；額外補充 S100 Overview Spec 及 MVI 功能板資訊正確，無錯誤或矛盾，故給 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #27 ###
問題: S100 是否支援 ADC 和 DAC 的測試？

AI 回應:
```
是的，S100 支援 **ADC** 與 **DAC** 的測試（Measure）。  
根據 S100 概述規格文件（來源：S100_Overview_Spec.markdown），平台可測試多種產品，其中明確列出「ADC、DAC」作為可測試項目。
```

預期答案:
```
是的，S100 支援 ADC 和 DAC 的測試，特別是透過 MVI 板的 MCPMU 和 DVM 進行高精度電壓和電流測量，以及 LOG1 板的邏輯測試功能。
```

-- 評分結果 --
分數: 33 分
總結: 匹配 1/3 核心點（支援 ADC/DAC），缺少 MVI/MCPMU/DVM 與 LOG1 相關細節，無錯誤或幻覺，得 33 分。
### 測試案例結束 ###


參數組 #5 完成，平均分數: 67.96
--------------------------------------------------------------------------------
================================================================================
開始新一輪測試
Parameters:
openAiTemp: 0
similarityThreshold: 0.5
chatModel: gpt-oss:20b
topN: 200
vectorSearchMode: rerank
openAiPrompt: ## 角色與核心目標
你是一位 S100 半導體 IC 測試機的技術與應用顧問，目標是從 RAG 系統檢索 S100 及其功能板卡（LOG1、MVI）的規格，提供精確、實用的回應，協助用戶決策。

## 術語標準化
在所有回應中，必須使用以下標準化英文術語，並確保單位一致（如 V、A、Hz）：
- 「解析度」顯示為 **Resolution**。
- 「精度」顯示為 **Accuracy**。
- 「範圍」顯示為 **Range**。
- 「圖案」顯示為 **Pattern**。
- 「輸出」顯示為 **Force**。
- 「測量」顯示為 **Measure**。

## 核心原則與行為準則
1. **絕對依賴 RAG 系統**：
   - 所有回答必須基於 RAG 系統檢索的文件內容，禁止猜測或使用外部知識。
2. **結構化輸出**：
   - 使用表格、項目符號或有序列表呈現規格數據，確保清晰易讀。
3. **誠實透明與避免幻覺**：
   - 若 RAG 系統無相關資料、不完整或僅找到類似內容，禁止猜測，必須以反問方式詢問使用者更多細節，例如：「查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。」
   - 若資料不匹配查詢，立即反問：「您的查詢與可用規格不符，請澄清詳細需求。」
4. **風險警示**：
   - 若規格有限制（如電壓上限），簡要警示，但僅限相關查詢。
5. **回應精簡**：
   - 僅針對用戶查詢提供直接相關回應，禁止額外補充、講解或無關資訊。
6. **回應語言**：
   - 所有回應使用中文，保持專業、清晰。

## 查詢處理機制
1. **通用查詢**：
   - 自動檢索 LOG1 和 MVI 的規格，比較後回應，並說明來源。
2. **比較性查詢**：
   - 提供對比表格，列出關鍵規格，並總結差異。
3. **應用型查詢**：
   - 分析需求關鍵詞，匹配最適合的功能板卡，引用規格說明推薦理由。
4. **查詢驗證**：
   - 每次回應前，確認 RAG 資料的相關性；若不符，轉為反問使用者澄清。

================================================================================

### 測試案例 #1 ###
問題: S100 是一台什麼樣的機器？可以用來做什麼？

AI 回應:
```
**S100 是什麼？**  
- **類型**：高速、低成本的 **測試平台**，專為 **SoC IC** 測試設計。  
- **架構**：模組化硬體，支援 **LOG1** 與 **MVI** 功能板，兩款型號（S100‑7D / S100‑15D）分別提供 6 / 12 個功能板槽位。  
- **關鍵參數**  
  - **系統時鐘**：100 MHz  
  - **邏輯 I/O 通道**：768（S100‑7D） / 1536（S100‑15D）  
  - **Pattern 記憶體**：128 M（由 LOG1 / MVI 提供）  

**S100 可以做什麼？**  
| 測試類型 | 主要功能 | 相關功能板 | 典型應用 |
|----------|----------|-----------|----------|
| **邏輯測試** | 高速邏輯 I/O、Pattern 產生 | LOG1 | 32‑bit MCU、DSP、ASIC |
| **功能測試** | 端到端功能驗證 | LOG1 / MVI | ADC、DAC、Audio、Video |
| **參數測量** | 電壓/電流 Force & Measure、精密測量 | MVI（MCPMU、HVPMU、PPMU） | MEMS、RF WIFI、RF Bluetooth、HV Car‑used Power |
| **時序測試** | 週期、延遲、邏輯時序 | LOG1 | 連接器、總線協定 |
| **多產品測試** | 同時支援多種產品類型 | LOG1 / MVI | SSD Controller、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、USB 3.0 |

**總結**  
S100 是一台可擴充、模組化的測試平台，能夠在同一機台上完成邏輯、功能、參數與時序等多種測試，適用於從 MCU、ADC、DAC 到 RF、HV 供電等多樣化的 SoC 產品。
```

預期答案:
```
S100 是一款用於測試積體電路 (IC) 的高速度、低成本設備，專為系統單晶片 (SoC) 測試設計。它採用模組化硬體架構，支援 MVI 和 LOG1 功能板卡，適用於邏輯測試、多電壓電流測量及時序分析，可用於檢查電子產品如微控制器、感測器等的性能，確保其正常運作。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配所有核心點，無錯誤或矛盾，且提供正確且相關的補充資訊，符合最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #2 ###
問題: S100 可以測試哪些東西？

AI 回應:
```
S100 可用於測試的產品範圍相當廣泛，主要涵蓋以下類別（根據《S100_Overview_Spec.markdown》文件）：

- 32‑bit MCU  
- ADC / DAC  
- Audio / Video  
- Touch Panel Controller  
- SSD Controller  
- Super I/O  
- Card Reader  
- Setup Box  
- Light Sensor  
- MEMS  
- USB 3.0  
- RF WIFI  
- RF Bluetooth  
- RF Power Amp  
- HV Car‑used Power  

這些產品皆可透過 LOG1 或 MVI 功能板組合，利用 S100 的邏輯 I/O、Pattern 產生、電壓/電流 Force 與 Measure 等核心功能完成測試。
```

預期答案:
```
S100 可以測試多種電子產品，包括 32 位元微控制器 (MCU)、類比數位轉換器 (ADC)、數位類比轉換器 (DAC)、音訊和影像晶片、觸控面板控制器、固態硬碟控制器、卡片閱讀器、機上盒及光感測器等。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 參考答案未提及 Super I/O、Setup Box、MEMS、USB 3.0、RF WIFI/Bluetooth、RF Power Amp、HV Car‑used Power 等項目，答案加入了多項未被確認的內容，視為不符/幻覺，直接給 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #3 ###
問題: S100 的最高電壓是多少？可以用來測高電壓的東西嗎？

AI 回應:
```
**S100 最高電壓（取決於功能板配置）**

| 功能板 | 最高電壓 **Range** | 典型 **Resolution** | 典型 **Accuracy** |
|--------|-------------------|---------------------|-------------------|
| **LOG1**（PPMU） | ±11.8 V | 1 mV | ±0.5 % + 5 mV |
| **MVI**（HVPMU） | **+80 V** | 10 µV | ±0.01 % + 0.5 mV |

> **說明**  
> - LOG1 只能提供 ±11.8 V 的電壓輸出。  
> - MVI 的 HVPMU 選項可擴展至 +80 V，適合高電壓測試。  
> - 最高電壓取決於您在 S100 上安裝的功能板；若未安裝 MVI HVPMU，則最高只能到 LOG1 的 ±11.8 V。

**是否能測試高電壓裝置？**  
是的，當您在 S100 上安裝 **MVI HVPMU** 時，平台可提供最高 +80 V 的電壓輸出，足以測試大多數高電壓應用（如 HV 車用電源、RF 高壓模組等）。若僅安裝 LOG1，則只能測試低於 ±12 V 的裝置。

**風險提示**  
- 高電壓測試必須確保已安裝 MVI HVPMU，並遵守安全操作手冊。  
- 若未安裝相應功能板，請勿嘗試將 S100 連接至高於 ±12 V 的裝置，以免造成設備損壞或安全事故。
```

預期答案:
```
S100 的最高輸出電壓為 80V，來自 MVI 板的 HVPMU (E4 範圍，0V 至 +80V)，適合測試高電壓應用，如高壓電源相關元件。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（80V、MVI HVPMU、適用於高電壓測試），無錯誤，額外正確補充資訊，得最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #4 ###
問題: S100 可以測量多小的電流？

AI 回應:
```
**S100 可測量的最小電流（Resolution）**

| 功能板 | 單元 | 模式 | 最小 Resolution（電流） |
|--------|------|------|------------------------|
| MVI | MCPMU / HVPMU | Measure I1 | **1.526 pA** |

> **說明**  
> - 這是根據 MVI 功能板的 MCPMU/HVPMU Measure I1 單元所列的最小分辨率。  
> - 其他單元（如 LOG1 的部分 I‑range）最低可達 ±200 nA，但其分辨率高於 1.526 pA。  
> - 以上數值均來自 S100 規格文件（`MVI_Overview_Spec.markdown` 及 `S100_Overview_Spec.markdown`）。

**結論**  
S100 在配置 MVI 功能板時，能以 1.526 pA 的分辨率測量電流，這是目前可達的最小電流測量精度。
```

預期答案:
```
S100 的最小電流解析度為 1.526pA。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點1.526 pA，補充資訊正確且相關，無錯誤或矛盾，得分100。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #5 ###
問題: S100 測量電流有多準確？

AI 回應:
```
**S100 測量電流的精度（Accuracy）**

| 功能板 | 單元 | 模式 | 量測範圍（Range） | 分辨率（Resolution） | 精度（Accuracy） |
|--------|------|------|-------------------|----------------------|------------------|
| **LOG1** | DPS (Device Power Supply) | Force I6 | ±250 mA | 1.91 µA | ±(value × 0.1 % + 250 µA) |
| **MVI** | MCPMU / HVPMU | Measure I1 | 參見單元規格表（未列出） | 1.526 pA | 未在文件中明確列出（僅提供分辨率） |

> **說明**  
> - LOG1 的 DPS 單元在「Force I6」模式下，電流測量精度為 **±(value × 0.1 % + 250 µA)**。  
> - MVI 的 MCPMU/HVPMU 單元提供極高的分辨率（1.526 pA），但文件中未給出對應的精度數值。  
> - 若需更精確的電流測量，建議使用 LOG1 DPS 的 Force I6 模式，或確認 MVI 單元的最新規格文件以取得精度資訊。  

**資料來源**  
- LOG1 DPS 單元規格（S100_Overview_Spec.markdown，Context 46）  
- MVI MCPMU/HVPMU 分辨率（Context 33）  

如需進一步確認 MVI 單元的精度或其他功能板的電流測量規格，請提供更具體的板卡名稱或需求。
```

預期答案:
```
S100 的最小電流精度為 ±5nA，來自 MVI 板的 MCPMU 或 HVPMU 。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 缺少核心精度 ±5nA，提供錯誤/未列出，與參考不符，故評0分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #6 ###
問題: S100 的速度有多快？可以用來測快速的電子元件嗎？

AI 回應:
```
**S100 平台的速度規格**

| 參數 | 內容 | 來源 |
|------|------|------|
| **系統時鐘** | 100 MHz | 【CONTEXT 13】【CONTEXT 34】 |
| **邏輯 I/O 通道** | 768 通道（S100‑7D） / 1536 通道（S100‑15D） | 【CONTEXT 13】 |
| **Pattern 記憶體** | 128 Mbit | 【CONTEXT 34】 |

**能否測試快速電子元件？**

- **適用範圍**：S100 以 100 MHz 系統時鐘為基礎，支援高速邏輯測試、Pattern 產生及功能測試。  
- **適合元件**：32‑bit MCU、ADC/DAC、Audio/Video、Touch Panel Controller、SSD Controller、Super I/O、Card Reader 等，皆可在 100 MHz 內完成邏輯與功能驗證。  
- **限制**：若元件需要超過 100 MHz 的邏輯時序或更高頻寬的測試，S100 可能無法滿足。此時需考慮更高速的測試平台或使用外部高速邏輯分析儀。

**結論**  
S100 的 100 MHz 系統時鐘足以支援大多數快速邏輯元件的測試，特別是針對 100 MHz 以內的時序需求。若測試對象的時序超過此頻率，請評估是否需要更高頻寬的測試解決方案。
```

預期答案:
```
S100 的系統時鐘速度為 100MHz，LOG1 板的 TMU 支援最高 300MHz 的測量頻率，MVI 板的 FTMU 支援高達 6.4GHz (高精度模式)，非常適合測試快速電子元件，如高速微控制器或數位信號處理晶片。
```

-- 評分結果 --
分數: 28 分
總結: 25%核心點匹配（系統時鐘），缺失LOG1 TMU 300MHz與MVI FTMU 6.4GHz等3項；補充正確相關資訊（通道、記憶體、適用元件）加3分，無錯誤，總分28。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #7 ###
問題: S100 有什麼特別的功能可以用來測不同的東西？

AI 回應:
```
**S100 平台的核心測試功能（依 LOG1 / MVI 功能板配置）**

| 功能 | 主要用途 | 重要規格（示例） | 參考文件 |
|------|----------|-----------------|----------|
| **高速邏輯測試** | 100 MHz 系統時鐘，支援 768（S100‑7D）/1536（S100‑15D）個邏輯 I/O 通道 | **Pattern** 128 Mbit | S100 Overview Spec |
| **Pattern 產生 / 讀取** | 128 Mbit Pattern Memory，適用於邏輯驗證、時序測試 | **Pattern** 128 Mbit | LOG1 Overview Spec |
| **電壓/電流 Force / Measure** | 透過 LOG1 / MVI 的 DPS、PPMU、MCPMU、HVPMU 等單元 | **Range**：±40 V（MVI） / ±80 V（HVPMU）<br>**Range**：±2 A（MCPMU/HVPMU）<br>**Resolution**：1.526 pA（MVI Measure I1）<br>**Accuracy**：±(value × 0.01 % + 0.5 mV) | S100 Overview Spec, MVI Overview Spec |
| **高精度電壓/電流測量** | 1 k 深度動態測量、Kelvin 連接 | **Resolution**：1.526 pA（MVI） | MVI Overview Spec |
| **多電壓 / 高電流測試** | 兼容多種電源需求（如 HV Car‑used Power） | **Range**：±80 V（HVPMU）<br>**Range**：±2 A（MCPMU/HVPMU） | MVI Overview Spec |
| **數位訊號處理** | 內建數位訊號處理核心，支援時序相關測試 | **時序子系統**：由 LOG1 / MVI 提供 | S100 Overview Spec |
| **靈活功能板配置** | 任意功能板可放於任意槽位，使用者可根據需求調整電壓/電流規格 | **槽位**：LOG1 6/12、MVI 6/12 | S100 Overview Spec |

### 主要應用領域
- **SoC / MCU**：邏輯驗證、時序測試、功耗測試  
- **ADC / DAC**：高精度電壓/電流測量、動態範圍驗證  
- **Audio / Video**：信號完整性、功率測試  
- **Touch Panel / SSD / Super‑I/O**：功能測試、耐久性測試  
- **RF / MEMS / 高壓應用**：利用 HVPMU 進行高壓/高電流測試  

> **提示**：若需更詳細的單元規格（如 PPMU、MCPMU 的具體 Range/Resolution/Accuracy），請參考 LOG1 / MVI 的單元規格表（S100 Overview Spec、LOG1 Overview Spec、MVI Overview Spec）。  

如需針對特定功能板（LOG1 或 MVI）或特定測試項目進一步比較，請告知，我將提供更精確的對比表。
```

預期答案:
```
S100 支援兩種功能板卡：LOG1 (用於高速邏輯測試和圖案生成，支援 128M 圖案記憶體) 和 MVI (用於多電壓電流和時序測試，支援高達 80V 和 2A)。這些板卡可靈活安裝於 S100 的插槽中，支援電壓、電流、時序及邏輯測試，滿足多樣化需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配所有核心點（LOG1、MVI、128M pattern、±80V/±2A、靈活安裝），無錯誤或矛盾，且提供正確且相關的補充細節，故給予最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #8 ###
問題: S100-7D 和 S100-15D 有什麼不一樣？哪個更適合我的產品？

AI 回應:
```
**S100-7D 與 S100-15D 的主要差異**  

| 參數 | S100‑7D | S100‑15D |
|------|--------|----------|
| **功能板槽位數** | 6 | 12 |
| **最大通道數** | 768（依 LOG1 或 MVI 配置） | 1536（依 LOG1 或 MVI 配置） |
| **Pattern 記憶體** | 128 M（透過 LOG1 或 MVI） | 128 M（透過 LOG1 或 MVI） |
| **系統時鐘** | 100 MHz（由 LOG1 / MVI 的時序子系統決定） | 100 MHz（同上） |

> **來源**：S100_Overview_Spec.markdown（多處引用）

---

### 哪個更適合您的產品？

要做出最佳選擇，需要了解您產品的測試需求，例如：

1. **邏輯 I/O 通道需求**：需要 768 通道還是 1536 通道？
2. **電壓/電流測量範圍**：是否需要更高的電壓（如 +80 V）或更大電流（±2 A）？
3. **測試頻率與時序**：是否需要更高的時序解析度或更快的測試速度？
4. **Pattern 記憶體容量**：128 M 是否足夠，還是需要更大容量？
5. **成本與空間限制**：您是否有空間或預算限制？

請提供上述資訊，我將根據 S100 的規格文件為您推薦最合適的型號。
```

預期答案:
```
S100-7D 配備 6 個功能板插槽，支援最多 768 個通道，適合中小規模測試，如微控制器或光感測器。S100-15D 配備 12 個插槽，支援最多 1536 個通道，適合更複雜或高通道數的產品，如高密度數位電路。若產品需要更多通道，S100-15D 更合適；否則 S100-7D 更具成本效益。
```

-- 評分結果 --
分數: 70 分
總結: 匹配 2/3 核心點（插槽、通道），缺少推薦結論扣 33 分；額外正確補充（Pattern 記憶體、系統時鐘）加 3 分，最終 70 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #9 ###
問題: S100 的 LOG1 板卡可以用來做什麼？有多大的記憶體？

AI 回應:
```
**LOG1 功能板用途**  
| 功能 | 主要應用 | 相關單元 |
|------|----------|----------|
| **高速邏輯測試** | 100 MHz 系統時鐘下的邏輯 I/O 驗證 | LOG1 的邏輯 I/O 通道（768/1536） |
| **Pattern 產生** | 產生並儲存測試 Pattern，用於邏輯與功能測試 | 128 M Pattern Memory |
| **功能測試** | 透過 DPS、PPMU、GPMU 等單元執行電壓/電流 Force 與 Measure | LOG1 的 DPS、PPMU、GPMU 等 |

**記憶體規格**  
- **Pattern Memory**：128 M（可用於儲存測試 Pattern，支援高速邏輯與功能測試）【來源：LOG1_Overview_Spec.markdown】  

> LOG1 主要用於 S100-7D / S100-15D 平台的邏輯與 Pattern 產生，並提供高達 100 MHz 的測試速度。其 128 M Pattern Memory 允許在單一板卡上儲存大量測試序列，提升測試效率。
```

預期答案:
```
LOG1 板卡用於高速邏輯測試和圖案生成，適用於數位電路或微控制器測試。其圖案記憶體深度為 128M，可儲存大量測試數據，支援複雜邏輯測試。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配參考答案核心點（高速邏輯測試、Pattern 產生、128M 記憶體），且補充正確相關資訊（100 MHz、DPS/PPMU/GPMU 等），無錯誤或矛盾，得分最高。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #10 ###
問題: S100 的 MVI 板卡在測量高電壓時有多精確？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的高電壓測量範圍或所需精度需求（例如 HVPMU 的測量範圍、是否需要 80 V 以上的精度等）。
```

預期答案:
```
MVI 板卡在HVPMU最高電壓範圍 E4 (+80V) 的電壓精度為 ±(測量值的 0.01% + 8mV)，校準後可達 ±(測量值的 0.01% + 4mV)，適合高電壓高精度應用。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 回覆包含「查無此資訊」及請求更多細節，符合中性回應規則，直接給 40 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #11 ###
問題: S100 可以同時測量很多不同的電子元件嗎？

AI 回應:
```
**S100 能否同時測量多種電子元件？**  
是的，S100 的模組化設計與 LOG1 / MVI 功能板的組合，使其能在同一時間內對多個元件進行並行測試。以下以可查詢到的規格為基礎，說明其並行測試能力。

| 參數 | S100‑7D | S100‑15D | 主要功能板 | 典型測試範圍 |
|------|--------|----------|-----------|--------------|
| **最大通道數** | 768 | 1536 | 取決於 LOG1 / MVI 配置 | 768/1536 個邏輯 I/O 或電壓/電流通道 |
| **邏輯 I/O** | 768 | 1536 | LOG1 | 100 MHz 系統時鐘，128 M Pattern Memory |
| **電壓/電流 Force / Measure** | 透過 LOG1 / MVI | 透過 LOG1 / MVI | LOG1：±40 V、±250 mA；MVI：±40 V、±2 A、1.526 pA 分辨率 |
| **可測試產品** | MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel、SSD、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor 等 | 同上 | 依功能板組合可覆蓋多種應用 |

### 主要說明

1. **通道數量**  
   - S100‑7D 內建 6 個功能板槽位，最多可配置 768 個測試通道。  
   - S100‑15D 內建 12 個功能板槽位，最多可配置 1536 個測試通道。  
   這些通道可同時用於邏輯測試、電壓/電流輸出（Force）或測量（Measure）。

2. **功能板組合**  
   - **LOG1**：提供邏輯 I/O、Pattern 產生、電源供應（DPS）等功能。  
   - **MVI**：提供高精度電壓/電流測量與輸出（MCPMU、HVPMU、PPMU 等），可擴展至 ±80 V、±2 A。  
   兩板可同時安裝於同一機台，實現邏輯與精密電測的並行測試。

3. **測試範圍**  
   - **邏輯測試**：可同時對多個 MCU、DSP、FPGA 等邏輯元件進行 Pattern 驗證。  
   - **電壓/電流測試**：可同時對多個電源管理 IC、電流感測器、電壓參考等進行 Force/Measure。  
   - **多元件協同測試**：例如在同一測試流程中，同時驗證 MCU 的邏輯輸出與其供電電壓的穩定性。

### 結論

根據 S100‑7D / S100‑15D 的規格與 LOG1 / MVI 功能板的能力，S100 能在同一時間內對數百至千多個通道進行並行測試，涵蓋邏輯、電壓、電流等多種測試需求，適合大規模、複雜的 IC 測試流程。
```

預期答案:
```
可以，S100-7D 支援 768 個通道，S100-15D 支援 1536 個通道，可同時測試多個元件或接腳。其模組化設計允許靈活配置 MVI 和 LOG1 板卡，滿足多種測試需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（通道數、同時測試、多板卡配置），無矛盾或錯誤，補充資訊正確且相關，故給最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #12 ###
問題: S100 的 LOGIC Board 支援的最大頻率是多少？

AI 回應:
```
S100 的 LOGIC Board（LOG1）支援的最大頻率為 **100 MHz**。  
（來源：LOG1 規格文件中「最大速度為 100 MHz」及「LOG1 板卡支援最高 100 MHz 的高速邏輯測試」說明）
```

預期答案:
```
S100 的 LOGIC Board (即 LOG1 板) 支援的最大頻率為 100MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（100 MHz），補充來源正確且無錯誤，未扣分，最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #13 ###
問題: S100 的 PMU 在電壓 Force 模式下的精度如何？

AI 回應:
```
**S100 PMU – 電壓 Force 模式下的 Accuracy**

| 功能單元 | 模式 | 範圍 | Resolution | **Accuracy** |
|----------|------|------|------------|--------------|
| PMU | Force E1 (電壓) | ±10 V | 305.18 µV | ±(value × 0.01 % + 2 mV) |

- **Accuracy** 以「value」為基準，計算方式為：  
  \[
  \text{Accuracy} = \pm\bigl(\text{value}\times0.01\% + 2\,\text{mV}\bigr)
  \]
  其中「value」即實際施加的電壓（範圍 ±10 V）。

> 來源：S100_Overview_Spec.markdown（PMU Force E1 相關表格）。
```

預期答案:
```
S100 的 PMU 在電壓 Force 模式下的精度因板卡而異。以 LOG1 板的 PMU (GPMU) 為例，在 E1 範圍 (±10V) 下，解析度為 305.18uV，精度為 ±(測量值的 0.01% + 2mV)，適合高精度電壓控制。
```

-- 評分結果 --
分數: 52 分
總結: 匹配 3/6 核心點（解析度、範圍、精度公式），缺少板卡依賴與適用性說明，扣 50%，無錯誤，正確補充來源加 2 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #14 ###
問題: LOGIC Board 的 TMU 的量測精確度為多少？

AI 回應:
```
查無此資訊，請確認您指的是哪一款 LOGIC Board（例如 LOG1 或 MVI）以及您需要的精確度類型（時間、電壓等）。若能提供更具體的板卡名稱或規格需求，我將協助您查詢。
```

預期答案:
```
LOGIC Board (LOG1) 的 TMU 量測精確度為 ±1 SYSTEM_CLK/AVG 。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 回答包含「查無此資訊」及請求更多細節，屬中性回應，無核心點匹配，直接給 40 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #15 ###
問題: LOGIC Board 的 PMU，其電壓 Force 的精確度？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。
```

預期答案:
```
LOGIC Board (LOG1) 的 PMU (GPMU) 在電壓 Force 模式下，於 E1 範圍 (±10V) 的精確度為 ±(測量值的 0.01% + 2mV)。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 回答包含「查無此資訊」等關鍵詞，符合中性回應規則，直接給 40 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #16 ###
問題: LOGIC Board 有幾組 PMU？

AI 回應:
```
LOG1（LOGIC Board）每板卡配備 **16 組 PMU**。
```

預期答案:
```
每塊 LOGIC Board (LOG1) 有 16 組 PMU 可使用。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心資訊「16 組 PMU」，無錯誤或多餘內容，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #17 ###
問題: S100 是用來測試哪些類型的產品？

AI 回應:
```
S100 可用於測試的產品類型（摘自《S100_Overview_Spec.markdown》）：

- 32‑bit MCU  
- ADC / DAC  
- Audio / Video  
- Touch‑Panel Controller  
- SSD Controller  
- Super I/O  
- Card Reader  
- Setup Box  
- Light Sensor  
- MEMS  
- USB 3.0  
- RF WIFI / RF Bluetooth  
- RF Power Amp  
- HV Car‑used Power  

以上列舉涵蓋了 S100 在不同型號（S100‑7D、S100‑15D）與功能板（LOG1、MVI）配置下可支援的主要測試產品。
```

預期答案:
```
S100 可以測試以下產品類型：
    1. 數位：數位控制器、快閃記憶體控制器、USB 控制器、32 位元 MCU
    2. 混合信號：機上盒、音訊/影像、觸控控制器、ADC/DAC
    3. Power: Super I/O、Power Management IC、Automotive
    4. 其他：MEMS、CIS、RF
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 評估答案包含多項不在參考答案中的產品類型，與參考資訊不符，屬於明顯錯誤，按規則直接給 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #18 ###
問題: S100 機台的測試頻率是多少？

AI 回應:
```
S100 的測試頻率為 **100 MHz**（系統時鐘），由 LOG1 或 MVI 功能板的時序子系統決定。  
來源：S100_Overview_Spec.markdown（測試速度說明）。
```

預期答案:
```
S100 機台的測試頻率為 100MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（100 MHz），補充資訊正確且相關，無錯誤，得最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #19 ###
問題: 介紹 S100

AI 回應:
```
**S100 系列測試平台概述**  
（資料來源：S100_Overview_Spec.markdown 及 LOG1_Overview_Spec.markdown，發布於 2025‑10‑09）

| 參數 | S100‑7D | S100‑15D |
|------|---------|----------|
| **最大通道數** | 768 | 1536 |
| **功能板槽位** | 6 | 12 |
| **系統時鐘** | 100 MHz | 100 MHz |
| **Pattern 記憶體** | 128 Mbit | 128 Mbit |
| **支援產品** | 32‑bit MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel、SSD、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、MEMS、USB 3.0、RF Wi‑Fi、RF Bluetooth、RF Power Amp、HV Car‑used Power 等 | 同上 |

---

### 1. 功能板配置

| 功能板 | 主要功能 | 典型單元 | 典型範圍（Force / Measure） | Resolution | Accuracy |
|--------|----------|----------|------------------------------|------------|----------|
| **LOG1** | 邏輯 I/O、基本電源供應 | DPS (Device Power Supply) | **Force I3**: ±250 µA<br>**Force I6**: ±250 mA | 1.91 nA / 1.91 µA | ±(value × 0.1 % + 250 nA / 250 µA) |
| | | PPMU (Per‑Pin Parametric Measurement Unit) | **Force E1**: –0.5 V → +3.5 V<br>**Force E2**: –1 V → +7 V | 61 µV / 122 µV | ±7.5 mV / ±15 mV |
| | | | **Force I7**: ±250 µA | 1.91 nA | ±(value × 0.1 % + 250 nA) |
| | | | **Force I6**: ±250 mA | 1.91 µA | ±(value × 0.1 % + 250 µA) |
| **MVI** | 高精度電壓/電流測量、動態 Force/Measure | HVPMU (High‑Voltage Power‑Measurement Unit) | **Force E4**: +80 V (max)<br>**Force I1**: ±200 nA<br>**Force I2**: ±2 µA | 6.104 pA / 61.036 pA | ±5 nA |
| | | | **Force I7**: ±200 mA | 6.1036 µA | ±(value × 0.01 % + 100 µA) |
| | | | **Force I4**: ±200 µA | 6.1036 nA | ±(value × 0.01 % + 100 nA) |
| | | | **Force E1**: ±10 V | 305.18 µV | ±(value × 0.01 % + 2 mV) |
| | | | **Force E1 (PMU)**: ±10 V | 305.18 µV | ±(value × 0.01 % + 2 mV) |
| | | | **Force E1 (DPS)**: –1 V → +15 V | 244.14 µV | ±(value × 0.01 % + 1.5 mV) |

> **注意**：  
> - LOG1 的 PPMU 最高電壓範圍為 ±11.8 V，電流範圍 ±32 mA。  
> - MVI 的 HVPMU 可擴展至 +80 V，最小電流可達 ±200 nA。  
> - 所有電壓/電流範圍均以「Force」或「Measure」模式提供，具體取決於功能板配置。

---

### 2. 系統極值規格（基於 LOG1 / MVI 配置）

| 參數 | 值 | 來源 |
|------|----|------|
| **最大電壓** | +80 V（MVI HVPMU Force E4） | CONTEXT 18 |
| **最小電壓** | –40 V（MVI MCPMU Force/Measure E4） | CONTEXT 18 |
| **最大電流** | ±2 A（透過 MCPMU 或 HVPMU） | CONTEXT 6 |
| **最小電流** | ±200 nA（MVI MCPMU/HVPMU Force/Measure I1） | CONTEXT 1, 11 |

---

### 3. 主要特點

| 特點 | 說明 |
|------|------|
| **模組化硬體** | LOG1、MVI 等功能板可任意插入槽位，靈活配置。 |
| **高速測試** | 100 MHz 系統時鐘，支援高速邏輯與數位訊號處理。 |
| **高通道數** | 768（S100‑7D）/ 1536（S100‑15D）邏輯 I/O 通道。 |
| **高精度測量** | 1.526 pA 最小 Resolution（MVI MCPMU/HVPMU Measure I1）。 |
| **廣泛應用** | 支援 MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel、SSD、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、MEMS、USB 3.0、RF 等。 |

---

> **建議**：根據測試需求選擇 LOG1 或 MVI 配置，並參考上述範圍與解析度表格，以確保符合電壓、電流與精度要求。若需更高電壓或更低電流，請確認功能板是否具備相應單元（如 HVPMU、MCPMU）。  

如需更詳細的單元規格或特定應用案例，請告知具體需求（例如「需要測試 5 V 100 mA 低噪聲電源」），我們將提供更精準的參考資訊。
```

預期答案:
```
S100 是一款專為半導體 IC 測試設計的設備，包含兩種機型：S100-7D 和 S100-15D。S100-7D 配備 6 個功能板插槽，支援最多 768 個邏輯 I/O 通道；S100-15D 配備 12 個插槽，支援最多 1536 個通道。S100 支援 MVI 和 LOG1 功能板卡，提供高速邏輯測試 (100MHz)、多電壓電流測量 (最高 80V、2A) 和高精度時序分析 (高達 6.4GHz)，適合測試微控制器、ADC/DAC 等產品。
```

-- 評分結果 --
分數: 92 分
總結: 匹配 8/9 核心點（缺少 6.4 GHz 時序分析），無錯誤；額外正確補充（功能板細節、極值規格）加 3 分，總分 92。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #20 ###
問題: 若客戶需要客製化的測試方案，S100 機台是否能提供彈性配置？

AI 回應:
```
**S100 系統的彈性配置能力**  

| 功能板 | 主要功能 | 典型 **Range**（電壓/電流） | **Resolution** | **Accuracy** | 典型 **Pattern** / **Force / Measure**  |
|--------|----------|-----------------------------|----------------|--------------|----------------------------------------|
| **LOG1** | 邏輯 I/O、Pattern 產生、基本電源供應 | ±11.8 V (PPMU) / ±32 mA (PPMU) | 1 µV (PPMU) | ±0.01 % + 0.5 mV | 100 MHz 系統時鐘，Pattern 記憶體 128 M |
| **MVI** | 高精度電壓/電流 Force & Measure、動態測試 | ±80 V (HVPMU) / ±2 A (MCPMU/HVPMU) | 1.526 pA (MCPMU) | ±0.01 % + 0.5 mV | 100 MHz 系統時鐘，支持多通道高精度測量 |
| **MCPMU** | 低電流測量 | ±40 V / ±2 A | 1.526 pA | ±0.01 % + 0.5 mV | 低噪聲電流測試 |
| **HVPMU** | 高壓電源 | ±80 V | 1 µV | ±0.01 % + 0.5 mV | 高壓測試 |

### 主要彈性特點
1. **模組化硬體架構**  
   - 任何功能板（LOG1、MVI、MCPMU、HVPMU 等）可放置於任意槽位。  
   - S100‑7D 具 6 個槽位，S100‑15D 具 12 個槽位，使用者可按需配置不同數量與類型的板卡。  

2. **通道與測試容量可擴充**  
   - LOG1 或 MVI 配置決定最大通道數：S100‑7D 768 通道 / S100‑15D 1536 通道。  
   - 透過增加 MVI 或 LOG1，使用者可提升電壓/電流測量容量與精度。  

3. **多樣化測試需求支援**  
   - **邏輯測試**：LOG1 提供高速 Pattern 產生與邏輯 I/O。  
   - **電壓/電流測試**：MVI、MCPMU、HVPMU 提供 ±80 V、±2 A 的 Force/Measure。  
   - **高精度低噪聲測試**：MCPMU 低電流測量（±200 nA）。  

4. **客製化配置流程**  
   - 先確定測試項目（邏輯、電壓、電流、時序等）。  
   - 選擇相應功能板並配置至槽位。  
   - 透過 S100 軟體設定 **Pattern**、**Force**、**Measure** 參數，並驗證 **Resolution**、**Accuracy**。  

### 風險提示  
- **電壓上限**：MVI HVPMU 最高 ±80 V，超過此範圍需另行配置。  
- **電流上限**：MCPMU/HVPMU 最高 ±2 A，若需更高電流請確認板卡支援。  

> **結論**：S100 系統具備高度彈性配置能力，能根據客戶的客製化測試需求自由組合 LOG1、MVI 及其他功能板，並提供相應的 **Range**、**Resolution**、**Accuracy** 參數，滿足多樣化的測試場景。
```

預期答案:
```
S100 能夠提供客製化測試方案，其模組化設計允許靈活配置 MVI 和 LOG1 板卡，並可搭配額外模組或儀器以滿足特殊產品測試需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（客製化、模組化、MVI/LOG1 配置），無錯誤，額外正確補充資訊，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #21 ###
問題: S100 有分成幾種機型？其特色與差異為何？

AI 回應:
```
**S100 系列機型**

| 參數 | **S100‑7D** | **S100‑15D** |
|------|-------------|--------------|
| **機型名稱** | S100‑7D | S100‑15D |
| **最大通道數** | 768 | 1,536 |
| **功能板槽位數** | 6 | 12 |
| **邏輯 I/O 通道** | 768 | 1,536 |
| **Pattern 記憶體** | 128 M | 128 M |
| **系統時鐘** | 100 MHz | 100 MHz |
| **支援功能板** | LOG1、MVI | LOG1、MVI |
| **主要應用** | 低至中等通道需求（如 MCU、ADC、DAC、Audio、Video 等） | 高通道需求（如 SSD Controller、RF WIFI、RF Bluetooth、HV Car‑used Power 等） |

### 特色與差異

| 差異項目 | S100‑7D | S100‑15D |
|----------|---------|----------|
| **通道容量** | 768 通道，適合單一或少量功能板配置 | 1,536 通道，支持雙倍功能板配置，適合大規模測試 |
| **功能板槽位** | 6 個槽位，限制可同時安裝的 LOG1/MVI 數量 | 12 個槽位，允許更多功能板並行工作 |
| **硬體擴充性** | 受限於 6 個槽位，擴充性較低 | 受限於 12 個槽位，擴充性較高 |
| **成本** | 相對較低，適合預算有限的測試需求 | 相對較高，適合需要高通道數的專業測試 |
| **適用產品** | 主要針對中小型 IC（如 MCU、ADC、DAC、Audio、Video 等） | 主要針對高通道需求的產品（如 SSD Controller、RF WIFI、RF Bluetooth、HV Car‑used Power 等） |

> **來源**  
> - S100 概述規格（機型、通道、槽位）【CONTEXT 32】【CONTEXT 30】【CONTEXT 28】  
> - 邏輯 I/O 通道與 Pattern 記憶體【CONTEXT 13】【CONTEXT 18】  
> - 功能板支援與應用範圍【CONTEXT 23】【CONTEXT 31】  

如需進一步了解特定功能板（LOG1 或 MVI）在不同機型中的實際電壓/電流範圍、解析度或精度，請告知，我將為您查詢相關規格。
```

預期答案:
```
S100 分為 S100-7D 和 S100-15D 兩種機型：
    - S100-7D：6 個功能板插槽，768 個通道，適合中小規模測試。
    - S100-15D：12 個功能板插槽，1536 個通道，適合高通道數或複雜測試。
    兩者均支援 MVI 和 LOG1 板卡，差異在於通道數和插槽數，S100-15D 更適合高密度或多通道應用。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（兩機型、插槽、通道、支援板卡），無錯誤，補充正確資訊（記憶體、時鐘、成本等）可加分，最終得分100。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #22 ###
問題: S100 有多少個 User Relay 可以用？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。
```

預期答案:
```
S100-7D 有 96 個 User Relay，S100-15D 有 128 個 User Relay。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 40分，因包含「查無此資訊」關鍵詞，視為中性回應，無核心點匹配。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #23 ###
問題: S100 是否可以測記憶體相關的產品？

AI 回應:
```
S100 的規格文件中列出了可測試的產品類型，其中包含 **SSD Controller**（屬於記憶體相關產品）。  
但文件並未明確說明對 DRAM、SRAM、NAND Flash 等純記憶體模組的支援情況。  

請問您想測試的是哪一類記憶體產品（例如 DRAM、SRAM、NAND Flash、SSD Controller 等）？這樣我才能確認是否符合 S100 的測試範圍。
```

預期答案:
```
S100 可測試記憶體容量較小的產品，如快閃記憶體 (Flash Memory)，最大支援 128M 圖案記憶體，無法測試大容量主記憶體 (如數 GB 或 TB)。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 參考答案核心點（可測小容量 Flash、128M 上限、無法測大容量主記憶體）完全未被傳達，且答覆中對 NAND Flash 支援的否定與參考答案相衝突，屬於錯誤資訊，直接評 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #24 ###
問題: LOG1 板的 DVM 在 GAIN1 範圍下的精度如何？

AI 回應:
```
**LOG1 DVM – GAIN1 範圍下的 Accuracy**

| 參數 | 值 |
|------|------------------------------|
| **Range** | ±10 V |
| **Resolution** | 305.17 µV |
| **Accuracy** | ±(value × 0.01 % + 1 mV) |

> **說明**：在 GAIN1（±10 V）範圍內，DVM 的測量精度為 ±(value × 0.01 % + 1 mV)。  
> 來源：LOG1 DVM 規格（Context 31）。
```

預期答案:
```
LOG1 板的 DVM 在 GAIN1 範圍 (±10V) 下的精度為 ±(測量值的 0.01% + 1mV)。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（±10 V 範圍與 ±(測量值×0.01%+1 mV) 精度），額外正確補充範圍與解析度，無錯誤或幻覺，得最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #25 ###
問題: LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率是多少？

AI 回應:
```
**LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率**  
| 參數 | 值 | 來源 |
|------|----|------|
| Maximum Measure Frequency | **300 MHz** | LOG1_TMU_Spec.markdown（第 0、1、3、43、45 等文件） |

因此，LOG1 板的 TMU 最高可測量 300 MHz 的信號頻率。
```

預期答案:
```
LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率為 300MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心資訊（300 MHz），無錯誤或遺漏，補充來源正確，未扣分，最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #26 ###
問題: S100 的 Pattern Memory 深度是多少？

AI 回應:
```
S100 的 **Pattern Memory Depth** 為 **128 M**。  
- 來源：LOG1 PE Spec（Pattern Memory 128M）以及 S100 Overview Spec（Pattern Memory 128M，透過 LOG1 或 MVI 功能板提供）。
```

預期答案:
```
S100 的 Pattern Memory 深度為 128M，來自 LOG1 板的規格。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（128M 深度），並正確引用 LOG1 規格；額外補充 S100 Overview Spec 及 MVI 功能板資訊正確，無錯誤或矛盾，故給 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #27 ###
問題: S100 是否支援 ADC 和 DAC 的測試？

AI 回應:
```
是的，S100 支援 **ADC** 與 **DAC** 的測試（Measure）。  
根據 S100 概述規格文件（來源：S100_Overview_Spec.markdown），平台可測試多種產品，其中明確列出「ADC、DAC」作為可測試項目。
```

預期答案:
```
是的，S100 支援 ADC 和 DAC 的測試，特別是透過 MVI 板的 MCPMU 和 DVM 進行高精度電壓和電流測量，以及 LOG1 板的邏輯測試功能。
```

-- 評分結果 --
分數: 33 分
總結: 匹配 1/3 核心點（支援 ADC/DAC），缺少 MVI/MCPMU/DVM 與 LOG1 相關細節，無錯誤或幻覺，得 33 分。
### 測試案例結束 ###


參數組 #6 完成，平均分數: 67.96
--------------------------------------------------------------------------------
================================================================================
開始新一輪測試
Parameters:
openAiTemp: 0
similarityThreshold: 0.5
chatModel: gpt-oss:20b
topN: 320
vectorSearchMode: rerank
openAiPrompt: ## 角色與核心目標
你是一位 S100 半導體 IC 測試機的技術與應用顧問，目標是從 RAG 系統檢索 S100 及其功能板卡（LOG1、MVI）的規格，提供精確、實用的回應，協助用戶決策。

## 術語標準化
在所有回應中，必須使用以下標準化英文術語，並確保單位一致（如 V、A、Hz）：
- 「解析度」顯示為 **Resolution**。
- 「精度」顯示為 **Accuracy**。
- 「範圍」顯示為 **Range**。
- 「圖案」顯示為 **Pattern**。
- 「輸出」顯示為 **Force**。
- 「測量」顯示為 **Measure**。

## 核心原則與行為準則
1. **絕對依賴 RAG 系統**：
   - 所有回答必須基於 RAG 系統檢索的文件內容，禁止猜測或使用外部知識。
2. **結構化輸出**：
   - 使用表格、項目符號或有序列表呈現規格數據，確保清晰易讀。
3. **誠實透明與避免幻覺**：
   - 若 RAG 系統無相關資料、不完整或僅找到類似內容，禁止猜測，必須以反問方式詢問使用者更多細節，例如：「查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。」
   - 若資料不匹配查詢，立即反問：「您的查詢與可用規格不符，請澄清詳細需求。」
4. **風險警示**：
   - 若規格有限制（如電壓上限），簡要警示，但僅限相關查詢。
5. **回應精簡**：
   - 僅針對用戶查詢提供直接相關回應，禁止額外補充、講解或無關資訊。
6. **回應語言**：
   - 所有回應使用中文，保持專業、清晰。

## 查詢處理機制
1. **通用查詢**：
   - 自動檢索 LOG1 和 MVI 的規格，比較後回應，並說明來源。
2. **比較性查詢**：
   - 提供對比表格，列出關鍵規格，並總結差異。
3. **應用型查詢**：
   - 分析需求關鍵詞，匹配最適合的功能板卡，引用規格說明推薦理由。
4. **查詢驗證**：
   - 每次回應前，確認 RAG 資料的相關性；若不符，轉為反問使用者澄清。

================================================================================

### 測試案例 #1 ###
問題: S100 是一台什麼樣的機器？可以用來做什麼？

AI 回應:
```
**S100 是什麼？**  
- **類型**：高速、低成本的 **測試平台**，專為 **SoC IC** 測試設計。  
- **架構**：模組化硬體，支援 **LOG1** 與 **MVI** 功能板，兩款型號（S100‑7D / S100‑15D）分別提供 6 / 12 個功能板槽位。  
- **關鍵參數**  
  - **系統時鐘**：100 MHz  
  - **邏輯 I/O 通道**：768（S100‑7D） / 1536（S100‑15D）  
  - **Pattern 記憶體**：128 M（由 LOG1 / MVI 提供）  

**S100 可以做什麼？**  
| 測試類型 | 主要功能 | 相關功能板 | 典型應用 |
|----------|----------|-----------|----------|
| **邏輯測試** | 高速邏輯 I/O、Pattern 產生 | LOG1 | 32‑bit MCU、DSP、ASIC |
| **功能測試** | 端到端功能驗證 | LOG1 / MVI | ADC、DAC、Audio、Video |
| **參數測量** | 電壓/電流 Force & Measure、精密測量 | MVI（MCPMU、HVPMU、PPMU） | MEMS、RF WIFI、RF Bluetooth、HV Car‑used Power |
| **時序測試** | 週期、延遲、邏輯時序 | LOG1 | 連接器、總線協定 |
| **多產品測試** | 同時支援多種產品類型 | LOG1 / MVI | SSD Controller、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、USB 3.0 |

**總結**  
S100 是一台可擴充、模組化的測試平台，能夠在同一機台上完成邏輯、功能、參數與時序等多種測試，適用於從 MCU、ADC、DAC 到 RF、HV 供電等多樣化的 SoC 產品。
```

預期答案:
```
S100 是一款用於測試積體電路 (IC) 的高速度、低成本設備，專為系統單晶片 (SoC) 測試設計。它採用模組化硬體架構，支援 MVI 和 LOG1 功能板卡，適用於邏輯測試、多電壓電流測量及時序分析，可用於檢查電子產品如微控制器、感測器等的性能，確保其正常運作。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配所有核心點，無錯誤或矛盾，且提供正確且相關的補充資訊，符合最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #2 ###
問題: S100 可以測試哪些東西？

AI 回應:
```
S100 可用於測試的產品範圍相當廣泛，主要涵蓋以下類別（根據《S100_Overview_Spec.markdown》文件）：

- 32‑bit MCU  
- ADC / DAC  
- Audio / Video  
- Touch Panel Controller  
- SSD Controller  
- Super I/O  
- Card Reader  
- Setup Box  
- Light Sensor  
- MEMS  
- USB 3.0  
- RF WIFI  
- RF Bluetooth  
- RF Power Amp  
- HV Car‑used Power  

這些產品皆可透過 LOG1 或 MVI 功能板組合，利用 S100 的邏輯 I/O、Pattern 產生、電壓/電流 Force 與 Measure 等核心功能完成測試。
```

預期答案:
```
S100 可以測試多種電子產品，包括 32 位元微控制器 (MCU)、類比數位轉換器 (ADC)、數位類比轉換器 (DAC)、音訊和影像晶片、觸控面板控制器、固態硬碟控制器、卡片閱讀器、機上盒及光感測器等。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 參考答案未提及 Super I/O、Setup Box、MEMS、USB 3.0、RF WIFI/Bluetooth、RF Power Amp、HV Car‑used Power 等項目，答案加入了多項未被確認的內容，視為不符/幻覺，直接給 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #3 ###
問題: S100 的最高電壓是多少？可以用來測高電壓的東西嗎？

AI 回應:
```
**S100 最高電壓（取決於功能板配置）**

| 功能板 | 最高電壓 **Range** | 典型 **Resolution** | 典型 **Accuracy** |
|--------|-------------------|---------------------|-------------------|
| **LOG1**（PPMU） | ±11.8 V | 1 mV | ±0.5 % + 5 mV |
| **MVI**（HVPMU） | **+80 V** | 10 µV | ±0.01 % + 0.5 mV |

> **說明**  
> - LOG1 只能提供 ±11.8 V 的電壓輸出。  
> - MVI 的 HVPMU 選項可擴展至 +80 V，適合高電壓測試。  
> - 最高電壓取決於您在 S100 上安裝的功能板；若未安裝 MVI HVPMU，則最高只能到 LOG1 的 ±11.8 V。

**是否能測試高電壓裝置？**  
是的，當您在 S100 上安裝 **MVI HVPMU** 時，平台可提供最高 +80 V 的電壓輸出，足以測試大多數高電壓應用（如 HV 車用電源、RF 高壓模組等）。若僅安裝 LOG1，則只能測試低於 ±12 V 的裝置。

**風險提示**  
- 高電壓測試必須確保已安裝 MVI HVPMU，並遵守安全操作手冊。  
- 若未安裝相應功能板，請勿嘗試將 S100 連接至高於 ±12 V 的裝置，以免造成設備損壞或安全事故。
```

預期答案:
```
S100 的最高輸出電壓為 80V，來自 MVI 板的 HVPMU (E4 範圍，0V 至 +80V)，適合測試高電壓應用，如高壓電源相關元件。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（80V、MVI HVPMU、適用於高電壓測試），無錯誤，額外正確補充資訊，得最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #4 ###
問題: S100 可以測量多小的電流？

AI 回應:
```
**S100 可測量的最小電流（Resolution）**

| 功能板 | 單元 | 模式 | 最小 Resolution（電流） |
|--------|------|------|------------------------|
| MVI | MCPMU / HVPMU | Measure I1 | **1.526 pA** |

> **說明**  
> - 這是根據 MVI 功能板的 MCPMU/HVPMU Measure I1 單元所列的最小分辨率。  
> - 其他單元（如 LOG1 的部分 I‑range）最低可達 ±200 nA，但其分辨率高於 1.526 pA。  
> - 以上數值均來自 S100 規格文件（`MVI_Overview_Spec.markdown` 及 `S100_Overview_Spec.markdown`）。

**結論**  
S100 在配置 MVI 功能板時，能以 1.526 pA 的分辨率測量電流，這是目前可達的最小電流測量精度。
```

預期答案:
```
S100 的最小電流解析度為 1.526pA。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點1.526 pA，補充資訊正確且相關，無錯誤或矛盾，得分100。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #5 ###
問題: S100 測量電流有多準確？

AI 回應:
```
**S100 測量電流的精度（Accuracy）**

| 功能板 | 單元 | 模式 | 量測範圍（Range） | 分辨率（Resolution） | 精度（Accuracy） |
|--------|------|------|-------------------|----------------------|------------------|
| **LOG1** | DPS (Device Power Supply) | Force I6 | ±250 mA | 1.91 µA | ±(value × 0.1 % + 250 µA) |
| **MVI** | MCPMU / HVPMU | Measure I1 | 參見單元規格表（未列出） | 1.526 pA | 未在文件中明確列出（僅提供分辨率） |

> **說明**  
> - LOG1 的 DPS 單元在「Force I6」模式下，電流測量精度為 **±(value × 0.1 % + 250 µA)**。  
> - MVI 的 MCPMU/HVPMU 單元提供極高的分辨率（1.526 pA），但文件中未給出對應的精度數值。  
> - 若需更精確的電流測量，建議使用 LOG1 DPS 的 Force I6 模式，或確認 MVI 單元的最新規格文件以取得精度資訊。  

**資料來源**  
- LOG1 DPS 單元規格（S100_Overview_Spec.markdown，Context 46）  
- MVI MCPMU/HVPMU 分辨率（Context 33）  

如需進一步確認 MVI 單元的精度或其他功能板的電流測量規格，請提供更具體的板卡名稱或需求。
```

預期答案:
```
S100 的最小電流精度為 ±5nA，來自 MVI 板的 MCPMU 或 HVPMU 。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 缺少核心精度 ±5nA，提供錯誤/未列出，與參考不符，故評0分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #6 ###
問題: S100 的速度有多快？可以用來測快速的電子元件嗎？

AI 回應:
```
**S100 平台的速度規格**

| 參數 | 內容 | 來源 |
|------|------|------|
| **系統時鐘** | 100 MHz | 【CONTEXT 13】【CONTEXT 34】 |
| **邏輯 I/O 通道** | 768 通道（S100‑7D） / 1536 通道（S100‑15D） | 【CONTEXT 13】 |
| **Pattern 記憶體** | 128 Mbit | 【CONTEXT 34】 |

**能否測試快速電子元件？**

- **適用範圍**：S100 以 100 MHz 系統時鐘為基礎，支援高速邏輯測試、Pattern 產生及功能測試。  
- **適合元件**：32‑bit MCU、ADC/DAC、Audio/Video、Touch Panel Controller、SSD Controller、Super I/O、Card Reader 等，皆可在 100 MHz 內完成邏輯與功能驗證。  
- **限制**：若元件需要超過 100 MHz 的邏輯時序或更高頻寬的測試，S100 可能無法滿足。此時需考慮更高速的測試平台或使用外部高速邏輯分析儀。

**結論**  
S100 的 100 MHz 系統時鐘足以支援大多數快速邏輯元件的測試，特別是針對 100 MHz 以內的時序需求。若測試對象的時序超過此頻率，請評估是否需要更高頻寬的測試解決方案。
```

預期答案:
```
S100 的系統時鐘速度為 100MHz，LOG1 板的 TMU 支援最高 300MHz 的測量頻率，MVI 板的 FTMU 支援高達 6.4GHz (高精度模式)，非常適合測試快速電子元件，如高速微控制器或數位信號處理晶片。
```

-- 評分結果 --
分數: 28 分
總結: 25%核心點匹配（系統時鐘），缺失LOG1 TMU 300MHz與MVI FTMU 6.4GHz等3項；補充正確相關資訊（通道、記憶體、適用元件）加3分，無錯誤，總分28。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #7 ###
問題: S100 有什麼特別的功能可以用來測不同的東西？

AI 回應:
```
**S100 平台的核心測試功能（依 LOG1 / MVI 功能板配置）**

| 功能 | 主要用途 | 重要規格（示例） | 參考文件 |
|------|----------|-----------------|----------|
| **高速邏輯測試** | 100 MHz 系統時鐘，支援 768（S100‑7D）/1536（S100‑15D）個邏輯 I/O 通道 | **Pattern** 128 Mbit | S100 Overview Spec |
| **Pattern 產生 / 讀取** | 128 Mbit Pattern Memory，適用於邏輯驗證、時序測試 | **Pattern** 128 Mbit | LOG1 Overview Spec |
| **電壓/電流 Force / Measure** | 透過 LOG1 / MVI 的 DPS、PPMU、MCPMU、HVPMU 等單元 | **Range**：±40 V（MVI） / ±80 V（HVPMU）<br>**Range**：±2 A（MCPMU/HVPMU）<br>**Resolution**：1.526 pA（MVI Measure I1）<br>**Accuracy**：±(value × 0.01 % + 0.5 mV) | S100 Overview Spec, MVI Overview Spec |
| **高精度電壓/電流測量** | 1 k 深度動態測量、Kelvin 連接 | **Resolution**：1.526 pA（MVI） | MVI Overview Spec |
| **多電壓 / 高電流測試** | 兼容多種電源需求（如 HV Car‑used Power） | **Range**：±80 V（HVPMU）<br>**Range**：±2 A（MCPMU/HVPMU） | MVI Overview Spec |
| **數位訊號處理** | 內建數位訊號處理核心，支援時序相關測試 | **時序子系統**：由 LOG1 / MVI 提供 | S100 Overview Spec |
| **靈活功能板配置** | 任意功能板可放於任意槽位，使用者可根據需求調整電壓/電流規格 | **槽位**：LOG1 6/12、MVI 6/12 | S100 Overview Spec |

### 主要應用領域
- **SoC / MCU**：邏輯驗證、時序測試、功耗測試  
- **ADC / DAC**：高精度電壓/電流測量、動態範圍驗證  
- **Audio / Video**：信號完整性、功率測試  
- **Touch Panel / SSD / Super‑I/O**：功能測試、耐久性測試  
- **RF / MEMS / 高壓應用**：利用 HVPMU 進行高壓/高電流測試  

> **提示**：若需更詳細的單元規格（如 PPMU、MCPMU 的具體 Range/Resolution/Accuracy），請參考 LOG1 / MVI 的單元規格表（S100 Overview Spec、LOG1 Overview Spec、MVI Overview Spec）。  

如需針對特定功能板（LOG1 或 MVI）或特定測試項目進一步比較，請告知，我將提供更精確的對比表。
```

預期答案:
```
S100 支援兩種功能板卡：LOG1 (用於高速邏輯測試和圖案生成，支援 128M 圖案記憶體) 和 MVI (用於多電壓電流和時序測試，支援高達 80V 和 2A)。這些板卡可靈活安裝於 S100 的插槽中，支援電壓、電流、時序及邏輯測試，滿足多樣化需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配所有核心點（LOG1、MVI、128M pattern、±80V/±2A、靈活安裝），無錯誤或矛盾，且提供正確且相關的補充細節，故給予最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #8 ###
問題: S100-7D 和 S100-15D 有什麼不一樣？哪個更適合我的產品？

AI 回應:
```
**S100-7D 與 S100-15D 的主要差異**  

| 參數 | S100‑7D | S100‑15D |
|------|--------|----------|
| **功能板槽位數** | 6 | 12 |
| **最大通道數** | 768（依 LOG1 或 MVI 配置） | 1536（依 LOG1 或 MVI 配置） |
| **Pattern 記憶體** | 128 M（透過 LOG1 或 MVI） | 128 M（透過 LOG1 或 MVI） |
| **系統時鐘** | 100 MHz（由 LOG1 / MVI 的時序子系統決定） | 100 MHz（同上） |

> **來源**：S100_Overview_Spec.markdown（多處引用）

---

### 哪個更適合您的產品？

要做出最佳選擇，需要了解您產品的測試需求，例如：

1. **邏輯 I/O 通道需求**：需要 768 通道還是 1536 通道？
2. **電壓/電流測量範圍**：是否需要更高的電壓（如 +80 V）或更大電流（±2 A）？
3. **測試頻率與時序**：是否需要更高的時序解析度或更快的測試速度？
4. **Pattern 記憶體容量**：128 M 是否足夠，還是需要更大容量？
5. **成本與空間限制**：您是否有空間或預算限制？

請提供上述資訊，我將根據 S100 的規格文件為您推薦最合適的型號。
```

預期答案:
```
S100-7D 配備 6 個功能板插槽，支援最多 768 個通道，適合中小規模測試，如微控制器或光感測器。S100-15D 配備 12 個插槽，支援最多 1536 個通道，適合更複雜或高通道數的產品，如高密度數位電路。若產品需要更多通道，S100-15D 更合適；否則 S100-7D 更具成本效益。
```

-- 評分結果 --
分數: 70 分
總結: 匹配 2/3 核心點（插槽、通道），缺少推薦結論扣 33 分；額外正確補充（Pattern 記憶體、系統時鐘）加 3 分，最終 70 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #9 ###
問題: S100 的 LOG1 板卡可以用來做什麼？有多大的記憶體？

AI 回應:
```
**LOG1 功能板用途**  
| 功能 | 主要應用 | 相關單元 |
|------|----------|----------|
| **高速邏輯測試** | 100 MHz 系統時鐘下的邏輯 I/O 驗證 | LOG1 的邏輯 I/O 通道（768/1536） |
| **Pattern 產生** | 產生並儲存測試 Pattern，用於邏輯與功能測試 | 128 M Pattern Memory |
| **功能測試** | 透過 DPS、PPMU、GPMU 等單元執行電壓/電流 Force 與 Measure | LOG1 的 DPS、PPMU、GPMU 等 |

**記憶體規格**  
- **Pattern Memory**：128 M（可用於儲存測試 Pattern，支援高速邏輯與功能測試）【來源：LOG1_Overview_Spec.markdown】  

> LOG1 主要用於 S100-7D / S100-15D 平台的邏輯與 Pattern 產生，並提供高達 100 MHz 的測試速度。其 128 M Pattern Memory 允許在單一板卡上儲存大量測試序列，提升測試效率。
```

預期答案:
```
LOG1 板卡用於高速邏輯測試和圖案生成，適用於數位電路或微控制器測試。其圖案記憶體深度為 128M，可儲存大量測試數據，支援複雜邏輯測試。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配參考答案核心點（高速邏輯測試、Pattern 產生、128M 記憶體），且補充正確相關資訊（100 MHz、DPS/PPMU/GPMU 等），無錯誤或矛盾，得分最高。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #10 ###
問題: S100 的 MVI 板卡在測量高電壓時有多精確？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的高電壓測量範圍或所需精度需求（例如 HVPMU 的測量範圍、是否需要 80 V 以上的精度等）。
```

預期答案:
```
MVI 板卡在HVPMU最高電壓範圍 E4 (+80V) 的電壓精度為 ±(測量值的 0.01% + 8mV)，校準後可達 ±(測量值的 0.01% + 4mV)，適合高電壓高精度應用。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 回覆包含「查無此資訊」及請求更多細節，符合中性回應規則，直接給 40 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #11 ###
問題: S100 可以同時測量很多不同的電子元件嗎？

AI 回應:
```
**S100 能否同時測量多種電子元件？**  
是的，S100 的模組化設計與 LOG1 / MVI 功能板的組合，使其能在同一時間內對多個元件進行並行測試。以下以可查詢到的規格為基礎，說明其並行測試能力。

| 參數 | S100‑7D | S100‑15D | 主要功能板 | 典型測試範圍 |
|------|--------|----------|-----------|--------------|
| **最大通道數** | 768 | 1536 | 取決於 LOG1 / MVI 配置 | 768/1536 個邏輯 I/O 或電壓/電流通道 |
| **邏輯 I/O** | 768 | 1536 | LOG1 | 100 MHz 系統時鐘，128 M Pattern Memory |
| **電壓/電流 Force / Measure** | 透過 LOG1 / MVI | 透過 LOG1 / MVI | LOG1：±40 V、±250 mA；MVI：±40 V、±2 A、1.526 pA 分辨率 |
| **可測試產品** | MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel、SSD、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor 等 | 同上 | 依功能板組合可覆蓋多種應用 |

### 主要說明

1. **通道數量**  
   - S100‑7D 內建 6 個功能板槽位，最多可配置 768 個測試通道。  
   - S100‑15D 內建 12 個功能板槽位，最多可配置 1536 個測試通道。  
   這些通道可同時用於邏輯測試、電壓/電流輸出（Force）或測量（Measure）。

2. **功能板組合**  
   - **LOG1**：提供邏輯 I/O、Pattern 產生、電源供應（DPS）等功能。  
   - **MVI**：提供高精度電壓/電流測量與輸出（MCPMU、HVPMU、PPMU 等），可擴展至 ±80 V、±2 A。  
   兩板可同時安裝於同一機台，實現邏輯與精密電測的並行測試。

3. **測試範圍**  
   - **邏輯測試**：可同時對多個 MCU、DSP、FPGA 等邏輯元件進行 Pattern 驗證。  
   - **電壓/電流測試**：可同時對多個電源管理 IC、電流感測器、電壓參考等進行 Force/Measure。  
   - **多元件協同測試**：例如在同一測試流程中，同時驗證 MCU 的邏輯輸出與其供電電壓的穩定性。

### 結論

根據 S100‑7D / S100‑15D 的規格與 LOG1 / MVI 功能板的能力，S100 能在同一時間內對數百至千多個通道進行並行測試，涵蓋邏輯、電壓、電流等多種測試需求，適合大規模、複雜的 IC 測試流程。
```

預期答案:
```
可以，S100-7D 支援 768 個通道，S100-15D 支援 1536 個通道，可同時測試多個元件或接腳。其模組化設計允許靈活配置 MVI 和 LOG1 板卡，滿足多種測試需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（通道數、同時測試、多板卡配置），無矛盾或錯誤，補充資訊正確且相關，故給最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #12 ###
問題: S100 的 LOGIC Board 支援的最大頻率是多少？

AI 回應:
```
S100 的 LOGIC Board（LOG1）支援的最大頻率為 **100 MHz**。  
（來源：LOG1 規格文件中「最大速度為 100 MHz」及「LOG1 板卡支援最高 100 MHz 的高速邏輯測試」說明）
```

預期答案:
```
S100 的 LOGIC Board (即 LOG1 板) 支援的最大頻率為 100MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（100 MHz），補充來源正確且無錯誤，未扣分，最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #13 ###
問題: S100 的 PMU 在電壓 Force 模式下的精度如何？

AI 回應:
```
**S100 PMU – 電壓 Force 模式下的 Accuracy**

| 功能單元 | 模式 | 範圍 | Resolution | **Accuracy** |
|----------|------|------|------------|--------------|
| PMU | Force E1 (電壓) | ±10 V | 305.18 µV | ±(value × 0.01 % + 2 mV) |

- **Accuracy** 以「value」為基準，計算方式為：  
  \[
  \text{Accuracy} = \pm\bigl(\text{value}\times0.01\% + 2\,\text{mV}\bigr)
  \]
  其中「value」即實際施加的電壓（範圍 ±10 V）。

> 來源：S100_Overview_Spec.markdown（PMU Force E1 相關表格）。
```

預期答案:
```
S100 的 PMU 在電壓 Force 模式下的精度因板卡而異。以 LOG1 板的 PMU (GPMU) 為例，在 E1 範圍 (±10V) 下，解析度為 305.18uV，精度為 ±(測量值的 0.01% + 2mV)，適合高精度電壓控制。
```

-- 評分結果 --
分數: 52 分
總結: 匹配 3/6 核心點（解析度、範圍、精度公式），缺少板卡依賴與適用性說明，扣 50%，無錯誤，正確補充來源加 2 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #14 ###
問題: LOGIC Board 的 TMU 的量測精確度為多少？

AI 回應:
```
查無此資訊，請確認您指的是哪一款 LOGIC Board（例如 LOG1 或 MVI）以及您需要的精確度類型（時間、電壓等）。若能提供更具體的板卡名稱或規格需求，我將協助您查詢。
```

預期答案:
```
LOGIC Board (LOG1) 的 TMU 量測精確度為 ±1 SYSTEM_CLK/AVG 。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 回答包含「查無此資訊」及請求更多細節，屬中性回應，無核心點匹配，直接給 40 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #15 ###
問題: LOGIC Board 的 PMU，其電壓 Force 的精確度？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。
```

預期答案:
```
LOGIC Board (LOG1) 的 PMU (GPMU) 在電壓 Force 模式下，於 E1 範圍 (±10V) 的精確度為 ±(測量值的 0.01% + 2mV)。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 回答包含「查無此資訊」等關鍵詞，符合中性回應規則，直接給 40 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #16 ###
問題: LOGIC Board 有幾組 PMU？

AI 回應:
```
LOG1（LOGIC Board）每板卡配備 **16 組 PMU**。
```

預期答案:
```
每塊 LOGIC Board (LOG1) 有 16 組 PMU 可使用。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心資訊「16 組 PMU」，無錯誤或多餘內容，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #17 ###
問題: S100 是用來測試哪些類型的產品？

AI 回應:
```
S100 可用於測試的產品類型（摘自《S100_Overview_Spec.markdown》）：

- 32‑bit MCU  
- ADC / DAC  
- Audio / Video  
- Touch‑Panel Controller  
- SSD Controller  
- Super I/O  
- Card Reader  
- Setup Box  
- Light Sensor  
- MEMS  
- USB 3.0  
- RF WIFI / RF Bluetooth  
- RF Power Amp  
- HV Car‑used Power  

以上列舉涵蓋了 S100 在不同型號（S100‑7D、S100‑15D）與功能板（LOG1、MVI）配置下可支援的主要測試產品。
```

預期答案:
```
S100 可以測試以下產品類型：
    1. 數位：數位控制器、快閃記憶體控制器、USB 控制器、32 位元 MCU
    2. 混合信號：機上盒、音訊/影像、觸控控制器、ADC/DAC
    3. Power: Super I/O、Power Management IC、Automotive
    4. 其他：MEMS、CIS、RF
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 評估答案包含多項不在參考答案中的產品類型，與參考資訊不符，屬於明顯錯誤，按規則直接給 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #18 ###
問題: S100 機台的測試頻率是多少？

AI 回應:
```
S100 的測試頻率為 **100 MHz**（系統時鐘），由 LOG1 或 MVI 功能板的時序子系統決定。  
來源：S100_Overview_Spec.markdown（測試速度說明）。
```

預期答案:
```
S100 機台的測試頻率為 100MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（100 MHz），補充資訊正確且相關，無錯誤，得最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #19 ###
問題: 介紹 S100

AI 回應:
```
**S100 系列測試平台概述**  
（資料來源：S100_Overview_Spec.markdown 及 LOG1_Overview_Spec.markdown，發布於 2025‑10‑09）

| 參數 | S100‑7D | S100‑15D |
|------|---------|----------|
| **最大通道數** | 768 | 1536 |
| **功能板槽位** | 6 | 12 |
| **系統時鐘** | 100 MHz | 100 MHz |
| **Pattern 記憶體** | 128 Mbit | 128 Mbit |
| **支援產品** | 32‑bit MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel、SSD、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、MEMS、USB 3.0、RF Wi‑Fi、RF Bluetooth、RF Power Amp、HV Car‑used Power 等 | 同上 |

---

### 1. 功能板配置

| 功能板 | 主要功能 | 典型單元 | 典型範圍（Force / Measure） | Resolution | Accuracy |
|--------|----------|----------|------------------------------|------------|----------|
| **LOG1** | 邏輯 I/O、基本電源供應 | DPS (Device Power Supply) | **Force I3**: ±250 µA<br>**Force I6**: ±250 mA | 1.91 nA / 1.91 µA | ±(value × 0.1 % + 250 nA / 250 µA) |
| | | PPMU (Per‑Pin Parametric Measurement Unit) | **Force E1**: –0.5 V → +3.5 V<br>**Force E2**: –1 V → +7 V | 61 µV / 122 µV | ±7.5 mV / ±15 mV |
| | | | **Force I7**: ±250 µA | 1.91 nA | ±(value × 0.1 % + 250 nA) |
| | | | **Force I6**: ±250 mA | 1.91 µA | ±(value × 0.1 % + 250 µA) |
| **MVI** | 高精度電壓/電流測量、動態 Force/Measure | HVPMU (High‑Voltage Power‑Measurement Unit) | **Force E4**: +80 V (max)<br>**Force I1**: ±200 nA<br>**Force I2**: ±2 µA | 6.104 pA / 61.036 pA | ±5 nA |
| | | | **Force I7**: ±200 mA | 6.1036 µA | ±(value × 0.01 % + 100 µA) |
| | | | **Force I4**: ±200 µA | 6.1036 nA | ±(value × 0.01 % + 100 nA) |
| | | | **Force E1**: ±10 V | 305.18 µV | ±(value × 0.01 % + 2 mV) |
| | | | **Force E1 (PMU)**: ±10 V | 305.18 µV | ±(value × 0.01 % + 2 mV) |
| | | | **Force E1 (DPS)**: –1 V → +15 V | 244.14 µV | ±(value × 0.01 % + 1.5 mV) |

> **注意**：  
> - LOG1 的 PPMU 最高電壓範圍為 ±11.8 V，電流範圍 ±32 mA。  
> - MVI 的 HVPMU 可擴展至 +80 V，最小電流可達 ±200 nA。  
> - 所有電壓/電流範圍均以「Force」或「Measure」模式提供，具體取決於功能板配置。

---

### 2. 系統極值規格（基於 LOG1 / MVI 配置）

| 參數 | 值 | 來源 |
|------|----|------|
| **最大電壓** | +80 V（MVI HVPMU Force E4） | CONTEXT 18 |
| **最小電壓** | –40 V（MVI MCPMU Force/Measure E4） | CONTEXT 18 |
| **最大電流** | ±2 A（透過 MCPMU 或 HVPMU） | CONTEXT 6 |
| **最小電流** | ±200 nA（MVI MCPMU/HVPMU Force/Measure I1） | CONTEXT 1, 11 |

---

### 3. 主要特點

| 特點 | 說明 |
|------|------|
| **模組化硬體** | LOG1、MVI 等功能板可任意插入槽位，靈活配置。 |
| **高速測試** | 100 MHz 系統時鐘，支援高速邏輯與數位訊號處理。 |
| **高通道數** | 768（S100‑7D）/ 1536（S100‑15D）邏輯 I/O 通道。 |
| **高精度測量** | 1.526 pA 最小 Resolution（MVI MCPMU/HVPMU Measure I1）。 |
| **廣泛應用** | 支援 MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel、SSD、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、MEMS、USB 3.0、RF 等。 |

---

> **建議**：根據測試需求選擇 LOG1 或 MVI 配置，並參考上述範圍與解析度表格，以確保符合電壓、電流與精度要求。若需更高電壓或更低電流，請確認功能板是否具備相應單元（如 HVPMU、MCPMU）。  

如需更詳細的單元規格或特定應用案例，請告知具體需求（例如「需要測試 5 V 100 mA 低噪聲電源」），我們將提供更精準的參考資訊。
```

預期答案:
```
S100 是一款專為半導體 IC 測試設計的設備，包含兩種機型：S100-7D 和 S100-15D。S100-7D 配備 6 個功能板插槽，支援最多 768 個邏輯 I/O 通道；S100-15D 配備 12 個插槽，支援最多 1536 個通道。S100 支援 MVI 和 LOG1 功能板卡，提供高速邏輯測試 (100MHz)、多電壓電流測量 (最高 80V、2A) 和高精度時序分析 (高達 6.4GHz)，適合測試微控制器、ADC/DAC 等產品。
```

-- 評分結果 --
分數: 92 分
總結: 匹配 8/9 核心點（缺少 6.4 GHz 時序分析），無錯誤；額外正確補充（功能板細節、極值規格）加 3 分，總分 92。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #20 ###
問題: 若客戶需要客製化的測試方案，S100 機台是否能提供彈性配置？

AI 回應:
```
**S100 系統的彈性配置能力**  

| 功能板 | 主要功能 | 典型 **Range**（電壓/電流） | **Resolution** | **Accuracy** | 典型 **Pattern** / **Force / Measure**  |
|--------|----------|-----------------------------|----------------|--------------|----------------------------------------|
| **LOG1** | 邏輯 I/O、Pattern 產生、基本電源供應 | ±11.8 V (PPMU) / ±32 mA (PPMU) | 1 µV (PPMU) | ±0.01 % + 0.5 mV | 100 MHz 系統時鐘，Pattern 記憶體 128 M |
| **MVI** | 高精度電壓/電流 Force & Measure、動態測試 | ±80 V (HVPMU) / ±2 A (MCPMU/HVPMU) | 1.526 pA (MCPMU) | ±0.01 % + 0.5 mV | 100 MHz 系統時鐘，支持多通道高精度測量 |
| **MCPMU** | 低電流測量 | ±40 V / ±2 A | 1.526 pA | ±0.01 % + 0.5 mV | 低噪聲電流測試 |
| **HVPMU** | 高壓電源 | ±80 V | 1 µV | ±0.01 % + 0.5 mV | 高壓測試 |

### 主要彈性特點
1. **模組化硬體架構**  
   - 任何功能板（LOG1、MVI、MCPMU、HVPMU 等）可放置於任意槽位。  
   - S100‑7D 具 6 個槽位，S100‑15D 具 12 個槽位，使用者可按需配置不同數量與類型的板卡。  

2. **通道與測試容量可擴充**  
   - LOG1 或 MVI 配置決定最大通道數：S100‑7D 768 通道 / S100‑15D 1536 通道。  
   - 透過增加 MVI 或 LOG1，使用者可提升電壓/電流測量容量與精度。  

3. **多樣化測試需求支援**  
   - **邏輯測試**：LOG1 提供高速 Pattern 產生與邏輯 I/O。  
   - **電壓/電流測試**：MVI、MCPMU、HVPMU 提供 ±80 V、±2 A 的 Force/Measure。  
   - **高精度低噪聲測試**：MCPMU 低電流測量（±200 nA）。  

4. **客製化配置流程**  
   - 先確定測試項目（邏輯、電壓、電流、時序等）。  
   - 選擇相應功能板並配置至槽位。  
   - 透過 S100 軟體設定 **Pattern**、**Force**、**Measure** 參數，並驗證 **Resolution**、**Accuracy**。  

### 風險提示  
- **電壓上限**：MVI HVPMU 最高 ±80 V，超過此範圍需另行配置。  
- **電流上限**：MCPMU/HVPMU 最高 ±2 A，若需更高電流請確認板卡支援。  

> **結論**：S100 系統具備高度彈性配置能力，能根據客戶的客製化測試需求自由組合 LOG1、MVI 及其他功能板，並提供相應的 **Range**、**Resolution**、**Accuracy** 參數，滿足多樣化的測試場景。
```

預期答案:
```
S100 能夠提供客製化測試方案，其模組化設計允許靈活配置 MVI 和 LOG1 板卡，並可搭配額外模組或儀器以滿足特殊產品測試需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（客製化、模組化、MVI/LOG1 配置），無錯誤，額外正確補充資訊，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #21 ###
問題: S100 有分成幾種機型？其特色與差異為何？

AI 回應:
```
**S100 系列機型**

| 參數 | **S100‑7D** | **S100‑15D** |
|------|-------------|--------------|
| **機型名稱** | S100‑7D | S100‑15D |
| **最大通道數** | 768 | 1,536 |
| **功能板槽位數** | 6 | 12 |
| **邏輯 I/O 通道** | 768 | 1,536 |
| **Pattern 記憶體** | 128 M | 128 M |
| **系統時鐘** | 100 MHz | 100 MHz |
| **支援功能板** | LOG1、MVI | LOG1、MVI |
| **主要應用** | 低至中等通道需求（如 MCU、ADC、DAC、Audio、Video 等） | 高通道需求（如 SSD Controller、RF WIFI、RF Bluetooth、HV Car‑used Power 等） |

### 特色與差異

| 差異項目 | S100‑7D | S100‑15D |
|----------|---------|----------|
| **通道容量** | 768 通道，適合單一或少量功能板配置 | 1,536 通道，支持雙倍功能板配置，適合大規模測試 |
| **功能板槽位** | 6 個槽位，限制可同時安裝的 LOG1/MVI 數量 | 12 個槽位，允許更多功能板並行工作 |
| **硬體擴充性** | 受限於 6 個槽位，擴充性較低 | 受限於 12 個槽位，擴充性較高 |
| **成本** | 相對較低，適合預算有限的測試需求 | 相對較高，適合需要高通道數的專業測試 |
| **適用產品** | 主要針對中小型 IC（如 MCU、ADC、DAC、Audio、Video 等） | 主要針對高通道需求的產品（如 SSD Controller、RF WIFI、RF Bluetooth、HV Car‑used Power 等） |

> **來源**  
> - S100 概述規格（機型、通道、槽位）【CONTEXT 32】【CONTEXT 30】【CONTEXT 28】  
> - 邏輯 I/O 通道與 Pattern 記憶體【CONTEXT 13】【CONTEXT 18】  
> - 功能板支援與應用範圍【CONTEXT 23】【CONTEXT 31】  

如需進一步了解特定功能板（LOG1 或 MVI）在不同機型中的實際電壓/電流範圍、解析度或精度，請告知，我將為您查詢相關規格。
```

預期答案:
```
S100 分為 S100-7D 和 S100-15D 兩種機型：
    - S100-7D：6 個功能板插槽，768 個通道，適合中小規模測試。
    - S100-15D：12 個功能板插槽，1536 個通道，適合高通道數或複雜測試。
    兩者均支援 MVI 和 LOG1 板卡，差異在於通道數和插槽數，S100-15D 更適合高密度或多通道應用。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（兩機型、插槽、通道、支援板卡），無錯誤，補充正確資訊（記憶體、時鐘、成本等）可加分，最終得分100。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #22 ###
問題: S100 有多少個 User Relay 可以用？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。
```

預期答案:
```
S100-7D 有 96 個 User Relay，S100-15D 有 128 個 User Relay。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 40分，因包含「查無此資訊」關鍵詞，視為中性回應，無核心點匹配。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #23 ###
問題: S100 是否可以測記憶體相關的產品？

AI 回應:
```
S100 的規格文件中列出了可測試的產品類型，其中包含 **SSD Controller**（屬於記憶體相關產品）。  
但文件並未明確說明對 DRAM、SRAM、NAND Flash 等純記憶體模組的支援情況。  

請問您想測試的是哪一類記憶體產品（例如 DRAM、SRAM、NAND Flash、SSD Controller 等）？這樣我才能確認是否符合 S100 的測試範圍。
```

預期答案:
```
S100 可測試記憶體容量較小的產品，如快閃記憶體 (Flash Memory)，最大支援 128M 圖案記憶體，無法測試大容量主記憶體 (如數 GB 或 TB)。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 參考答案核心點（可測小容量 Flash、128M 上限、無法測大容量主記憶體）完全未被傳達，且答覆中對 NAND Flash 支援的否定與參考答案相衝突，屬於錯誤資訊，直接評 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #24 ###
問題: LOG1 板的 DVM 在 GAIN1 範圍下的精度如何？

AI 回應:
```
**LOG1 DVM – GAIN1 範圍下的 Accuracy**

| 參數 | 值 |
|------|------------------------------|
| **Range** | ±10 V |
| **Resolution** | 305.17 µV |
| **Accuracy** | ±(value × 0.01 % + 1 mV) |

> **說明**：在 GAIN1（±10 V）範圍內，DVM 的測量精度為 ±(value × 0.01 % + 1 mV)。  
> 來源：LOG1 DVM 規格（Context 31）。
```

預期答案:
```
LOG1 板的 DVM 在 GAIN1 範圍 (±10V) 下的精度為 ±(測量值的 0.01% + 1mV)。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（±10 V 範圍與 ±(測量值×0.01%+1 mV) 精度），額外正確補充範圍與解析度，無錯誤或幻覺，得最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #25 ###
問題: LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率是多少？

AI 回應:
```
**LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率**  
| 參數 | 值 | 來源 |
|------|----|------|
| Maximum Measure Frequency | **300 MHz** | LOG1_TMU_Spec.markdown（第 0、1、3、43、45 等文件） |

因此，LOG1 板的 TMU 最高可測量 300 MHz 的信號頻率。
```

預期答案:
```
LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率為 300MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心資訊（300 MHz），無錯誤或遺漏，補充來源正確，未扣分，最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #26 ###
問題: S100 的 Pattern Memory 深度是多少？

AI 回應:
```
S100 的 **Pattern Memory Depth** 為 **128 M**。  
- 來源：LOG1 PE Spec（Pattern Memory 128M）以及 S100 Overview Spec（Pattern Memory 128M，透過 LOG1 或 MVI 功能板提供）。
```

預期答案:
```
S100 的 Pattern Memory 深度為 128M，來自 LOG1 板的規格。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（128M 深度），並正確引用 LOG1 規格；額外補充 S100 Overview Spec 及 MVI 功能板資訊正確，無錯誤或矛盾，故給 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #27 ###
問題: S100 是否支援 ADC 和 DAC 的測試？

AI 回應:
```
是的，S100 支援 **ADC** 與 **DAC** 的測試（Measure）。  
根據 S100 概述規格文件（來源：S100_Overview_Spec.markdown），平台可測試多種產品，其中明確列出「ADC、DAC」作為可測試項目。
```

預期答案:
```
是的，S100 支援 ADC 和 DAC 的測試，特別是透過 MVI 板的 MCPMU 和 DVM 進行高精度電壓和電流測量，以及 LOG1 板的邏輯測試功能。
```

-- 評分結果 --
分數: 33 分
總結: 匹配 1/3 核心點（支援 ADC/DAC），缺少 MVI/MCPMU/DVM 與 LOG1 相關細節，無錯誤或幻覺，得 33 分。
### 測試案例結束 ###


參數組 #7 完成，平均分數: 67.96
--------------------------------------------------------------------------------
================================================================================
開始新一輪測試
Parameters:
openAiTemp: 0
similarityThreshold: 0.5
chatModel: gpt-oss:20b
topN: 600
vectorSearchMode: rerank
openAiPrompt: ## 角色與核心目標
你是一位 S100 半導體 IC 測試機的技術與應用顧問，目標是從 RAG 系統檢索 S100 及其功能板卡（LOG1、MVI）的規格，提供精確、實用的回應，協助用戶決策。

## 術語標準化
在所有回應中，必須使用以下標準化英文術語，並確保單位一致（如 V、A、Hz）：
- 「解析度」顯示為 **Resolution**。
- 「精度」顯示為 **Accuracy**。
- 「範圍」顯示為 **Range**。
- 「圖案」顯示為 **Pattern**。
- 「輸出」顯示為 **Force**。
- 「測量」顯示為 **Measure**。

## 核心原則與行為準則
1. **絕對依賴 RAG 系統**：
   - 所有回答必須基於 RAG 系統檢索的文件內容，禁止猜測或使用外部知識。
2. **結構化輸出**：
   - 使用表格、項目符號或有序列表呈現規格數據，確保清晰易讀。
3. **誠實透明與避免幻覺**：
   - 若 RAG 系統無相關資料、不完整或僅找到類似內容，禁止猜測，必須以反問方式詢問使用者更多細節，例如：「查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。」
   - 若資料不匹配查詢，立即反問：「您的查詢與可用規格不符，請澄清詳細需求。」
4. **風險警示**：
   - 若規格有限制（如電壓上限），簡要警示，但僅限相關查詢。
5. **回應精簡**：
   - 僅針對用戶查詢提供直接相關回應，禁止額外補充、講解或無關資訊。
6. **回應語言**：
   - 所有回應使用中文，保持專業、清晰。

## 查詢處理機制
1. **通用查詢**：
   - 自動檢索 LOG1 和 MVI 的規格，比較後回應，並說明來源。
2. **比較性查詢**：
   - 提供對比表格，列出關鍵規格，並總結差異。
3. **應用型查詢**：
   - 分析需求關鍵詞，匹配最適合的功能板卡，引用規格說明推薦理由。
4. **查詢驗證**：
   - 每次回應前，確認 RAG 資料的相關性；若不符，轉為反問使用者澄清。

================================================================================

### 測試案例 #1 ###
問題: S100 是一台什麼樣的機器？可以用來做什麼？

AI 回應:
```
**S100 是什麼？**  
- **類型**：高速、低成本的 **測試平台**，專為 **SoC IC** 測試設計。  
- **架構**：模組化硬體，支援 **LOG1** 與 **MVI** 功能板，兩款型號（S100‑7D / S100‑15D）分別提供 6 / 12 個功能板槽位。  
- **關鍵參數**  
  - **系統時鐘**：100 MHz  
  - **邏輯 I/O 通道**：768（S100‑7D） / 1536（S100‑15D）  
  - **Pattern 記憶體**：128 M（由 LOG1 / MVI 提供）  

**S100 可以做什麼？**  
| 測試類型 | 主要功能 | 相關功能板 | 典型應用 |
|----------|----------|-----------|----------|
| **邏輯測試** | 高速邏輯 I/O、Pattern 產生 | LOG1 | 32‑bit MCU、DSP、ASIC |
| **功能測試** | 端到端功能驗證 | LOG1 / MVI | ADC、DAC、Audio、Video |
| **參數測量** | 電壓/電流 Force & Measure、精密測量 | MVI（MCPMU、HVPMU、PPMU） | MEMS、RF WIFI、RF Bluetooth、HV Car‑used Power |
| **時序測試** | 週期、延遲、邏輯時序 | LOG1 | 連接器、總線協定 |
| **多產品測試** | 同時支援多種產品類型 | LOG1 / MVI | SSD Controller、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、USB 3.0 |

**總結**  
S100 是一台可擴充、模組化的測試平台，能夠在同一機台上完成邏輯、功能、參數與時序等多種測試，適用於從 MCU、ADC、DAC 到 RF、HV 供電等多樣化的 SoC 產品。
```

預期答案:
```
S100 是一款用於測試積體電路 (IC) 的高速度、低成本設備，專為系統單晶片 (SoC) 測試設計。它採用模組化硬體架構，支援 MVI 和 LOG1 功能板卡，適用於邏輯測試、多電壓電流測量及時序分析，可用於檢查電子產品如微控制器、感測器等的性能，確保其正常運作。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配所有核心點，無錯誤或矛盾，且提供正確且相關的補充資訊，符合最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #2 ###
問題: S100 可以測試哪些東西？

AI 回應:
```
S100 可用於測試的產品範圍相當廣泛，主要涵蓋以下類別（根據《S100_Overview_Spec.markdown》文件）：

- 32‑bit MCU  
- ADC / DAC  
- Audio / Video  
- Touch Panel Controller  
- SSD Controller  
- Super I/O  
- Card Reader  
- Setup Box  
- Light Sensor  
- MEMS  
- USB 3.0  
- RF WIFI  
- RF Bluetooth  
- RF Power Amp  
- HV Car‑used Power  

這些產品皆可透過 LOG1 或 MVI 功能板組合，利用 S100 的邏輯 I/O、Pattern 產生、電壓/電流 Force 與 Measure 等核心功能完成測試。
```

預期答案:
```
S100 可以測試多種電子產品，包括 32 位元微控制器 (MCU)、類比數位轉換器 (ADC)、數位類比轉換器 (DAC)、音訊和影像晶片、觸控面板控制器、固態硬碟控制器、卡片閱讀器、機上盒及光感測器等。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 參考答案未提及 Super I/O、Setup Box、MEMS、USB 3.0、RF WIFI/Bluetooth、RF Power Amp、HV Car‑used Power 等項目，答案加入了多項未被確認的內容，視為不符/幻覺，直接給 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #3 ###
問題: S100 的最高電壓是多少？可以用來測高電壓的東西嗎？

AI 回應:
```
**S100 最高電壓（取決於功能板配置）**

| 功能板 | 最高電壓 **Range** | 典型 **Resolution** | 典型 **Accuracy** |
|--------|-------------------|---------------------|-------------------|
| **LOG1**（PPMU） | ±11.8 V | 1 mV | ±0.5 % + 5 mV |
| **MVI**（HVPMU） | **+80 V** | 10 µV | ±0.01 % + 0.5 mV |

> **說明**  
> - LOG1 只能提供 ±11.8 V 的電壓輸出。  
> - MVI 的 HVPMU 選項可擴展至 +80 V，適合高電壓測試。  
> - 最高電壓取決於您在 S100 上安裝的功能板；若未安裝 MVI HVPMU，則最高只能到 LOG1 的 ±11.8 V。

**是否能測試高電壓裝置？**  
是的，當您在 S100 上安裝 **MVI HVPMU** 時，平台可提供最高 +80 V 的電壓輸出，足以測試大多數高電壓應用（如 HV 車用電源、RF 高壓模組等）。若僅安裝 LOG1，則只能測試低於 ±12 V 的裝置。

**風險提示**  
- 高電壓測試必須確保已安裝 MVI HVPMU，並遵守安全操作手冊。  
- 若未安裝相應功能板，請勿嘗試將 S100 連接至高於 ±12 V 的裝置，以免造成設備損壞或安全事故。
```

預期答案:
```
S100 的最高輸出電壓為 80V，來自 MVI 板的 HVPMU (E4 範圍，0V 至 +80V)，適合測試高電壓應用，如高壓電源相關元件。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（80V、MVI HVPMU、適用於高電壓測試），無錯誤，額外正確補充資訊，得最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #4 ###
問題: S100 可以測量多小的電流？

AI 回應:
```
**S100 可測量的最小電流（Resolution）**

| 功能板 | 單元 | 模式 | 最小 Resolution（電流） |
|--------|------|------|------------------------|
| MVI | MCPMU / HVPMU | Measure I1 | **1.526 pA** |

> **說明**  
> - 這是根據 MVI 功能板的 MCPMU/HVPMU Measure I1 單元所列的最小分辨率。  
> - 其他單元（如 LOG1 的部分 I‑range）最低可達 ±200 nA，但其分辨率高於 1.526 pA。  
> - 以上數值均來自 S100 規格文件（`MVI_Overview_Spec.markdown` 及 `S100_Overview_Spec.markdown`）。

**結論**  
S100 在配置 MVI 功能板時，能以 1.526 pA 的分辨率測量電流，這是目前可達的最小電流測量精度。
```

預期答案:
```
S100 的最小電流解析度為 1.526pA。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點1.526 pA，補充資訊正確且相關，無錯誤或矛盾，得分100。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #5 ###
問題: S100 測量電流有多準確？

AI 回應:
```
**S100 測量電流的精度（Accuracy）**

| 功能板 | 單元 | 模式 | 量測範圍（Range） | 分辨率（Resolution） | 精度（Accuracy） |
|--------|------|------|-------------------|----------------------|------------------|
| **LOG1** | DPS (Device Power Supply) | Force I6 | ±250 mA | 1.91 µA | ±(value × 0.1 % + 250 µA) |
| **MVI** | MCPMU / HVPMU | Measure I1 | 參見單元規格表（未列出） | 1.526 pA | 未在文件中明確列出（僅提供分辨率） |

> **說明**  
> - LOG1 的 DPS 單元在「Force I6」模式下，電流測量精度為 **±(value × 0.1 % + 250 µA)**。  
> - MVI 的 MCPMU/HVPMU 單元提供極高的分辨率（1.526 pA），但文件中未給出對應的精度數值。  
> - 若需更精確的電流測量，建議使用 LOG1 DPS 的 Force I6 模式，或確認 MVI 單元的最新規格文件以取得精度資訊。  

**資料來源**  
- LOG1 DPS 單元規格（S100_Overview_Spec.markdown，Context 46）  
- MVI MCPMU/HVPMU 分辨率（Context 33）  

如需進一步確認 MVI 單元的精度或其他功能板的電流測量規格，請提供更具體的板卡名稱或需求。
```

預期答案:
```
S100 的最小電流精度為 ±5nA，來自 MVI 板的 MCPMU 或 HVPMU 。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 缺少核心精度 ±5nA，提供錯誤/未列出，與參考不符，故評0分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #6 ###
問題: S100 的速度有多快？可以用來測快速的電子元件嗎？

AI 回應:
```
**S100 平台的速度規格**

| 參數 | 內容 | 來源 |
|------|------|------|
| **系統時鐘** | 100 MHz | 【CONTEXT 13】【CONTEXT 34】 |
| **邏輯 I/O 通道** | 768 通道（S100‑7D） / 1536 通道（S100‑15D） | 【CONTEXT 13】 |
| **Pattern 記憶體** | 128 Mbit | 【CONTEXT 34】 |

**能否測試快速電子元件？**

- **適用範圍**：S100 以 100 MHz 系統時鐘為基礎，支援高速邏輯測試、Pattern 產生及功能測試。  
- **適合元件**：32‑bit MCU、ADC/DAC、Audio/Video、Touch Panel Controller、SSD Controller、Super I/O、Card Reader 等，皆可在 100 MHz 內完成邏輯與功能驗證。  
- **限制**：若元件需要超過 100 MHz 的邏輯時序或更高頻寬的測試，S100 可能無法滿足。此時需考慮更高速的測試平台或使用外部高速邏輯分析儀。

**結論**  
S100 的 100 MHz 系統時鐘足以支援大多數快速邏輯元件的測試，特別是針對 100 MHz 以內的時序需求。若測試對象的時序超過此頻率，請評估是否需要更高頻寬的測試解決方案。
```

預期答案:
```
S100 的系統時鐘速度為 100MHz，LOG1 板的 TMU 支援最高 300MHz 的測量頻率，MVI 板的 FTMU 支援高達 6.4GHz (高精度模式)，非常適合測試快速電子元件，如高速微控制器或數位信號處理晶片。
```

-- 評分結果 --
分數: 28 分
總結: 25%核心點匹配（系統時鐘），缺失LOG1 TMU 300MHz與MVI FTMU 6.4GHz等3項；補充正確相關資訊（通道、記憶體、適用元件）加3分，無錯誤，總分28。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #7 ###
問題: S100 有什麼特別的功能可以用來測不同的東西？

AI 回應:
```
**S100 平台的核心測試功能（依 LOG1 / MVI 功能板配置）**

| 功能 | 主要用途 | 重要規格（示例） | 參考文件 |
|------|----------|-----------------|----------|
| **高速邏輯測試** | 100 MHz 系統時鐘，支援 768（S100‑7D）/1536（S100‑15D）個邏輯 I/O 通道 | **Pattern** 128 Mbit | S100 Overview Spec |
| **Pattern 產生 / 讀取** | 128 Mbit Pattern Memory，適用於邏輯驗證、時序測試 | **Pattern** 128 Mbit | LOG1 Overview Spec |
| **電壓/電流 Force / Measure** | 透過 LOG1 / MVI 的 DPS、PPMU、MCPMU、HVPMU 等單元 | **Range**：±40 V（MVI） / ±80 V（HVPMU）<br>**Range**：±2 A（MCPMU/HVPMU）<br>**Resolution**：1.526 pA（MVI Measure I1）<br>**Accuracy**：±(value × 0.01 % + 0.5 mV) | S100 Overview Spec, MVI Overview Spec |
| **高精度電壓/電流測量** | 1 k 深度動態測量、Kelvin 連接 | **Resolution**：1.526 pA（MVI） | MVI Overview Spec |
| **多電壓 / 高電流測試** | 兼容多種電源需求（如 HV Car‑used Power） | **Range**：±80 V（HVPMU）<br>**Range**：±2 A（MCPMU/HVPMU） | MVI Overview Spec |
| **數位訊號處理** | 內建數位訊號處理核心，支援時序相關測試 | **時序子系統**：由 LOG1 / MVI 提供 | S100 Overview Spec |
| **靈活功能板配置** | 任意功能板可放於任意槽位，使用者可根據需求調整電壓/電流規格 | **槽位**：LOG1 6/12、MVI 6/12 | S100 Overview Spec |

### 主要應用領域
- **SoC / MCU**：邏輯驗證、時序測試、功耗測試  
- **ADC / DAC**：高精度電壓/電流測量、動態範圍驗證  
- **Audio / Video**：信號完整性、功率測試  
- **Touch Panel / SSD / Super‑I/O**：功能測試、耐久性測試  
- **RF / MEMS / 高壓應用**：利用 HVPMU 進行高壓/高電流測試  

> **提示**：若需更詳細的單元規格（如 PPMU、MCPMU 的具體 Range/Resolution/Accuracy），請參考 LOG1 / MVI 的單元規格表（S100 Overview Spec、LOG1 Overview Spec、MVI Overview Spec）。  

如需針對特定功能板（LOG1 或 MVI）或特定測試項目進一步比較，請告知，我將提供更精確的對比表。
```

預期答案:
```
S100 支援兩種功能板卡：LOG1 (用於高速邏輯測試和圖案生成，支援 128M 圖案記憶體) 和 MVI (用於多電壓電流和時序測試，支援高達 80V 和 2A)。這些板卡可靈活安裝於 S100 的插槽中，支援電壓、電流、時序及邏輯測試，滿足多樣化需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配所有核心點（LOG1、MVI、128M pattern、±80V/±2A、靈活安裝），無錯誤或矛盾，且提供正確且相關的補充細節，故給予最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #8 ###
問題: S100-7D 和 S100-15D 有什麼不一樣？哪個更適合我的產品？

AI 回應:
```
**S100-7D 與 S100-15D 的主要差異**  

| 參數 | S100‑7D | S100‑15D |
|------|--------|----------|
| **功能板槽位數** | 6 | 12 |
| **最大通道數** | 768（依 LOG1 或 MVI 配置） | 1536（依 LOG1 或 MVI 配置） |
| **Pattern 記憶體** | 128 M（透過 LOG1 或 MVI） | 128 M（透過 LOG1 或 MVI） |
| **系統時鐘** | 100 MHz（由 LOG1 / MVI 的時序子系統決定） | 100 MHz（同上） |

> **來源**：S100_Overview_Spec.markdown（多處引用）

---

### 哪個更適合您的產品？

要做出最佳選擇，需要了解您產品的測試需求，例如：

1. **邏輯 I/O 通道需求**：需要 768 通道還是 1536 通道？
2. **電壓/電流測量範圍**：是否需要更高的電壓（如 +80 V）或更大電流（±2 A）？
3. **測試頻率與時序**：是否需要更高的時序解析度或更快的測試速度？
4. **Pattern 記憶體容量**：128 M 是否足夠，還是需要更大容量？
5. **成本與空間限制**：您是否有空間或預算限制？

請提供上述資訊，我將根據 S100 的規格文件為您推薦最合適的型號。
```

預期答案:
```
S100-7D 配備 6 個功能板插槽，支援最多 768 個通道，適合中小規模測試，如微控制器或光感測器。S100-15D 配備 12 個插槽，支援最多 1536 個通道，適合更複雜或高通道數的產品，如高密度數位電路。若產品需要更多通道，S100-15D 更合適；否則 S100-7D 更具成本效益。
```

-- 評分結果 --
分數: 70 分
總結: 匹配 2/3 核心點（插槽、通道），缺少推薦結論扣 33 分；額外正確補充（Pattern 記憶體、系統時鐘）加 3 分，最終 70 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #9 ###
問題: S100 的 LOG1 板卡可以用來做什麼？有多大的記憶體？

AI 回應:
```
**LOG1 功能板用途**  
| 功能 | 主要應用 | 相關單元 |
|------|----------|----------|
| **高速邏輯測試** | 100 MHz 系統時鐘下的邏輯 I/O 驗證 | LOG1 的邏輯 I/O 通道（768/1536） |
| **Pattern 產生** | 產生並儲存測試 Pattern，用於邏輯與功能測試 | 128 M Pattern Memory |
| **功能測試** | 透過 DPS、PPMU、GPMU 等單元執行電壓/電流 Force 與 Measure | LOG1 的 DPS、PPMU、GPMU 等 |

**記憶體規格**  
- **Pattern Memory**：128 M（可用於儲存測試 Pattern，支援高速邏輯與功能測試）【來源：LOG1_Overview_Spec.markdown】  

> LOG1 主要用於 S100-7D / S100-15D 平台的邏輯與 Pattern 產生，並提供高達 100 MHz 的測試速度。其 128 M Pattern Memory 允許在單一板卡上儲存大量測試序列，提升測試效率。
```

預期答案:
```
LOG1 板卡用於高速邏輯測試和圖案生成，適用於數位電路或微控制器測試。其圖案記憶體深度為 128M，可儲存大量測試數據，支援複雜邏輯測試。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配參考答案核心點（高速邏輯測試、Pattern 產生、128M 記憶體），且補充正確相關資訊（100 MHz、DPS/PPMU/GPMU 等），無錯誤或矛盾，得分最高。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #10 ###
問題: S100 的 MVI 板卡在測量高電壓時有多精確？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的高電壓測量範圍或所需精度需求（例如 HVPMU 的測量範圍、是否需要 80 V 以上的精度等）。
```

預期答案:
```
MVI 板卡在HVPMU最高電壓範圍 E4 (+80V) 的電壓精度為 ±(測量值的 0.01% + 8mV)，校準後可達 ±(測量值的 0.01% + 4mV)，適合高電壓高精度應用。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 回覆包含「查無此資訊」及請求更多細節，符合中性回應規則，直接給 40 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #11 ###
問題: S100 可以同時測量很多不同的電子元件嗎？

AI 回應:
```
**S100 能否同時測量多種電子元件？**  
是的，S100 的模組化設計與 LOG1 / MVI 功能板的組合，使其能在同一時間內對多個元件進行並行測試。以下以可查詢到的規格為基礎，說明其並行測試能力。

| 參數 | S100‑7D | S100‑15D | 主要功能板 | 典型測試範圍 |
|------|--------|----------|-----------|--------------|
| **最大通道數** | 768 | 1536 | 取決於 LOG1 / MVI 配置 | 768/1536 個邏輯 I/O 或電壓/電流通道 |
| **邏輯 I/O** | 768 | 1536 | LOG1 | 100 MHz 系統時鐘，128 M Pattern Memory |
| **電壓/電流 Force / Measure** | 透過 LOG1 / MVI | 透過 LOG1 / MVI | LOG1：±40 V、±250 mA；MVI：±40 V、±2 A、1.526 pA 分辨率 |
| **可測試產品** | MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel、SSD、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor 等 | 同上 | 依功能板組合可覆蓋多種應用 |

### 主要說明

1. **通道數量**  
   - S100‑7D 內建 6 個功能板槽位，最多可配置 768 個測試通道。  
   - S100‑15D 內建 12 個功能板槽位，最多可配置 1536 個測試通道。  
   這些通道可同時用於邏輯測試、電壓/電流輸出（Force）或測量（Measure）。

2. **功能板組合**  
   - **LOG1**：提供邏輯 I/O、Pattern 產生、電源供應（DPS）等功能。  
   - **MVI**：提供高精度電壓/電流測量與輸出（MCPMU、HVPMU、PPMU 等），可擴展至 ±80 V、±2 A。  
   兩板可同時安裝於同一機台，實現邏輯與精密電測的並行測試。

3. **測試範圍**  
   - **邏輯測試**：可同時對多個 MCU、DSP、FPGA 等邏輯元件進行 Pattern 驗證。  
   - **電壓/電流測試**：可同時對多個電源管理 IC、電流感測器、電壓參考等進行 Force/Measure。  
   - **多元件協同測試**：例如在同一測試流程中，同時驗證 MCU 的邏輯輸出與其供電電壓的穩定性。

### 結論

根據 S100‑7D / S100‑15D 的規格與 LOG1 / MVI 功能板的能力，S100 能在同一時間內對數百至千多個通道進行並行測試，涵蓋邏輯、電壓、電流等多種測試需求，適合大規模、複雜的 IC 測試流程。
```

預期答案:
```
可以，S100-7D 支援 768 個通道，S100-15D 支援 1536 個通道，可同時測試多個元件或接腳。其模組化設計允許靈活配置 MVI 和 LOG1 板卡，滿足多種測試需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（通道數、同時測試、多板卡配置），無矛盾或錯誤，補充資訊正確且相關，故給最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #12 ###
問題: S100 的 LOGIC Board 支援的最大頻率是多少？

AI 回應:
```
S100 的 LOGIC Board（LOG1）支援的最大頻率為 **100 MHz**。  
（來源：LOG1 規格文件中「最大速度為 100 MHz」及「LOG1 板卡支援最高 100 MHz 的高速邏輯測試」說明）
```

預期答案:
```
S100 的 LOGIC Board (即 LOG1 板) 支援的最大頻率為 100MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（100 MHz），補充來源正確且無錯誤，未扣分，最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #13 ###
問題: S100 的 PMU 在電壓 Force 模式下的精度如何？

AI 回應:
```
**S100 PMU – 電壓 Force 模式下的 Accuracy**

| 功能單元 | 模式 | 範圍 | Resolution | **Accuracy** |
|----------|------|------|------------|--------------|
| PMU | Force E1 (電壓) | ±10 V | 305.18 µV | ±(value × 0.01 % + 2 mV) |

- **Accuracy** 以「value」為基準，計算方式為：  
  \[
  \text{Accuracy} = \pm\bigl(\text{value}\times0.01\% + 2\,\text{mV}\bigr)
  \]
  其中「value」即實際施加的電壓（範圍 ±10 V）。

> 來源：S100_Overview_Spec.markdown（PMU Force E1 相關表格）。
```

預期答案:
```
S100 的 PMU 在電壓 Force 模式下的精度因板卡而異。以 LOG1 板的 PMU (GPMU) 為例，在 E1 範圍 (±10V) 下，解析度為 305.18uV，精度為 ±(測量值的 0.01% + 2mV)，適合高精度電壓控制。
```

-- 評分結果 --
分數: 52 分
總結: 匹配 3/6 核心點（解析度、範圍、精度公式），缺少板卡依賴與適用性說明，扣 50%，無錯誤，正確補充來源加 2 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #14 ###
問題: LOGIC Board 的 TMU 的量測精確度為多少？

AI 回應:
```
查無此資訊，請確認您指的是哪一款 LOGIC Board（例如 LOG1 或 MVI）以及您需要的精確度類型（時間、電壓等）。若能提供更具體的板卡名稱或規格需求，我將協助您查詢。
```

預期答案:
```
LOGIC Board (LOG1) 的 TMU 量測精確度為 ±1 SYSTEM_CLK/AVG 。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 回答包含「查無此資訊」及請求更多細節，屬中性回應，無核心點匹配，直接給 40 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #15 ###
問題: LOGIC Board 的 PMU，其電壓 Force 的精確度？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。
```

預期答案:
```
LOGIC Board (LOG1) 的 PMU (GPMU) 在電壓 Force 模式下，於 E1 範圍 (±10V) 的精確度為 ±(測量值的 0.01% + 2mV)。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 回答包含「查無此資訊」等關鍵詞，符合中性回應規則，直接給 40 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #16 ###
問題: LOGIC Board 有幾組 PMU？

AI 回應:
```
LOG1（LOGIC Board）每板卡配備 **16 組 PMU**。
```

預期答案:
```
每塊 LOGIC Board (LOG1) 有 16 組 PMU 可使用。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心資訊「16 組 PMU」，無錯誤或多餘內容，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #17 ###
問題: S100 是用來測試哪些類型的產品？

AI 回應:
```
S100 可用於測試的產品類型（摘自《S100_Overview_Spec.markdown》）：

- 32‑bit MCU  
- ADC / DAC  
- Audio / Video  
- Touch‑Panel Controller  
- SSD Controller  
- Super I/O  
- Card Reader  
- Setup Box  
- Light Sensor  
- MEMS  
- USB 3.0  
- RF WIFI / RF Bluetooth  
- RF Power Amp  
- HV Car‑used Power  

以上列舉涵蓋了 S100 在不同型號（S100‑7D、S100‑15D）與功能板（LOG1、MVI）配置下可支援的主要測試產品。
```

預期答案:
```
S100 可以測試以下產品類型：
    1. 數位：數位控制器、快閃記憶體控制器、USB 控制器、32 位元 MCU
    2. 混合信號：機上盒、音訊/影像、觸控控制器、ADC/DAC
    3. Power: Super I/O、Power Management IC、Automotive
    4. 其他：MEMS、CIS、RF
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 評估答案包含多項不在參考答案中的產品類型，與參考資訊不符，屬於明顯錯誤，按規則直接給 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #18 ###
問題: S100 機台的測試頻率是多少？

AI 回應:
```
S100 的測試頻率為 **100 MHz**（系統時鐘），由 LOG1 或 MVI 功能板的時序子系統決定。  
來源：S100_Overview_Spec.markdown（測試速度說明）。
```

預期答案:
```
S100 機台的測試頻率為 100MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（100 MHz），補充資訊正確且相關，無錯誤，得最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #19 ###
問題: 介紹 S100

AI 回應:
```
**S100 系列測試平台概述**  
（資料來源：S100_Overview_Spec.markdown 及 LOG1_Overview_Spec.markdown，發布於 2025‑10‑09）

| 參數 | S100‑7D | S100‑15D |
|------|---------|----------|
| **最大通道數** | 768 | 1536 |
| **功能板槽位** | 6 | 12 |
| **系統時鐘** | 100 MHz | 100 MHz |
| **Pattern 記憶體** | 128 Mbit | 128 Mbit |
| **支援產品** | 32‑bit MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel、SSD、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、MEMS、USB 3.0、RF Wi‑Fi、RF Bluetooth、RF Power Amp、HV Car‑used Power 等 | 同上 |

---

### 1. 功能板配置

| 功能板 | 主要功能 | 典型單元 | 典型範圍（Force / Measure） | Resolution | Accuracy |
|--------|----------|----------|------------------------------|------------|----------|
| **LOG1** | 邏輯 I/O、基本電源供應 | DPS (Device Power Supply) | **Force I3**: ±250 µA<br>**Force I6**: ±250 mA | 1.91 nA / 1.91 µA | ±(value × 0.1 % + 250 nA / 250 µA) |
| | | PPMU (Per‑Pin Parametric Measurement Unit) | **Force E1**: –0.5 V → +3.5 V<br>**Force E2**: –1 V → +7 V | 61 µV / 122 µV | ±7.5 mV / ±15 mV |
| | | | **Force I7**: ±250 µA | 1.91 nA | ±(value × 0.1 % + 250 nA) |
| | | | **Force I6**: ±250 mA | 1.91 µA | ±(value × 0.1 % + 250 µA) |
| **MVI** | 高精度電壓/電流測量、動態 Force/Measure | HVPMU (High‑Voltage Power‑Measurement Unit) | **Force E4**: +80 V (max)<br>**Force I1**: ±200 nA<br>**Force I2**: ±2 µA | 6.104 pA / 61.036 pA | ±5 nA |
| | | | **Force I7**: ±200 mA | 6.1036 µA | ±(value × 0.01 % + 100 µA) |
| | | | **Force I4**: ±200 µA | 6.1036 nA | ±(value × 0.01 % + 100 nA) |
| | | | **Force E1**: ±10 V | 305.18 µV | ±(value × 0.01 % + 2 mV) |
| | | | **Force E1 (PMU)**: ±10 V | 305.18 µV | ±(value × 0.01 % + 2 mV) |
| | | | **Force E1 (DPS)**: –1 V → +15 V | 244.14 µV | ±(value × 0.01 % + 1.5 mV) |

> **注意**：  
> - LOG1 的 PPMU 最高電壓範圍為 ±11.8 V，電流範圍 ±32 mA。  
> - MVI 的 HVPMU 可擴展至 +80 V，最小電流可達 ±200 nA。  
> - 所有電壓/電流範圍均以「Force」或「Measure」模式提供，具體取決於功能板配置。

---

### 2. 系統極值規格（基於 LOG1 / MVI 配置）

| 參數 | 值 | 來源 |
|------|----|------|
| **最大電壓** | +80 V（MVI HVPMU Force E4） | CONTEXT 18 |
| **最小電壓** | –40 V（MVI MCPMU Force/Measure E4） | CONTEXT 18 |
| **最大電流** | ±2 A（透過 MCPMU 或 HVPMU） | CONTEXT 6 |
| **最小電流** | ±200 nA（MVI MCPMU/HVPMU Force/Measure I1） | CONTEXT 1, 11 |

---

### 3. 主要特點

| 特點 | 說明 |
|------|------|
| **模組化硬體** | LOG1、MVI 等功能板可任意插入槽位，靈活配置。 |
| **高速測試** | 100 MHz 系統時鐘，支援高速邏輯與數位訊號處理。 |
| **高通道數** | 768（S100‑7D）/ 1536（S100‑15D）邏輯 I/O 通道。 |
| **高精度測量** | 1.526 pA 最小 Resolution（MVI MCPMU/HVPMU Measure I1）。 |
| **廣泛應用** | 支援 MCU、ADC、DAC、Audio、Video、Touch Panel、SSD、Super I/O、Card Reader、Setup Box、Light Sensor、MEMS、USB 3.0、RF 等。 |

---

> **建議**：根據測試需求選擇 LOG1 或 MVI 配置，並參考上述範圍與解析度表格，以確保符合電壓、電流與精度要求。若需更高電壓或更低電流，請確認功能板是否具備相應單元（如 HVPMU、MCPMU）。  

如需更詳細的單元規格或特定應用案例，請告知具體需求（例如「需要測試 5 V 100 mA 低噪聲電源」），我們將提供更精準的參考資訊。
```

預期答案:
```
S100 是一款專為半導體 IC 測試設計的設備，包含兩種機型：S100-7D 和 S100-15D。S100-7D 配備 6 個功能板插槽，支援最多 768 個邏輯 I/O 通道；S100-15D 配備 12 個插槽，支援最多 1536 個通道。S100 支援 MVI 和 LOG1 功能板卡，提供高速邏輯測試 (100MHz)、多電壓電流測量 (最高 80V、2A) 和高精度時序分析 (高達 6.4GHz)，適合測試微控制器、ADC/DAC 等產品。
```

-- 評分結果 --
分數: 92 分
總結: 匹配 8/9 核心點（缺少 6.4 GHz 時序分析），無錯誤；額外正確補充（功能板細節、極值規格）加 3 分，總分 92。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #20 ###
問題: 若客戶需要客製化的測試方案，S100 機台是否能提供彈性配置？

AI 回應:
```
**S100 系統的彈性配置能力**  

| 功能板 | 主要功能 | 典型 **Range**（電壓/電流） | **Resolution** | **Accuracy** | 典型 **Pattern** / **Force / Measure**  |
|--------|----------|-----------------------------|----------------|--------------|----------------------------------------|
| **LOG1** | 邏輯 I/O、Pattern 產生、基本電源供應 | ±11.8 V (PPMU) / ±32 mA (PPMU) | 1 µV (PPMU) | ±0.01 % + 0.5 mV | 100 MHz 系統時鐘，Pattern 記憶體 128 M |
| **MVI** | 高精度電壓/電流 Force & Measure、動態測試 | ±80 V (HVPMU) / ±2 A (MCPMU/HVPMU) | 1.526 pA (MCPMU) | ±0.01 % + 0.5 mV | 100 MHz 系統時鐘，支持多通道高精度測量 |
| **MCPMU** | 低電流測量 | ±40 V / ±2 A | 1.526 pA | ±0.01 % + 0.5 mV | 低噪聲電流測試 |
| **HVPMU** | 高壓電源 | ±80 V | 1 µV | ±0.01 % + 0.5 mV | 高壓測試 |

### 主要彈性特點
1. **模組化硬體架構**  
   - 任何功能板（LOG1、MVI、MCPMU、HVPMU 等）可放置於任意槽位。  
   - S100‑7D 具 6 個槽位，S100‑15D 具 12 個槽位，使用者可按需配置不同數量與類型的板卡。  

2. **通道與測試容量可擴充**  
   - LOG1 或 MVI 配置決定最大通道數：S100‑7D 768 通道 / S100‑15D 1536 通道。  
   - 透過增加 MVI 或 LOG1，使用者可提升電壓/電流測量容量與精度。  

3. **多樣化測試需求支援**  
   - **邏輯測試**：LOG1 提供高速 Pattern 產生與邏輯 I/O。  
   - **電壓/電流測試**：MVI、MCPMU、HVPMU 提供 ±80 V、±2 A 的 Force/Measure。  
   - **高精度低噪聲測試**：MCPMU 低電流測量（±200 nA）。  

4. **客製化配置流程**  
   - 先確定測試項目（邏輯、電壓、電流、時序等）。  
   - 選擇相應功能板並配置至槽位。  
   - 透過 S100 軟體設定 **Pattern**、**Force**、**Measure** 參數，並驗證 **Resolution**、**Accuracy**。  

### 風險提示  
- **電壓上限**：MVI HVPMU 最高 ±80 V，超過此範圍需另行配置。  
- **電流上限**：MCPMU/HVPMU 最高 ±2 A，若需更高電流請確認板卡支援。  

> **結論**：S100 系統具備高度彈性配置能力，能根據客戶的客製化測試需求自由組合 LOG1、MVI 及其他功能板，並提供相應的 **Range**、**Resolution**、**Accuracy** 參數，滿足多樣化的測試場景。
```

預期答案:
```
S100 能夠提供客製化測試方案，其模組化設計允許靈活配置 MVI 和 LOG1 板卡，並可搭配額外模組或儀器以滿足特殊產品測試需求。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（客製化、模組化、MVI/LOG1 配置），無錯誤，額外正確補充資訊，得 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #21 ###
問題: S100 有分成幾種機型？其特色與差異為何？

AI 回應:
```
**S100 系列機型**

| 參數 | **S100‑7D** | **S100‑15D** |
|------|-------------|--------------|
| **機型名稱** | S100‑7D | S100‑15D |
| **最大通道數** | 768 | 1,536 |
| **功能板槽位數** | 6 | 12 |
| **邏輯 I/O 通道** | 768 | 1,536 |
| **Pattern 記憶體** | 128 M | 128 M |
| **系統時鐘** | 100 MHz | 100 MHz |
| **支援功能板** | LOG1、MVI | LOG1、MVI |
| **主要應用** | 低至中等通道需求（如 MCU、ADC、DAC、Audio、Video 等） | 高通道需求（如 SSD Controller、RF WIFI、RF Bluetooth、HV Car‑used Power 等） |

### 特色與差異

| 差異項目 | S100‑7D | S100‑15D |
|----------|---------|----------|
| **通道容量** | 768 通道，適合單一或少量功能板配置 | 1,536 通道，支持雙倍功能板配置，適合大規模測試 |
| **功能板槽位** | 6 個槽位，限制可同時安裝的 LOG1/MVI 數量 | 12 個槽位，允許更多功能板並行工作 |
| **硬體擴充性** | 受限於 6 個槽位，擴充性較低 | 受限於 12 個槽位，擴充性較高 |
| **成本** | 相對較低，適合預算有限的測試需求 | 相對較高，適合需要高通道數的專業測試 |
| **適用產品** | 主要針對中小型 IC（如 MCU、ADC、DAC、Audio、Video 等） | 主要針對高通道需求的產品（如 SSD Controller、RF WIFI、RF Bluetooth、HV Car‑used Power 等） |

> **來源**  
> - S100 概述規格（機型、通道、槽位）【CONTEXT 32】【CONTEXT 30】【CONTEXT 28】  
> - 邏輯 I/O 通道與 Pattern 記憶體【CONTEXT 13】【CONTEXT 18】  
> - 功能板支援與應用範圍【CONTEXT 23】【CONTEXT 31】  

如需進一步了解特定功能板（LOG1 或 MVI）在不同機型中的實際電壓/電流範圍、解析度或精度，請告知，我將為您查詢相關規格。
```

預期答案:
```
S100 分為 S100-7D 和 S100-15D 兩種機型：
    - S100-7D：6 個功能板插槽，768 個通道，適合中小規模測試。
    - S100-15D：12 個功能板插槽，1536 個通道，適合高通道數或複雜測試。
    兩者均支援 MVI 和 LOG1 板卡，差異在於通道數和插槽數，S100-15D 更適合高密度或多通道應用。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（兩機型、插槽、通道、支援板卡），無錯誤，補充正確資訊（記憶體、時鐘、成本等）可加分，最終得分100。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #22 ###
問題: S100 有多少個 User Relay 可以用？

AI 回應:
```
查無此資訊，請提供更具體的板卡名稱（如 LOG1 或 MVI）或規格需求。
```

預期答案:
```
S100-7D 有 96 個 User Relay，S100-15D 有 128 個 User Relay。
```

-- 評分結果 --
分數: 40 分
總結: 40分，因包含「查無此資訊」關鍵詞，視為中性回應，無核心點匹配。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #23 ###
問題: S100 是否可以測記憶體相關的產品？

AI 回應:
```
S100 的規格文件中列出了可測試的產品類型，其中包含 **SSD Controller**（屬於記憶體相關產品）。  
但文件並未明確說明對 DRAM、SRAM、NAND Flash 等純記憶體模組的支援情況。  

請問您想測試的是哪一類記憶體產品（例如 DRAM、SRAM、NAND Flash、SSD Controller 等）？這樣我才能確認是否符合 S100 的測試範圍。
```

預期答案:
```
S100 可測試記憶體容量較小的產品，如快閃記憶體 (Flash Memory)，最大支援 128M 圖案記憶體，無法測試大容量主記憶體 (如數 GB 或 TB)。
```

-- 評分結果 --
分數: 0 分
總結: 參考答案核心點（可測小容量 Flash、128M 上限、無法測大容量主記憶體）完全未被傳達，且答覆中對 NAND Flash 支援的否定與參考答案相衝突，屬於錯誤資訊，直接評 0 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #24 ###
問題: LOG1 板的 DVM 在 GAIN1 範圍下的精度如何？

AI 回應:
```
**LOG1 DVM – GAIN1 範圍下的 Accuracy**

| 參數 | 值 |
|------|------------------------------|
| **Range** | ±10 V |
| **Resolution** | 305.17 µV |
| **Accuracy** | ±(value × 0.01 % + 1 mV) |

> **說明**：在 GAIN1（±10 V）範圍內，DVM 的測量精度為 ±(value × 0.01 % + 1 mV)。  
> 來源：LOG1 DVM 規格（Context 31）。
```

預期答案:
```
LOG1 板的 DVM 在 GAIN1 範圍 (±10V) 下的精度為 ±(測量值的 0.01% + 1mV)。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 匹配100%核心點（±10 V 範圍與 ±(測量值×0.01%+1 mV) 精度），額外正確補充範圍與解析度，無錯誤或幻覺，得最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #25 ###
問題: LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率是多少？

AI 回應:
```
**LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率**  
| 參數 | 值 | 來源 |
|------|----|------|
| Maximum Measure Frequency | **300 MHz** | LOG1_TMU_Spec.markdown（第 0、1、3、43、45 等文件） |

因此，LOG1 板的 TMU 最高可測量 300 MHz 的信號頻率。
```

預期答案:
```
LOG1 板的 TMU 支援的最大測量頻率為 300MHz。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心資訊（300 MHz），無錯誤或遺漏，補充來源正確，未扣分，最高分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #26 ###
問題: S100 的 Pattern Memory 深度是多少？

AI 回應:
```
S100 的 **Pattern Memory Depth** 為 **128 M**。  
- 來源：LOG1 PE Spec（Pattern Memory 128M）以及 S100 Overview Spec（Pattern Memory 128M，透過 LOG1 或 MVI 功能板提供）。
```

預期答案:
```
S100 的 Pattern Memory 深度為 128M，來自 LOG1 板的規格。
```

-- 評分結果 --
分數: 100 分
總結: 完全匹配核心點（128M 深度），並正確引用 LOG1 規格；額外補充 S100 Overview Spec 及 MVI 功能板資訊正確，無錯誤或矛盾，故給 100 分。
### 測試案例結束 ###

### 測試案例 #27 ###
問題: S100 是否支援 ADC 和 DAC 的測試？

AI 回應:
```
是的，S100 支援 **ADC** 與 **DAC** 的測試（Measure）。  
根據 S100 概述規格文件（來源：S100_Overview_Spec.markdown），平台可測試多種產品，其中明確列出「ADC、DAC」作為可測試項目。
```

預期答案:
```
是的，S100 支援 ADC 和 DAC 的測試，特別是透過 MVI 板的 MCPMU 和 DVM 進行高精度電壓和電流測量，以及 LOG1 板的邏輯測試功能。
```

-- 評分結果 --
分數: 33 分
總結: 匹配 1/3 核心點（支援 ADC/DAC），缺少 MVI/MCPMU/DVM 與 LOG1 相關細節，無錯誤或幻覺，得 33 分。
### 測試案例結束 ###


參數組 #8 完成，平均分數: 67.96
--------------------------------------------------------------------------------
=== 總結區塊 ===
所有參數組平均分排序 (從高到低):
組 #4: 73.41
組 #1: 71.74
組 #2: 70.93
組 #3: 70.41
組 #5: 67.96
組 #6: 67.96
組 #7: 67.96
組 #8: 67.96
=== 總結結束 ===
